一种适用于多种规格晶振的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种适用于多种规格晶振的测试装置，包括一个透明的可打开的测试盒，所述测试盒包括盒体和盖合在所述盒体上的盒盖，所述盒体内固定设置有一个测试基板，所述测试基板上设置有测试电路和测试插座，通过所述测试插座与测试插板上的测试插针组插接并且电连接，待测晶振插接在测试插板上，通过向所述测试电路供电即可对所述待测晶振的产生的源信号进行测试。本发明专利技术测试装置为多种规格的晶振测试提供了便携使用的统一平台，能保证晶振能够在一个相对恒温的测试环境中测试，解决现有技术中测试装置单一性、组件多、使用不便等问题。

A testing device suitable for various specifications of crystal oscillator

The invention discloses a testing device suitable for crystal oscillator of various specifications, including a transparent and open test box, the test box comprises a box body and a box cover closed on the box body, the box body is fixed with a test substrate, the test circuit and a test socket are arranged on the test substrate, and the test box passes through The test socket is connected with the test pin group on the test socket board and is electrically connected. The crystal oscillator to be tested is connected with the test socket board. The source signal of the crystal oscillator to be measured can be tested by supplying power to the test circuit. The testing device of the invention provides a portable and unified platform for testing crystal oscillator of various specifications, ensures that crystal oscillator can be tested in a relatively constant temperature testing environment, and solves the problems of single testing device, multiple components and inconvenience in use in the prior art.

【技术实现步骤摘要】
一种适用于多种规格晶振的测试装置
本专利技术属于晶振检测
，特别是涉及一种适用于多种规格晶振的测试装置。
技术介绍
晶振是晶体振荡器的简称，是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片)，在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件，该产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。因此，不同的晶振通常具有不同的规格，包括体积尺寸规格、供电电压规格等。当对多种规格的晶振测试时，需要提供一个便携化的测试装置，现有技术中的测试装置体积大、重量重、加电复杂，也不能适用于多种规格的晶振，并且也不能保证晶振能够在一个相对恒温的测试环境中测试，这是因为晶振测试条件均需要恒温，否则无法达到给定的指标。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种适用于多种规格晶振的测试装置，解决现有技术中测试装置单一性、组件多、使用不便等问题。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是提供一种适用于多种规格晶振的测试装置，所述测试装置包括一个透明的可打开的测试盒，所述测试盒包括盒体和盖合在所述盒体上的盒盖，所述盒体内固定设置有一个测试基板，所述测试基板上设置有测试电路和测试插座，通过所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括一个透明的可打开的测试盒，所述测试盒包括盒体和盖合在所述盒体上的盒盖，所述盒体内固定设置有一个测试基板，所述测试基板上设置有测试电路和测试插座，通过所述测试插座与测试插板上的测试插针组插接并且电连接，待测晶振插接在测试插板上，通过向所述测试电路供电即可对所述待测晶振的产生的源信号进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括一个透明的可打开的测试盒，所述测试盒包括盒体和盖合在所述盒体上的盒盖，所述盒体内固定设置有一个测试基板，所述测试基板上设置有测试电路和测试插座，通过所述测试插座与测试插板上的测试插针组插接并且电连接，待测晶振插接在测试插板上，通过向所述测试电路供电即可对所述待测晶振的产生的源信号进行测试。2.根据权利要求1所述的适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述盒体内还包括在对所述待测晶振加电测试时用于将所述待测晶振及测试插板盖入其中的透明盖罩。3.根据权利要求2所述的适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述测试基板上还开设有容纳放置所述透明盖罩的通孔。4.根据权利要求3所述的适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述测试基板还包括向测试电路供电的供电插座和所述待测晶振的信号输出插座，所述盒体的侧壁对应开设有供电插座开口和信号输出插座开口。5.根据权利要求4所述的适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，在所述盒体内的所述测试基板的上方设置有可取出的容纳板，所述容纳板内设置有用于放置电源模块的容纳腔。6.根据权利要求5所述的适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述盒盖的上表面设置有可折叠放置的把手。7.根据权利要求1至6任一项所述的适用于多种规格晶振的测试装置，其特征在于，所述测试电路包括电源滤波模块，来自所述供电插座的外部直流电压经过所述电源滤波模块后输出两路，其中第一路直通作为高电压通道，第二路经过串接的开关电源模块和LC储能电路作为低电压通道，所述高电压通...

【专利技术属性】
技术研发人员：张北江，赵陆文，徐萍，
申请(专利权)人：南京尤尼泰信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32