一种氦氖激光器模式分析实验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种氦氖激光器模式分析实验装置，所述实验平台上设有光学导轨，所述光学导轨上设有若干个与其相配合的滑动座，所述滑动座上依次设有CMOS相机、氦氖激光器、可变光阑、共焦球面干涉仪、准直镜、探测器，所述氦氖激光器的下方设有温度传感器，所述实验平台的内部设有锯齿波发生器、直流偏置电源和控制器，所述实验平台上设有开关和调节钮，所述温度传感器通过电线与控制器、开关、调节钮相连。本实用新型专利技术的有益效果是温度传感器实时监控激光器的温度，当温度升高有变化时，及时调整激光器的温度，避免产生误差，利用CMOS相机与探测器对于得出的频谱图与光斑图样，能够更加精确地鉴别分析数据，利用滑动座更便捷的调节位置，实验效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种氦氖激光器模式分析实验装置
本技术属于光学实验设备
，尤其是涉及一种氦氖激光器模式分析实验装置。
技术介绍
氦氖激光器由增益介质、光学谐振腔和激励能源组成，激光具有极好的方向性、单色性、相干性和极高的亮度。根据驻波条件，激光谐振腔每一种本征频率对应一种光场分布，叫做一种纵模模式，它描述轴向光场分布状态，然而纵模越多，单色性、相干性越差；谐振腔越短，纵模越少，单色性、相干性越好，因此在要求高单色性时，应尽量减少谐振腔长度，由于光的衍射造成的场横向分布用横模模式来描述，但是多横模却损害了激光器输出的良好方向性，对聚焦非常不利。在实际进行实验中，激光器内部的温度升高会由于热膨胀效应导致工作波长产生漂移，影响实验的数据，并且在进行实验中调节光学元件的调节性差，延长实验的时间，实验误差较大，得到的实验数据不精准，造成实验的结果不太好。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种结构简单、操作简单、不易受温度影响、实验误差小、实验效率高的氦氖激光器模式分析实验装置。本技术的技术方案是：一种氦氖激光器模式分析实验装置，包括实验平台，所述实验平台上设有光学导轨，所述光学导轨上设有若干个与其相配合的滑动座，所述滑动座上依次设有CMOS相机、氦氖激光器、可变光阑、共焦球面干涉仪、准直镜、探测器，所述氦氖激光器的下方设有温度传感器，所述实验平台的内部设有锯齿波发生器、直流偏置电源和控制器，所述实验平台上设有开关和调节钮，所述温度传感器通过电线与控制器、开关、调节钮相连。进一步，所述探测器为高速光电放大探测器。进一步，所述滑动座上设有二维调节架。进一步，所述氦氖激光器内有两支激光管。进一步，所述直流偏置电源的输出电压在0-250V连续可调，输出频率为20-510Hz。进一步，所述光学导轨的长度为1-1.5m。本技术具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，温度传感器实时监控激光器的温度，当温度升高有变化时，及时调整激光器的温度，避免产生误差，利用CMOS相机与探测器对于得出的频谱图与光斑图样，能够更加精确地鉴别分析数据，利用滑动座更便捷的调节位置，实验效果好。附图说明图1是本技术的结构示意图。图中：1、实验平台2、光学导轨3、滑动座4、CMOS相机5、氦氖激光器6、可变光阑7、共焦球面干涉仪8、准直镜9、探测器10、温度传感器11、开关12、调节钮具体实施方式下面结合附图对本技术做详细说明。如图1所示，本技术一种氦氖激光器模式分析实验装置，包括实验平台1，所述实验平台1上设有光学导轨2，所述光学导轨2上设有若干个与其相配合的滑动座3，所述滑动座3上依次设有CMOS相机4、氦氖激光器5、可变光阑6、共焦球面干涉仪7、准直镜8、探测器9，所述氦氖激光器5的下方设有温度传感器10，所述实验平台1的内部设有锯齿波发生器、直流偏置电源和控制器，所述实验平台1上设有开关11和调节钮12，所述温度传感器10通过电线与控制器、开关11、调节钮12相连。所述探测器9为高速光电放大探测器。所述滑动座3上设有二维调节架。所述氦氖激光器5内有两支激光管。所述直流偏置电源的输出电压在0-250V连续可调，输出频率为20-510Hz。所述光学导轨2的长度为1-1.5m。本实例的工作过程：在进行实验中，调节滑动座3的位置，对于每个光学元件进行位置移动，打开开关11后，调节电压及锯齿波发生器，利用CMOS相机对实验中的光斑图样进行记录，探测器9可以将实验对应的频谱图得出，在氦氖激光器5使用中，温度传感器10实时监控激光器的温度，避免由于温度的变化产生工作波长的漂移，影响实验数据的读取和光斑图的得出，降低了实验误差，使得实验能够更好的进行下去，得出较好的实验结果。以上对本技术的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本技术的实施范围。凡依本技术申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本技术的专利涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种氦氖激光器模式分析实验装置，其特征在于：包括实验平台(1)，所述实验平台(1)上设有光学导轨(2)，所述光学导轨(2)上设有若干个与其相配合的滑动座(3)，所述滑动座(3)上依次设有CMOS相机(4)、氦氖激光器(5)、可变光阑(6)、共焦球面干涉仪(7)、准直镜(8)、探测器(9)，所述氦氖激光器(5)的下方设有温度传感器(10)，所述实验平台(1)的内部设有锯齿波发生器、直流偏置电源和控制器，所述实验平台(1)上设有开关(11)和调节钮(12)，所述温度传感器(10)通过电线与控制器、开关(11)、调节钮(12)相连。

【技术特征摘要】
1.一种氦氖激光器模式分析实验装置，其特征在于：包括实验平台(1)，所述实验平台(1)上设有光学导轨(2)，所述光学导轨(2)上设有若干个与其相配合的滑动座(3)，所述滑动座(3)上依次设有CMOS相机(4)、氦氖激光器(5)、可变光阑(6)、共焦球面干涉仪(7)、准直镜(8)、探测器(9)，所述氦氖激光器(5)的下方设有温度传感器(10)，所述实验平台(1)的内部设有锯齿波发生器、直流偏置电源和控制器，所述实验平台(1)上设有开关(11)和调节钮(12)，所述温度传感器(10)通过电线与控制器、开关(11)、调节钮(12)相连。2....

【专利技术属性】
技术研发人员：王传龙，马学勇，王玉兴，
申请(专利权)人：伊普希龙天津科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12