T组件测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术适用于产品测试技术领域，提供了一种T组件测试方法、装置及系统，所述T组件测试方法包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。本发明专利技术利用指令发生器来控制待测T组件的相位变化，测试精度高，并且可靠稳定，整个测试过程无需纯手动测试，自动化程度高，操作步骤简单，测试效率高，生产成本低。

T component testing method, device and system

The invention is applicable to the technical field of product testing, and provides a T-component testing method, device and system. The T-component testing method comprises sending a first control instruction to an instruction generator, which transmits a clock signal, a latch signal and a data signal to a T-group to be tested according to the first control instruction, respectively. The T-component test instrument controls the T-component test instrument to transmit a radio frequency input signal to the T-component to be tested. After the T-component outputs the signal to be tested according to the radio frequency input signal to the T-component test instrument, the T-component test instrument controls the T-component test instrument to test the T-component according to the signal to be measured. The performance parameters of the component. The invention uses an instruction generator to control the phase change of the T component to be tested, which has the advantages of high test precision, reliability and stability, high automation, simple operation steps, high test efficiency and low production cost.

【技术实现步骤摘要】
T组件测试方法、装置及系统
本专利技术属于产品测试
，尤其涉及一种T组件测试方法、装置及系统。
技术介绍
在产品测试
中，搭建的测试系统各式各样，技术指标测试参量要求也不尽相同。在微波组件产品测试中，基本的测试仪器选择主要是根据产品的频段来选择，以节约成本为目的，而测试频段越高，仪器设备的成本越高，同时还需要满足测试精度与可靠稳定性。在Ka频段T组件测试当中，一套测试仪器的费用十分昂贵，生产成本高，现有技术中需要纯手动进行测试，操作步骤繁琐，测试效率低，而且无法满足测试精度与可靠稳定性要求。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种T组件测试方法、装置及系统，以解决现有技术在T组件测试过程中生产成本高，需要纯手动测试，操作步骤复杂，测试效率低，无法满足测试精度与可靠稳定性要求的问题。本专利技术实施例第一方面提供了一种T组件测试方法，包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。进一步地，在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数包括：发送第二控制指令给所述指令发生器，所述指令发生器根据所述第二控制指令调整所述时钟信号、所述锁存信号和所述数据信号，使所述待测T组件的移相状态为预设移相度数；在所述待测T组件根据所述预设移相度数和所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。进一步地，所述T组件测试方法还包括：控制直流电源为所述指令发生器提供电压；控制所述指令发生器对所述电压进行降压稳压处理并输送给所述待测T组件。进一步地，在所述发送第一控制指令给指令发生器之后，还包括：接收所述指令发生器发送的反馈信号，所述反馈信号用于指示所述指令发生器已经接收所述第一控制指令。进一步地，所述T组件测试方法还包括：获取所述T组件测试仪器测试得到的性能参数，并生成数据表格进行存储。本专利技术实施例第二方面提供了一种T组件测试装置，包括：第一控制指令发送模块，用于发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；射频输入信号发送模块，用于控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；测试模块，用于在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。进一步地，所述测试模块包括：第二控制指令发送模块，用于发送第二控制指令给所述指令发生器，所述指令发生器根据所述第二控制指令调整所述时钟信号、所述锁存信号和所述数据信号，使所述待测T组件的移相状态为预设移相度数；性能参数测试模块，用于在所述待测T组件根据所述预设移相度数和所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。进一步地，所述T组件测试装置还包括：第一供电模块，用于控制直流电源为所述指令发生器提供电压；第二供电模块，用于控制所述指令发生器对所述电压进行降压稳压处理并输送给所述待测T组件。本专利技术实施例第三方面提供了一种T组件测试系统，包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器；所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接，所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接，所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接，所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。本专利技术实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本专利技术提供的T组件测试方法、装置及系统，利用上位机控制指令发生器分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使待测T组件的移相状态为零，利用指令发生器来控制待测T组件的相位变化，测试精度高，并且可靠稳定性好，T组件测试仪器发送射频输入信号给待测T组件，使待测T组件输出待测信号给T组件测试仪器，T组件测试仪器根据待测信号，测试T组件的性能参数，整个测试过程无需纯手动测试，自动化程度高，操作步骤简单，测试效率高，生产成本低。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种T组件测试方法的流程示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种T组件测试装置的结构示意图；图3是本专利技术一实施例提供的一种T组件测试系统的结构示意图；图4是本专利技术另一实施例提供的一种T组件测试系统的结构示意图；图5是本专利技术又一实施例提供的一种T组件测试系统的结构示意图；图6是本专利技术再一实施例提供的一种T组件测试系统的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。为了说明本专利技术的技术方案，下面通过具体实施例进行说明。参阅图1，本专利技术实施例第一方面提供了一种T组件测试方法，包括：S101，发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零。具体地，在上位机中设置好串口号和波特率，即确定信号传输协议和信号传输速度，上位机通过通用串行总线(UniversalSerialBus，USB)发送第一控制指令给指令发生器，指令发生器根据第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，指令发生器通过数据传输线将上述三种信号发送到待测T组件的低频输入端，使待测T组件的移相状态为零，T组件内都设置有移相器，而这里的使待测T组件的移相状态为零，是指使待测T组件内的移相器的移相度数为零。上述的时钟信号、锁存信号和数据信号均为TTL(transistortransistorlogic，TTL)电平信号，其中时钟信号和锁存信号下降沿有效，在指令发生器通电后，指令发生器内的锁存器没有控制信号通过时，锁存器的锁存使能端处于高电平，指令发生器输出的锁存信号也就处于高电平，锁存信号错开时钟信号的下降沿，在11个时钟信号周期后产生下降沿，锁存串入的数据信号，最后锁存的数据信号使待测T组件内的移相器产生相应的移相度数。TTL电平兼容0V/+3.3V和0V/+5V，并且指令发生器搭载STM32F103微控制器，指令发生器内部的驱动器带有上电清零功能，也可以利用上位机对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种T组件测试方法，其特征在于，包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

【技术特征摘要】
1.一种T组件测试方法，其特征在于，包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。2.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数包括：发送第二控制指令给所述指令发生器，所述指令发生器根据所述第二控制指令调整所述时钟信号、所述锁存信号和所述数据信号，使所述待测T组件的移相状态为预设移相度数；在所述待测T组件根据所述预设移相度数和所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。3.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，还包括：控制直流电源为所述指令发生器提供电压；控制所述指令发生器对所述电压进行降压稳压处理并输送给所述待测T组件。4.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，在所述发送第一控制指令给指令发生器之后，还包括：接收所述指令发生器发送的反馈信号，所述反馈信号用于指示所述指令发生器已经接收所述第一控制指令。5.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，还包括：获取所述T组件测试仪器测试得到的性能参数，生成数据表格并进行存储。6.一种T组件测试装置，其特征在于，包括：第一控制指令发送模块，用于发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨立仲，吴光胜，冯军正，
申请(专利权)人：深圳市华讯方舟微电子科技有限公司，华讯方舟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44