一种自动探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动探针，包括测试器头、接口环和探针卡，测试器头的内部设有信号输出部，信号输出部嵌入设置在测试器头中，信号输出部的右侧设有接电连接部，接电连接部嵌入设置在测试器头中，测试器头的底部设有接口环，接口环固定安装在测试器头的底部。该种自动探针，通过接口环内部设有的测试用电路板，可以使测试用电极从测试用电路板的表面突出，使得被测试物体的被测试电极和各向异性导电构件的导电通路之间的热熔融接合变得更加便利的效果，从而提升设备在使用时的稳定性，防止出现因为热熔接合达不到要求而影响设备使用的情况出现，通过探针卡底部设有的树脂材料层，可以使固定架与各向异性导电构件接触时压力被分散。

An automatic probe

The utility model discloses an automatic probe, which comprises a tester head, an interface ring and a probe card. The inner part of the tester head is provided with a signal output part, the signal output part is embedded in the tester head, the right side of the signal output part is provided with a connection part, the connection part is embedded in the tester head, and the bottom of the tester head is arranged. The part is equipped with an interface ring, and the interface ring is fixed on the bottom of the tester head. This kind of automatic probe, through the test circuit board inside the interface ring, can make the test electrode protrude from the surface of the test circuit board, and make the hot melting bonding between the test electrode of the object under test and the conductive path of the anisotropic conductive component more convenient, thus improving the use of the equipment. The stability of the fixture can prevent the use of the equipment from being affected because the hot-melt bonding can not meet the requirements. The pressure of the fixture can be dispersed when the fixture contacts the anisotropic conductive component through the resin material layer at the bottom of the probe card.

【技术实现步骤摘要】
一种自动探针
本技术涉及自动探针设备领域，具体为一种自动探针。
技术介绍
目前在某一台自动探针台上建立完配方还需手动传送到其它自动探针台，在其它机台正在测货时是不能传送的，往往需要等很长时间才能完成全部机台的传送。但现有的探针，内部的导电通路之间接合不够便利，接合后稳定性差，在使用时，由于部件之间接触过于紧密，超过部件所承受的负荷而发生部件破碎，并且，使用时稳定性不够高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种自动探针，以解决上述
技术介绍
中提出的探针稳定性不够高问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种自动探针，包括测试器头、接口环和探针卡，所述测试器头的内部设有信号输出部，所述信号输出部嵌入设置在测试器头中，所述信号输出部的右侧设有接电连接部，所述接电连接部嵌入设置在测试器头中，所述测试器头的底部设有接口环，所述接口环固定安装在测试器头的底部，所述接口环的底部设有探针卡，所述探针卡固定安装在接口环的底部，所述探针卡的中部设有各向异性导电构件，所述各向异性导电构件嵌入设置在探针卡中，所述各向异性导电构件内部设有导电凸起，所述导电凸起嵌入设置在各向异性导电构件中，所述各向异性导电构件的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动探针，包括测试器头(1)、接口环(2)和探针卡(3)，其特征在于：所述测试器头(1)的内部设有信号输出部(102)，所述信号输出部(102)嵌入设置在测试器头(1)中，所述信号输出部(102)的右侧设有接电连接部(104)，所述接电连接部(104)嵌入设置在测试器头(1)中，所述测试器头(1)的底部设有接口环(2)，所述接口环(2)固定安装在测试器头(1)的底部，所述接口环(2)的底部设有探针卡(3)，所述探针卡(3)固定安装在接口环(2)的底部，所述探针卡(3)的中部设有各向异性导电构件(301)，所述各向异性导电构件(301)嵌入设置在探针卡(3)中，所述各向异性导电构件(30...

【技术特征摘要】
1.一种自动探针，包括测试器头(1)、接口环(2)和探针卡(3)，其特征在于：所述测试器头(1)的内部设有信号输出部(102)，所述信号输出部(102)嵌入设置在测试器头(1)中，所述信号输出部(102)的右侧设有接电连接部(104)，所述接电连接部(104)嵌入设置在测试器头(1)中，所述测试器头(1)的底部设有接口环(2)，所述接口环(2)固定安装在测试器头(1)的底部，所述接口环(2)的底部设有探针卡(3)，所述探针卡(3)固定安装在接口环(2)的底部，所述探针卡(3)的中部设有各向异性导电构件(301)，所述各向异性导电构件(301)嵌入设置在探针卡(3)中，所述各向异性导电构件(301)内部设有导电凸起(3015)，所述导电凸起(3015)嵌入设置在各向异性导电构件(301)中，所述各向异性导电构件(301)的中部设有阳极氧化膜(3014)，所述阳极氧化膜(3014)固定安装在各向异性导电构件(301)的中部，所述探针卡(3)的下表面设有接点(3031)，所述接点(3031)紧密贴合在探针卡(3)上，所述探针卡(3)的下表面设有固定架(305)，所述固定架(305)固定安装在探针卡(3)的底部，所述测试器头(1)的底部设有底架(5)，所述底架(5)固定安装在测试器头(1)底部，所述底架(5)的左右两侧均设有支撑块(501)，所述支撑块(501)焊接在底架(5)上，所述底架(5)的上表面设有垫块(401)，所述垫块(401)紧密贴合在底架(5)上，所述垫块(401)的上表面设有测试物承台(4)，所述测试物承台(4)紧密贴合在垫块(401)上。2.根据权利要求1所述的一种自动探针，其特征在于：所述接口环(2)的内部设...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅森，
申请(专利权)人：无锡旺矽科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32