The utility model provides a Hall film sample clamping structure, which comprises a PCB sample board and a golden finger card slot. One end of the PCB sample board is connected with a golden finger card slot. The upper surface of the other end of the PCB sample board is provided with four patch nuts and a film sample placing area, and the four patch nuts pass through four conductive wires respectively. The four corners of the film sample placed in the film sample placement area are correspondingly connected. The Hall film sample clamping structure replaces the existing probe as electrode by conductive wire, which effectively avoids the problem that the film layer of the Hall film sample is easy to be damaged in clamping and affects the measurement accuracy and stability, and is convenient to use.
【技术实现步骤摘要】
一种霍尔薄膜样品装夹结构
本技术属于半导体测试
，具体涉及一种霍尔薄膜样品装夹结构。
技术介绍
霍尔系数是了解半导体材料电学特性的一项重要参数，目前，在霍尔系数薄膜材料测量中，一般是将薄膜材料镀在矩形玻璃基底上形成一层薄膜层，并通过四个探针与薄膜层接触导电进行霍尔系数的测量；然而，由于薄膜材料镀在矩形玻璃基底上薄膜层很薄，在霍尔样品装夹中探针尖很容易划伤薄膜层露出基底，从而影响测量精度及稳定性，因此需设计一种新的针对薄膜样品测量的装夹方式。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有对于霍尔薄膜样品的霍尔系数测量中，薄膜层很薄，易被探针尖损坏而影响测量精度及稳定性的问题。为此，本技术提供了一种霍尔薄膜样品装夹结构，包括PCB样品板和金手指卡槽，所述PCB样品板一端与金手指卡槽连接，所述PCB样品板另一端的上表面上设有四个贴片螺母和薄膜样品放置区，四个所述贴片螺母分别通过四根导电线与放置在所述薄膜样品放置区的薄膜样品的四角一一对应连接。作为实施方式之一，四个所述贴片螺母与薄膜样品对应的四角之间的距离相等。作为实施方式之一，四个所述贴片螺母构成矩形，所述薄膜样品放置区位于该矩...
【技术保护点】
1.一种霍尔薄膜样品装夹结构，其特征在于：包括PCB样品板(2)和金手指卡槽(1)，所述PCB样品板(2)一端与所述金手指卡槽(1)连接，所述PCB样品板(2)另一端的上表面上设有四个贴片螺母(3)和薄膜样品放置区(4)，四个所述贴片螺母(3)分别通过四根导电线(5)与放置在所述薄膜样品放置区(4)的薄膜样品的四角一一对应连接。
【技术特征摘要】
1.一种霍尔薄膜样品装夹结构，其特征在于：包括PCB样品板(2)和金手指卡槽(1)，所述PCB样品板(2)一端与所述金手指卡槽(1)连接，所述PCB样品板(2)另一端的上表面上设有四个贴片螺母(3)和薄膜样品放置区(4)，四个所述贴片螺母(3)分别通过四根导电线(5)与放置在所述薄膜样品放置区(4)的薄膜样品的四角一一对应连接。2.如权利要求1所述的霍尔薄膜样品装夹结构，其特征在于：四个所述贴片螺母(3)与薄膜样品对应的四角之间的距离相等。3.如权利要求2所述的霍尔薄膜样品装夹结构，其特征在于：四个所述贴片螺...
【专利技术属性】
技术研发人员：缪向水，童浩，王愿兵，马国鹭，黄晖，雷永利，陈晓，张雨，乔伟，房山，林冲，
申请(专利权)人：武汉嘉仪通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北,42
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