一种可自动校正的测绘系统技术方案

技术编号:18808360 阅读:31 留言:0更新日期:2018-09-01 08:51
本发明专利技术涉及测绘设备技术领域,具体公开了一种可自动校正的测绘系统,包括测绘系统本体、设于测绘系统本体一侧的测绘探头、设于测绘系统本体底部的固定柱、设于固定柱侧面下部的支撑杆、设于支撑杆底部的固定座、设于支撑杆侧面的第一转轴、套设于第一转轴上的第一锥形齿轮、与第一转轴垂直设置的第二转轴以及套设在第二转轴上的第二锥形齿轮。本发明专利技术结构简单,使用方便,测绘系统本体的高度更便于调节。

An automatic calibration system for surveying and mapping

The invention relates to the technical field of Surveying and mapping equipment, and specifically discloses a surveying and mapping system which can be automatically corrected, including a surveying and mapping system body, a surveying and mapping probe located on one side of the surveying and mapping system body, a fixed column located at the bottom of the surveying and mapping system body, a support rod located at the lower side of the fixed column, a fixed seat located at the bottom of the support rod, and a fixing device. The first rotating shaft on the side of the support rod, the first bevel gear sleeved on the first rotating shaft, the second rotating shaft vertically arranged with the first rotating shaft and the second bevel gear sleeved on the second rotating shaft. The invention has simple structure and convenient operation, and the height of the surveying and mapping system body is more convenient to adjust.

【技术实现步骤摘要】
一种可自动校正的测绘系统
本专利技术属于测绘设备
,具体涉及一种可自动校正的测绘系统。
技术介绍
在工地上由于路面不平,测绘时容易发生偏差,现有的测绘系统本体多数不便于进行高度调节,在实际使用时带来了非常大的不变,耽误时间,影响工作效率。随着科学技术的进步,社会的发展,人们对测绘系统本体提出了更高的要求,因此亟需提出了一种具有自动校正功能的测绘系统用于解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可自动校正的测绘系统,实现测绘系统的自动调节。本专利技术的技术方案如下:一种可自动校正的测绘系统,包括测绘系统本体、测绘探头、固定柱、支撑杆、固定座、第一转轴、第一锥形齿轮、第二转轴、第二锥形齿轮;在所述的测绘系统本体的一侧固定安装有测绘探头,在测绘系统本体的底部焊接有固定柱,固定柱与测绘系统本体同轴;在固定柱的侧面下部开设有凹槽,所述凹槽与固定柱的轴线平行;在凹槽内安装有支撑杆,支撑杆可沿凹槽上下滑动,且支撑杆的长度大于凹槽的长度,在支撑杆的底部焊接有固定座,用于支撑支撑杆;在支撑杆的侧面上部开设有第一转轴槽,所述的第一转轴槽与支撑杆的轴线平行;在第一转轴槽内安装有第一转轴,在所述的第一转轴上固定套设有第一锥形齿轮;所述第一转轴的顶端延伸至第一转轴槽外,第一转轴的底端与第一转轴槽的底部相接;在凹槽的正上方开设有第二转轴槽,第一转轴的上部位于第二转轴槽内;在固定柱的侧面设有第二转轴,第二转轴的轴线与测绘探头的轴线平行且共面,第二转轴的一端位于凹槽内,另一端位于固定柱的外侧;在第二转轴位于凹槽内的一端固定安装有第二锥形齿轮,所述的第二锥形齿轮与第一锥形齿轮相啮合。还包括把手,所述的把手固定设于第二转轴位于固定柱外侧的一端。在所述凹槽两侧的内壁上均开设有滑槽,在支撑杆的两侧分别焊接有滑块,两个滑块分别位于两个滑槽内。在所述滑块与支撑杆不相接的一侧分别安装有滚珠,两个滑块上的滚珠分别与凹槽中滑槽的内壁相接触。在第一转轴槽的内壁上设有内螺纹,在第一转轴上设有外螺纹,第一转轴与第一转轴槽通过螺纹连接。在第一转轴的上部固定安装有轴承,第二转轴槽与第一转轴上部的轴承转动连接。在凹槽一侧的内壁上开设有转轴通孔,转轴通孔的轴线与测绘探头的轴线平行且共面,第二转轴的一端穿过凹槽上的转轴通孔位于凹槽内。在所述的把手上套设有防滑套。所述的防滑套为橡胶材质当调节测绘系统本体的高度时,首先转动把手,把手带动第二转轴进行转动,第二转轴带动第二锥形齿轮进行转动,第二锥形齿轮带动第一锥形齿轮进行转动,第一锥形齿轮带动第一转轴进行转动,第一转轴的转动带动支撑杆在凹槽内滑动,支撑杆的滑动带动测绘系统本体上下移动,当测绘系统本体调节至所需高度时,停止转动把手,从而完成测绘系统本体的高度调节。本专利技术的显著效果在于:(1)本专利技术结构简单,使用方便,测绘系统本体的高度更便于调节。(2)本专利技术操作容易,节约时间,更有助于人们的使用。附图说明图1为本专利技术具有自动校正功能的测绘系统的结构示意图;图2为图1中A处放大示意图;图3为本专利技术第一转轴和第一锥形齿轮立体结构示意图。图中:1测绘系统本体、2测绘探头、3固定柱、4凹槽、5支撑杆、6固定座、7第一转轴槽、8第一转轴、9第二转轴槽、10第一锥形齿轮、11第二转轴、12第二锥形齿轮、13把手。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。如图1-3所示的一种可自动校正的测绘系统,包括测绘系统本体1、测绘探头2、固定柱3、支撑杆5、固定座6、第一转轴8、第一锥形齿轮10、第二转轴11、第二锥形齿轮12、把手13。在所述的测绘系统本体1的一侧固定安装有测绘探头2,在测绘系统本体1的底部焊接有固定柱3,固定柱3与测绘系统本体1同轴。在固定柱3的侧面下部开设有凹槽4,在凹槽4两侧的内壁上均开设有滑槽,所述凹槽4与固定柱3的轴线平行。在凹槽4内安装有支撑杆5,在支撑杆5的两侧分别焊接有滑块,在滑块的另一侧分别安装有滚珠,两个滑块分别位于凹槽4的两个滑槽内,滚珠与滑槽的内壁相接触。支撑杆5可沿凹槽4上下滑动,且支撑杆5的长度大于凹槽4的长度,在支撑杆5的底部焊接有固定座6,用于支撑支撑杆5。在支撑杆5的侧面上部开设有第一转轴槽7,在第一转轴槽7的内壁上设有内螺纹,所述的第一转轴槽7与支撑杆5的轴线平行。在第一转轴槽7内安装有第一转轴8,在第一转轴8上设有外螺纹,与第一转轴槽7通过螺纹连接。在所述的第一转轴8上固定套设有第一锥形齿轮10。所述第一转轴8的顶端延伸至第一转轴槽7外,第一转轴8的底端与第一转轴槽7的底部相接,其中,在第一转轴8的上部固定安装有轴承。在凹槽4的正上方开设有第二转轴槽9,第二转轴槽9与第一转轴8上部的轴承转动连接。在凹槽4一侧的内壁上开设有转轴通孔,转轴通孔的轴线与测绘探头2的轴线平行且共面。在固定柱3的侧面设有第二转轴11,第二转轴11的轴线与测绘探头2的轴线平行且共面。第二转轴11的一端穿过凹槽4上的转轴通孔位于凹槽4内,另一端位于固定柱3的外侧且固定安装有把手13。在所述的把手13上套设有防滑套,防滑套为橡胶材质。在第二转轴11位于凹槽4内的一端固定安装有第二锥形齿轮12,所述的第二锥形齿轮12与第一锥形齿轮10相啮合。当需要调节测绘系统本体1的高度时,首先,转动把手13,把手13带动第二转轴11进行转动,第二转轴11带动第二锥形齿轮12进行转动,第二锥形齿轮12带动第一锥形齿轮10进行转动,第一锥形齿轮10带动第一转轴8进行转动,第一转轴8的转动带动支撑杆5在凹槽4内滑动,支撑杆5的滑动带动测绘系统本体1上下移动,当测绘系统本体1调节至所需高度时,停止转动把手13,从而完成了测绘系统本体1的高度调节工作。本专利技术结构简单,使用方便,测绘系统本体1的高度更便于调节,操作容易,节约时间,更有助于人们的使用。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:包括测绘系统本体(1)、测绘探头(2)、固定柱(3)、支撑杆(5)、固定座(6)、第一转轴(8)、第一锥形齿轮(10)、第二转轴(11)、第二锥形齿轮(12);在所述的测绘系统本体(1)的一侧固定安装有测绘探头(2),在测绘系统本体(1)的底部焊接有固定柱(3),固定柱(3)与测绘系统本体(1)同轴;在固定柱(3)的侧面下部开设有凹槽(4),所述凹槽(4)与固定柱(3)的轴线平行;在凹槽(4)内安装有支撑杆(5),支撑杆(5)可沿凹槽(4)上下滑动,且支撑杆(5)的长度大于凹槽(4)的长度,在支撑杆(5)的底部焊接有固定座(6),用于支撑支撑杆(5);在支撑杆(5)的侧面上部开设有第一转轴槽(7),所述的第一转轴槽(7)与支撑杆(5)的轴线平行;在第一转轴槽(7)内安装有第一转轴(8),在所述的第一转轴(8)上固定套设有第一锥形齿轮(10);所述第一转轴(8)的顶端延伸至第一转轴槽(7)外,第一转轴(8)的底端与第一转轴槽(7)的底部相接;在凹槽(4)的正上方开设有第二转轴槽(9),第一转轴(8)的上部位于第二转轴槽(9)内;在固定柱(3)的侧面设有第二转轴(11),第二转轴(11)的轴线与测绘探头(2)的轴线平行且共面,第二转轴(11)的一端位于凹槽(4)内,另一端位于固定柱(3)的外侧;在第二转轴(11)位于凹槽(4)内的一端固定安装有第二锥形齿轮(12),所述的第二锥形齿轮(12)与第一锥形齿轮(10)相啮合。...

【技术特征摘要】
1.一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:包括测绘系统本体(1)、测绘探头(2)、固定柱(3)、支撑杆(5)、固定座(6)、第一转轴(8)、第一锥形齿轮(10)、第二转轴(11)、第二锥形齿轮(12);在所述的测绘系统本体(1)的一侧固定安装有测绘探头(2),在测绘系统本体(1)的底部焊接有固定柱(3),固定柱(3)与测绘系统本体(1)同轴;在固定柱(3)的侧面下部开设有凹槽(4),所述凹槽(4)与固定柱(3)的轴线平行;在凹槽(4)内安装有支撑杆(5),支撑杆(5)可沿凹槽(4)上下滑动,且支撑杆(5)的长度大于凹槽(4)的长度,在支撑杆(5)的底部焊接有固定座(6),用于支撑支撑杆(5);在支撑杆(5)的侧面上部开设有第一转轴槽(7),所述的第一转轴槽(7)与支撑杆(5)的轴线平行;在第一转轴槽(7)内安装有第一转轴(8),在所述的第一转轴(8)上固定套设有第一锥形齿轮(10);所述第一转轴(8)的顶端延伸至第一转轴槽(7)外,第一转轴(8)的底端与第一转轴槽(7)的底部相接;在凹槽(4)的正上方开设有第二转轴槽(9),第一转轴(8)的上部位于第二转轴槽(9)内;在固定柱(3)的侧面设有第二转轴(11),第二转轴(11)的轴线与测绘探头(2)的轴线平行且共面,第二转轴(11)的一端位于凹槽(4)内,另一端位于固定柱(3)的外侧;在第二转轴(11)位于凹槽(4)内的一端固定安装有第二锥形齿轮(12),所述的第二锥形齿轮(12)与第一锥形齿轮(10)相啮合。2.如权利要求1所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:还包括把手(13),所述的把手(13)固定设于第二转轴(11)位于固定柱(3)外侧的一端。3.如权利要求2所述的一种可自动校正的测绘系统,其特征在于:在所述凹...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡少辉周永桧张映宁张耀选
申请(专利权)人:核工业二一六大队
类型:发明
国别省市:新疆,65

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