一种光电式清纱检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术为了解决现有光电式检测装置只能检测出疵点、不能检测出同色异质纤维和同质异色纤维的缺陷，公开了一种光电式清纱检测装置，该装置包括外壳支架、发光管和探测器，所述发光管和探测器组成一探测屏面，在与此屏面相向平行设置有一个由反光镜组成的反射屏面，所述探测屏面和反射屏面均设置在外壳支架的内表面上，两屏面间的间隙为纱线检测通道；所述发光管为紫外发光二极管；所述探测器为紫外增强型硅光电二极管。本实用新型专利技术比同等功能的检测装置设计简单、制造成本低廉，具有良好的检测性能。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种清纱检测装置，更具体地说，是涉及一种光电 式清纱检测装置，属于纺织机械设备

技术介绍
清纱检测装置分为光电式、电容式及两者相结合式。通常的光电式是检测 纱线的轮廓影象，即光通量的变化，是通过检测纱线的直径变化来检测纱疵， 因此， 一般只能检测出纱线上的结头、毛粒、短粗、长粗、长细的变化，目前 尚不能检测出同色异质纤维和同质异色纤维。电容式是检测纱线的质量或横截 面的变化，通过电容的变化来间接表达纱疵。当今世界上广泛应用光电式与电 容式相结合方式，达到疵点检测及同质异色纤维、同色异质纤维的检测目的， 但这种检测装置设计复杂、制造成本高。
技术实现思路
本技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种光电式清 纱检测装置，以解决现有光电式检测装置只能检测出疯点、不能检测出同色异 质纤维和同质异色纤维的缺陷。为达到上述目的，本技术通过以下技术方案予以实现 本技术提供的光电式清纱检测装置，包括外壳支架、发光管和探测 器，所述发光管和探测器组成一探测屏面，在与此屏面相向平行设置有一个由 反光镜组成的反射屏面，所述探测屏面和反射屏面均设置在外壳支架的内表面 上，两屏面间的间隙为纱线检测通道，由此组成一种发光、反射和接收的背投 影式光电清纱检测装置；所述发光管为紫外发光二极管；所述探测器为紫外增 强型硅光电二极管。在所述探测屏面上设置有一个滤光片，以滤除紫外光以外的其他成分和红外光线；所述滤光片的透过光波波长为400nm±70nm,即对330 ~ 470nm以外的光源透过率很低。所述外壳支架为凹形体，探测屏面和反射屏面分别设置在凹形外壳支架 左、右竖直面的内表面上。所述发光管位于探测器两侧，且两侧发光管分布位置对称；发光管的个数 最好是2 8个，每侧各1 4个。上述紫外发光二极管的发光波长最好在340 ~ 405nm范围内。上述紫外增强型硅光电二极管探测器，能从190nm开始响应，在波长200nm 处接受一瓦特光的照射，能产生0. 10安培左右的光电流，在峰值响应处(720nm 处)接受一瓦特光的照射，能产生O. 36安培左右的光电流，在25t:,加l伏 特反偏压测得的暗电流为10 —"安培。由于棉质纱线被紫外光激发后基本上没有荧光点，而同色异质纱线(如 丙纶丝、涤纶丝或尼龙丝)被紫外光激发后会产生明亮的荧光，这些荧光一部 分被探测器直接接收，没有被直接接收的部分荧光，经反射镜反射回来后，再 次被探测器接收，这种背投影式设计增大了探测器接收到的信号，由探测器接 收到的增强信号经过信号处理系统的放大、滤波、整形和比较后，即可输出同 色异质的检测信号。另外，由于含杂色的纱线与不含杂色的同质纱线对紫外光的反射不同，当 同质异色纱线经过本技术的检测区时，探测器会接收到它们对紫外光产生 的不同反射光信号，这些不同反射光信号由探测器输出给信号处理系统，信号 处理系统对输入的微电流信号进行放大、滤波、整形和比较后，即可输出同质 异色的检测信号。本技术与现有技术相比，具有以下有益效果1) 无需釆用光电式和电容式相结合方式，只用光电式检测方法便能检测 出异质纤维、同质纤维纱线上的杂色，并给出结头、毛粒、短粗、长粗、长细 等纱疵信号，比国外光电式与电容式相结合式检测装置少了多个探头，实现同 等功能却设计简单、制造成本低廉。2) 本装置能避免环境光线直流分量的干扰，具有良好的检测性能。附图说明图1为实施例的结构示意图； 图2为实施例的工作示意图。图中l一外壳支架；2—发光管；3—探测器；4一滤光片；5—反光镜；6 一纱线；7—信号处理系统。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术作进一步说明，其目的仅在于更好理 解本技术的内容而非限制本技术的保护范围 实施例如图1所示，本实施例提供的光电式清纱检测装置，包括一个凹形外壳 支架l、六个发光管2、 一个探测器3、 一个滤光片4及一个反光镜5，所述发 光管2及探测器3均设置在凹形外壳支架左竖直面的内表面上组成一探测屏 面，反光镜5设置在凹形外壳支架右竖直面的内表面上组成一反射屏面，探测 屏面和反射屏面间的间隙为纱线检测通道；滤光片4设置在探测屏面上，以滤 除紫外光以外的其他成分和红外光线；发光管2位于探测器3两侧并且两侧发 光管分布位置对称，即每侧各3个发光管；所述发光管2为紫外发光二极管， 发光波长在340 - 405nm范围内；所述探测器3为紫外增强型硅光电二极管， 能从190nra开始响应，在波长200nm处接受一瓦特光的照射，能产生O. 10安 培左右的光电流，在峰值响应处(720nm处)接受一瓦特光的照射，能产生0. 36 安培左右的光电流，在25。C,加l伏特反偏压测得的暗电流为10 —"安培；所 述滤光片4的透过光波波长为400nm±70nm,即对330 ~ 470nm以外的光源透过率很低；所述凹形外壳支架l可由胶木板或塑料板材组成。如图2所示，当发光管2发出的紫外光被滤光片4滤除紫外光以外的其他 成分和红外光线后，投射到被检测纱线6上，若是同色异质纱线，如丙纶丝、 涤纶丝或尼龙丝，则由于它们被紫外光激发会产生明亮的荧光，这些荧光一部 分被探测器3直接接收，未被直接接收的部分荧光通过反光镜5反射回来后可 再次被探测器3接收，这样就增强了探测器对异质纤维产生的荧光信号的接收。 探测器将接收到的增强信号输出给信号处理系统7，信号处理系统7对输入的微电流信号进行放大、滤波、整形和比较后，即可输出同色异质的检测信号。 另外，如图2所示，当发光管2发出的紫外光被滤光片4滤除紫外光以外的其他成分和红外光线后，投射到被检测纱线6上，若是同质异色纱线，则由于它们对紫外光产生的反射光不同，探测器会接收到它们对紫外光的不同反射光信号，这些不同反射光信号由探测器检测并输出给信号处理系统7，信号处 理系统7对输入的微电流信号进行放大、滤波、整形和比较后，即可输出同质 异色的检测信号。可见，本技术无需釆用光电式和电容式相结合方式，只用光电式检测 方法便能检测出异质纤维、同质纤维纱线上的杂色，并给出结头、毛粒、短粗、 长粗、长细等纱疵信号，比国外光电式与电容式相结合式检测装置少了多个探 头，实现同等功能却设计简单、制造成本低廉。另外，本装置能避免环境光线 直流分量的干扰，具有良好的检测性能。权利要求1. 一种光电式清纱检测装置，包括外壳支架、发光管和探测器，其特征在于A)所述发光管和探测器组成一探测屏面，在与此屏面相向平行设置有一个由反光镜组成的反射屏面，所述探测屏面和反射屏面均设置在外壳支架的内表面上，两屏面间的间隙为纱线检测通道；B)所述发光管为紫外发光二极管；C)所述探测器为紫外增强型硅光电二极管。2. 根据权利要求1所述的光电式清纱检测装置，其特征在于，在所述探 测屏面上设置有一个滤光片。3. 根据权利要求2所述的光电式清纱检测装置，其特征在于，所述滤光 片的透过光波波长为400nm±70nm。4. 根据权利要求1所述的光电式清纱检测装置，其特征在于，所述外壳 支架为凹形体，所述探测屏面和反射屏面分别设置在凹形外壳支架左、右竖直 面的内表面上。5. 根据权利要求1所述的光电式清纱检测装置，其特征在于，所述发光 管位于探测器两本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电式清纱检测装置，包括外壳支架、发光管和探测器，其特征在于：　　　　Ａ）所述发光管和探测器组成一探测屏面，在与此屏面相向平行设置有一个由反光镜组成的反射屏面，所述探测屏面和反射屏面均设置在外壳支架的内表面上，两屏面间的间隙为纱线检测通道；　　　　Ｂ）所述发光管为紫外发光二极管；　　　　Ｃ）所述探测器为紫外增强型硅光电二极管。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭和建，吴作良，徐一凡，
申请(专利权)人：上海科华光电技术研究所，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]