回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种回归测试方法，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。本发明专利技术还公开了一种回归测试设备、回归测试装置和计算机可读存储介质。本发明专利技术在保障了测试可靠性的同时，提高了测试效率，降低了测试成本。

Regression testing method, device, device and computer readable storage medium

The present invention discloses a regression test method which comprises the following steps: acquiring a regression test path according to the repaired vulnerability and the preset test strength level, wherein the regression test path includes the central path of the repaired vulnerability and the peripheral path of the repaired vulnerability. The peripheral path is determined according to the preset test strength level, the central path and the peripheral path are combined to generate test cases, and the regression test is conducted according to the regression test path according to the test cases. The invention also discloses a regression testing device, a regression testing device and a computer readable storage medium. The invention improves the testing efficiency and reduces the testing cost while guaranteeing the reliability of the test.

【技术实现步骤摘要】
回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质
本专利技术涉及测试
，尤其涉及一种回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
在对程序或系统进行调试的过程中，修复漏洞后，需要进行回归测试，回归测试是指修改了旧代码后，重新进行测试以确认修改没有引入新的错误或导致其他代码产生错误，从而保障程序或系统的可靠性。通常，回归测试只针对漏洞本身。然而，对漏洞的修复还可能引入新的衍生漏洞，如果只对漏洞本身进行回归测试，很容易出现衍生漏洞导致程序或系统无法正常运行的情况。为了解决上述衍生漏洞带来的问题，在另一种回归测试方法中，修复漏洞后进行全功能测试，以提高程序或系统的可靠性。但是，这种全功能测试需要投入大量的资源，导致测试效率大幅降低，测试成本大幅升高。上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种回归测试方法，旨在解决上述回归测试的可靠性差、效率低下的技术问题，以满足客户的需求。为实现上述目的，本专利技术提供一种回归测试方法，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。优选地，根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径的步骤包括：计算所述周围路径与所述中心路径之间的相依度；按照所述相依度由高至低的顺序，将所述周围路径纳入所述回归测试路径中，直至所述回归测试路径的测试强度等级等于所述预设测试强度等级。优选地，所述周围路径包括第一周围路径和第二周围路径，所述第一周围路径与所述中心路径之间的相依度大于所述第二周围路径与所述中心路径之间的相依度；所述根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例的步骤包括：根据所述中心路径和所述第一周围路径，获取第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值；根据所述第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值，建立第一测试用例；根据所述中心路径和所述第二周围路径，获取第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值；根据所述第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值，建立第二测试用例；其中，所述第一测试参数对中心路径和第一周围路径的覆盖度大于所述第二测试参数对中心路径和第二周围路径的覆盖度。优选地，根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例的步骤包括：根据所述中心路径和所述周围路径，获取测试参数和所述测试参数对应的参数取值；根据所述测试参数和所述测试参数对应的参数取值，按照两两组合方式或正交组合方式，建立所述测试用例。优选地，根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试的步骤包括：根据所述测试用例，测试所述中心路径；当所述中心路径未通过测试时，输出第一报错信号；当所述中心路径通过测试时，按照所述周围路径与所述中心路径之间的相依度由高至低的顺序，依次测试所述周围路径；当所述周围路径未通过测试时，输出第二报错信号。优选地，在根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试的步骤之后，所述回归测试方法还包括以下步骤：当所述回归测试路径存在漏洞时，接收修复指令；根据所述修复指令修复所述漏洞；当所述修复指令有效时，对应存储所述漏洞和所述修复指令。优选地，在根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试的步骤之后，所述回归测试方法还包括以下步骤：当所述回归测试路径存在漏洞时，读取预存的与所述漏洞对应的修复指令；根据所述修复指令修复所述漏洞。本专利技术还提出一种回归测试设备，所述回归测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现回归测试方法的步骤，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度强度，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。本专利技术还提出一种回归测试装置，所述回归测试装置包括路径获取模块、用例建立模块和回归测试模块，所述路径获取模块用以根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；所述用例生成模块用以根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；所述回归测试模块用以根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。本专利技术进一步提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有回归测试程序，所述回归测试程序被处理器执行时实现回归测试方法的步骤，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度强度，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。在本专利技术中，回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度强度，获取回归测试路径，其中，回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，周围路径根据预设测试强度等级确定；根据中心路径与周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据测试用例，按照回归测试路径进行回归测试。也就是说，回归测试路径中所包括的中心路径与被修复的漏洞有关，而周围路径与被修复的漏洞和预设测试强度等级有关，周围路径所涵盖的测试范围与与预设测试强度等级相对应。考虑到程序或系统的错误通常是由少数几个参数的相互作用导致的，采用组合测试方式进行测试，并生成相应的测试用例，在保障了测试可靠性的同时，有利于避免全功能测试中出现的重复测试等，大大减少了测试用例的数目，从而提高了测试效率，降低了测试成本。附图说明图1为本专利技术回归测试方法第一实施例的流程示意图；图2为本专利技术回归测试方法第二实施例中步骤S100的细化流程示意图；图3为本专利技术回归测试方法第三实施例中步骤S200的细化流程示意图；图4为本专利技术回归测试方法第四实施例中步骤S200的细化流程示意图；图5为本专利技术回归测试方法第五实施例中步骤S300的细化流程示意图；图6为本专利技术回归测试方法第六实施例的流程示意图；图7为本专利技术回归测试方法第七实施例的流程示意图；图8是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的回归测试设备结构示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例的主要解决方案是：采用组合测试的思想，对修复后的程序或系统进行回归测试。由于现有技术中主要针对被修复的漏洞本身进行测试，或者进行全功能测试，导致测试的可靠性或测试的效率较本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种回归测试方法，其特征在于，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。

【技术特征摘要】
1.一种回归测试方法，其特征在于，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。2.如权利要求1所述的回归测试方法，其特征在于，根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径的步骤包括：计算所述周围路径与所述中心路径之间的相依度；按照所述相依度由高至低的顺序，将所述周围路径纳入所述回归测试路径中，直至所述回归测试路径的测试强度等级等于所述预设测试强度等级。3.如权利要求2所述的回归测试方法，其特征在于，所述周围路径包括第一周围路径和第二周围路径，所述第一周围路径与所述中心路径之间的相依度大于所述第二周围路径与所述中心路径之间的相依度；所述根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例的步骤包括：根据所述中心路径和所述第一周围路径，获取第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值；根据所述第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值，建立第一测试用例；根据所述中心路径和所述第二周围路径，获取第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值；根据所述第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值，建立第二测试用例；其中，所述第一测试参数对中心路径和第一周围路径的覆盖度大于所述第二测试参数对中心路径和第二周围路径的覆盖度。4.如权利要求1所述的回归测试方法，其特征在于，根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例的步骤包括：根据所述中心路径和所述周围路径，获取测试参数和所述测试参数对应的参数取值；根据所述测试参数和所述测试参数对应的参数取值，按照两两组合方式或正交组合方式，建立所述测试用例。5.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：周海艳，
申请(专利权)人：平安普惠企业管理有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44