LED老化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种LED老化测试装置，包括载板、第一接线座、第二接线座、第一夹持件与第二夹持件。凹槽用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，第一凸缘凸出于凹槽的底壁的高度小于所述凹槽侧壁相对于所述凹槽底壁的高度，第一凸缘与凹槽的底壁配合形成第一槽体。第一槽体用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应。第一夹持件用于夹持住LED待测样品的其中一个极板，第二夹持件用于夹持住LED待测样品的另一个极板。上述的LED老化测试装置，能够实现对两种型号的LED待测样品进行老化测试，从而使得测试成本降低。

LED aging test device

The invention relates to an LED aging testing device, which comprises a carrier plate, a first junction seat, a second junction seat, a first clamp piece and a second clamp piece. The groove is used for adapting to the shape of the package substrate of the first type LED to be measured. The height of the first flange protruding from the bottom wall of the groove is less than the height of the side wall of the groove relative to the bottom wall of the groove. The first flange cooperates with the bottom wall of the groove to form a first groove body. The first tank is adapted to the shape of the packaging substrate of the second model LED sample to be tested. The first holder is used to hold one of the plates of the LED sample to be tested, and the second holder is used to hold another plate of the LED sample to be tested. The LED aging testing device mentioned above can realize the aging testing of two types of LED samples, thus reducing the testing cost.

【技术实现步骤摘要】
LED老化测试装置
本专利技术涉及LED老化测试
，特别是涉及一种LED老化测试装置。
技术介绍
LED(LightEmittingDiode发光二极管，简称LED)由于其高可靠性、长寿命、绿色环保的诸多优点得到广泛应用。在LED产品制造过程中，主要通过不同电流的通电老化测试和不同温度、湿度等条件下的环境试验评估和检验其性能。传统的一种型号的LED封装产品一般会有一款对应的夹具或测试装置进行产品寿命评估，然而，随着LED行业的快速发展，LED产品类型不断的推陈出新，LED封装形式演变，其型号越来越多样化，这就要经常变换其老化测试装置，造成测试成本增加和资源的浪费。
技术实现思路
基于此，有必要克服现有技术的缺陷，提供一种LED老化测试装置，它能够使得测试成本降低。其技术方案如下：一种LED老化测试装置，包括：载板，所述载板上设置有凹槽，所述凹槽用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，所述凹槽的底壁上设有第一凸缘，所述第一凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述凹槽侧壁相对于所述凹槽底壁的高度，所述第一凸缘与所述凹槽的底壁配合形成第一槽体，所述第一槽体用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应；第一接线座、第二接线座、第一夹持件与第二夹持件，所述第一接线座、所述第二接线座均设置在所述载板上，所述第一接线座、所述第二接线座均位于所述凹槽的外侧，所述第一接线座与所述第一夹持件相连，所述第二接线座与所述第二夹持件相连，所述第一夹持件用于夹持住LED待测样品的其中一个极板，所述第二夹持件用于夹持住所述LED待测样品的另一个极板。上述的LED老化测试装置，当需要对第一型号LED待测样品进行老化测试时，则将第一型号LED待测样品的封装基板装设在凹槽中，并由第一夹持件、第二夹持件分别夹持住LED待测样品的两个极板，第一接线座、第二接线座分别接入外部直流电源或交流电源，便可以对第一型号LED待测样品进行通电测试操作。同样地，当需要对第二型号LED待测样品进行老化测试时，则将第二型号LED待测样品的封装基板装设在第一槽体中，并由第一夹持件、第二夹持件分别夹持住LED待测样品的两个极板，第一接线座、第二接线座分别接入外部直流电源或交流电源，便可以对第二型号LED待测样品进行通电测试操作。如此，上述的LED老化测试装置，能够实现对两种型号的LED待测样品进行老化测试，从而使得测试成本降低。进一步地，所述凹槽的底壁上还设有第二凸缘，所述第二凸缘设置在所述第一槽体内侧，所述第二凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述第一凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度，所述第二凸缘与所述凹槽的底壁配合形成第二槽体，所述第二槽体用于与第三型号LED待测样品的封装基板形状相适应。进一步地，所述载板上还设有遮光罩，所述遮光罩罩设在所述凹槽上；所述遮光罩上开设有若干个散热孔。进一步地，所述载板上还设有散热机构，所述散热机构设置在所述载板背向所述凹槽的侧面上。进一步地，所述载板背向所述凹槽的侧面上设置有与所述凹槽相应的凹部，所述散热机构为抽风机构并装设在所述凹部中，所述载板上设置有若干个通风孔，所述通风孔由所述凹部的底壁贯穿延伸至所述凹槽的底壁。进一步地，所述凹槽为多个，多个所述凹槽呈矩阵布置在所述载板上，所述第一接线座、所述第二接线座、所述第一夹持件与所述第二夹持件均为多个，且所述第一接线座、所述第二接线座、所述第一夹持件与所述第二夹持件均与所述凹槽一一相应。进一步地，所述的LED老化测试装置还包括第三接线座、第四接线座、第三夹持件与第四夹持件，所述第三接线座、第四接线座、第三夹持件与第四夹持件均为多个，且所述第三接线座、第四接线座、第三夹持件与第四夹持件均所述凹槽一一相应；所述第三接线座与所述第三夹持件相连，所述第四接线座与所述第四夹持件相连；所述第一接线座、所述第二接线座、所述第三接线座及所述第四接线座绕所述凹槽外侧周向设置在所述载板上。进一步地，所述载板上设置有若干个供电接口，所述供电接口分布在所述载板的侧部，所述供电接口用于连接至外部供电电源。进一步地，所述第一接线座、所述第二接线座、所述第三接线座及所述第四接线座上均设有弹压孔，所述弹压孔处设置有弹压接线扣。进一步地，所述第一接线座、所述第二接线座、所述第三接线座及所述第四接线座上均设置有插线孔，所述插线孔用于插装导线的连接接头。附图说明图1为本专利技术一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图2为图1中A-A处的剖视图；图3为本专利技术另一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图4为本专利技术又一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图5为本专利技术再一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图6为本专利技术多一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图7为本专利技术另多一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图8为本专利技术又多一实施例所述的LED老化测试装置的结构示意图；图9为图8中B-B处的剖视图；图10为本专利技术一实施例所述的LED老化测试装置的串联测试示意图；图11为本专利技术一实施例所述的LED老化测试装置的并联测试示意图；图12为本专利技术一实施例所述的LED老化测试装置的串并混联测试示意图。附图标记：10、载板，11、凹槽，12、第一凸缘，13、第一槽体，14、第二凸缘，15、第二槽体，16、凹部，17、通风孔，18、凸柱，21、第一接线座，22、第二接线座，23、第三接线座，24、第四接线座，25、弹压接线扣，26、插线孔，31、第一夹持件，32、第二夹持件，33、第三夹持件，34、第四夹持件，40、遮光罩，41、散热孔，50、散热机构，60、供电接口，70、导电线，80、导线。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。在本专利技术的描述中，需要理解的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在中间元件。相反，当元件为称作“直接”与另一元件连接时，不存在中间元件。在一个实施例中，请参阅图1至图3所示，一种LED老化测试装置，包括：载板10、第一接线座21、第二接线座22、第一夹持件31与第二夹持件32。所述载板10上设置有凹槽11。所述凹槽11用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，所述凹槽11的底壁上设有第一凸缘12。所述第一凸缘12凸出于所述凹槽11的底壁的高度小于所述凹槽11侧壁相对于所述凹槽11底壁的高度，所述第一凸缘12与所述凹槽11的底壁配合形成第一槽体13。所述第一槽体13用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应。所述第一接线座21本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED老化测试装置，其特征在于，包括：载板，所述载板上设置有凹槽，所述凹槽用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，所述凹槽的底壁上设有第一凸缘，所述第一凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述凹槽侧壁相对于所述凹槽底壁的高度，所述第一凸缘与所述凹槽的底壁配合形成第一槽体，所述第一槽体用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应；第一接线座、第二接线座、第一夹持件与第二夹持件，所述第一接线座、所述第二接线座均设置在所述载板上，所述第一接线座、所述第二接线座均位于所述凹槽的外侧，所述第一接线座与所述第一夹持件相连，所述第二接线座与所述第二夹持件相连，所述第一夹持件用于夹持住LED待测样品的其中一个极板，所述第二夹持件用于夹持住所述LED待测样品的另一个极板。

【技术特征摘要】
1.一种LED老化测试装置，其特征在于，包括：载板，所述载板上设置有凹槽，所述凹槽用于与第一型号LED待测样品的封装基板形状相适应，所述凹槽的底壁上设有第一凸缘，所述第一凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述凹槽侧壁相对于所述凹槽底壁的高度，所述第一凸缘与所述凹槽的底壁配合形成第一槽体，所述第一槽体用于与第二型号LED待测样品的封装基板形状相适应；第一接线座、第二接线座、第一夹持件与第二夹持件，所述第一接线座、所述第二接线座均设置在所述载板上，所述第一接线座、所述第二接线座均位于所述凹槽的外侧，所述第一接线座与所述第一夹持件相连，所述第二接线座与所述第二夹持件相连，所述第一夹持件用于夹持住LED待测样品的其中一个极板，所述第二夹持件用于夹持住所述LED待测样品的另一个极板。2.根据权利要求1所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述凹槽的底壁上还设有第二凸缘，所述第二凸缘设置在所述第一槽体内侧，所述第二凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述第一凸缘凸出于所述凹槽的底壁的高度，所述第二凸缘与所述凹槽的底壁配合形成第二槽体，所述第二槽体用于与第三型号LED待测样品的封装基板形状相适应。3.根据权利要求1所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述载板上还设有遮光罩，所述遮光罩罩设在所述凹槽上；所述遮光罩上开设有若干个散热孔。4.根据权利要求1所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述载板上还设有散热机构，所述散热机构设置在所述载板背向所述凹槽的侧面上。5.根据权利要求4所述的LED老化测试装置，其特征在于，所述载板背向所...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓自然，王书方，
申请(专利权)人：佛山市顺德区蚬华多媒体制品有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44