一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构，所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接，所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器，所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本发明专利技术所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。

A sample grinding device for terahertz spectroscopy measurement

The invention relates to the technical field of sample grinding, in particular to a sample grinding device for terahertz spectrum measurement. The sample grinding device for terahertz spectroscopy measurement comprises a box body, a grinding mechanism, a data acquisition mechanism and an intelligent driving actuator. The grinding mechanism comprises an automatic telescopic rod, a fixed rod, two grinding balls and a grinding groove. The fixed rod is rotatably connected with the automatic telescopic rod and is provided with the fixed rod. Infrared sensor and rotational speed sensor, the data acquisition mechanism includes environmental information measurement mechanism and sample information measurement mechanism, the intelligent driving actuator includes temperature control mechanism, ventilation control mechanism, alarm control mechanism and drying control mechanism. The sample grinding device for terahertz spectroscopy measurement can reduce the interference of influencing factors during the grinding process, obtain the best grinding result of the sample, and provide the source guarantee for the preparation and measurement experiment of subsequent sample tablets.

【技术实现步骤摘要】
一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置
本专利技术涉及样品研磨
，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。
技术介绍
太赫兹波(Terahertz,1THz＝1012Hz)是对一个特定波段的电磁福射的统称，频率在0.1～10THz，波长为3mm～30um，波数是3.3～330cm-1。在电磁波谱中，太赫兹波位于微波和红外福射之间，是电子学向光子学过渡的特殊区域，也是宏观经典理论向微观量子理论的过渡区域。太赫兹波的一个显著特点是与水强烈相互作用。由于太赫兹波对水分子响应的高灵敏度，有些研究小组尝试运用太赫兹技术测量水分子在生物样品中的存在含量及其存在形式，取得了较好的结果。正是太赫兹波与水的高灵敏度互作特性，在使用太赫兹技术进行样品定性定量理化性质测试时，由于实验环境及样品本身水分的存在，可能会造成实验的误差甚至可能造成实验的失败。因此，在使用太赫兹技术进行实验时，从样品采集、制备到样品测试完成的全过程，每个环节都需要尽可能排除水分子的存在，以免对实验造成不良的影响。而在实验制备样品压片前，首先第一步就是进行固体样品的研磨。样品颗粒的粒径大小及均匀度会直接影响样品的数据采集结本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：包括箱体、设置在所述箱体中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体上的数据测量采集机构、智能驱动执行机构和主控机构；其中所述研磨机构包括自动伸缩杆、与所述自动伸缩杆垂直连接的固定杆、分别与所述固定杆的两端对应连接的两个研磨球以及设置在所述研磨球下方的研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接；所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构；所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构；所述数据测量采集机构与所述主控机构电性连接，所述主控机构与所述智能驱动执行机构电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：包括箱体、设置在所述箱体中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体上的数据测量采集机构、智能驱动执行机构和主控机构；其中所述研磨机构包括自动伸缩杆、与所述自动伸缩杆垂直连接的固定杆、分别与所述固定杆的两端对应连接的两个研磨球以及设置在所述研磨球下方的研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接；所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构；所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构；所述数据测量采集机构与所述主控机构电性连接，所述主控机构与所述智能驱动执行机构电性连接。2.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨球通过悬挂连接组件与所述固定杆相连；所述悬挂连接组件包括悬吊杆、水平杆、两个竖直杆以及连接轴，其中所述悬吊杆的上端与所述固定杆相连，所述悬吊杆的下端与所述水平杆相连，所述水平杆的两端分别对应连接两个所述竖直杆，两个所述竖直杆分别与所述连接轴的两端对应连接，所述研磨球转动安装在所述连接轴上。3.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨机构还包括红外传感装置，所述红外传感装置包括两个发射端和一个接收端，两个所述发射端对称设置在所述固定杆的两端，所述接收端设置于所述数据测量采集机构中。...

【专利技术属性】
技术研发人员：李斌，张永珍，罗长海，陈怡每，
申请(专利权)人：北京农业信息技术研究中心，
类型：发明
国别省市：北京,11