一种芯片测试用连接装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片测试用连接装置，所述装置包括：连接板、多个滑块、多个绝缘块、多个管脚插入端、传输线；所述连接板上表面设有滑槽，滑槽内设有多个滑块，滑块与管脚插入端一一对应，管脚插入端下端穿过滑槽通过绝缘块与滑块连接，传输线一端与管脚插入端内底部连接，传输线另一端与连接板的连接端连接；滑块采用电磁铁制成，连接板采用金属制成，滑块通过开关与电源连接，实现了装置设计合理，通用性较好，提高了测试效率，降低了测试成本的技术效果。

A connecting device for chip test

The invention discloses a connecting device for chip testing, which comprises a connecting board, a plurality of sliders, a plurality of insulating blocks, a plurality of pin insertion ends and a transmission line; a sliding groove is arranged on the surface of the connecting board, and a plurality of sliding blocks are arranged in the sliding groove; the sliding blocks correspond to the pin insertion ends one by one; and the lower end of the pin insertion end passes through the sliding Gro By connecting the insulating block with the slider, one end of the transmission line is connected with the inner bottom of the inserting end of the pipe pin, and the other end of the transmission line is connected with the connecting end of the connecting plate; the slider is made of electromagnet, the connecting plate is made of metal, and the slider is connected with the power supply through the switch, which realizes the reasonable design of the device, good universality and improves the testing effect. It reduces the technical effect of testing cost.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试用连接装置
本专利技术涉及芯片领域，具体地，涉及一种芯片测试用连接装置。
技术介绍
芯片，英文为Chip；芯片组为Chipset。芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。“芯片”和“集成电路”这两个词经常混着使用，比如在大家平常讨论话题中，集成电路设计和芯片设计说的是一个意思，芯片行业、集成电路行业、IC行业往往也是一个意思。实际上，这两个词有联系，也有区别。集成电路实体往往要以芯片的形式存在，因为狭义的集成电路，是强调电路本身，比如简单到只有五个元件连接在一起形成的相移振荡器，当它还在图纸上呈现的时候，我们也可以叫它集成电路，当我们要拿这个小集成电路来应用的时候，那它必须以独立的一块实物，或者嵌入到更大的集成电路中，依托芯片来发挥他的作用；集成电路更着重电路的设计和布局布线，芯片更强调电路的集成、生产和封装。而广义的集成电路，当涉及到行业(区别于其他行业)时，也可以包含芯片相关的各种含义。芯片经常需要进行测试，芯片在进行测试时需要将管脚插入测试端进行测试，由于芯片的型号不一样，管脚的数目和间距也不一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试用连接装置，其特征在于，所述装置包括：连接板、多个滑块、多个绝缘块、多个管脚插入端、传输线；所述连接板上表面设有滑槽，滑槽内设有多个滑块，滑块与管脚插入端一一对应，管脚插入端下端穿过滑槽通过绝缘块与滑块连接，传输线一端与管脚插入端内底部连接，传输线另一端与连接板的连接端连接；滑块采用电磁铁制成，连接板采用金属制成，滑块通过开关与电源连接。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用连接装置，其特征在于，所述装置包括：连接板、多个滑块、多个绝缘块、多个管脚插入端、传输线；所述连接板上表面设有滑槽，滑槽内设有多个滑块，滑块与管脚插入端一一对应，管脚插入端下端穿过滑槽通过绝缘块与滑块连接，传输线一端与管脚插入端内底部连接，传输线另一端与连接板的连接端连接；滑块采用电磁铁制成，连接板采用金属制成，滑块通过开关与电源连接。2.根据权利要求1所述的芯片测试用连接装置，其特征在于，滑槽侧面设有多个第一定位孔，滑块上设有第二定位孔，定位钉插入第一和第二定位孔内...

【专利技术属性】
技术研发人员：李震，
申请(专利权)人：成都平阿迪科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51