一种基于可控硅的闭环检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种基于可控硅的闭环检测电路，包括主控电路，主控电路的输入端分别连接有监测电路和过零点检测电路，输出端连接有驱动电路，驱动电路的输出端连接有负载电路，过零点检测电路采集零点信号并发送至主控芯片，为可控硅Q15的导通提供标准，降低内部电路的故障率，监测电路监测负载电路中的负载电机，若负载在线，则发送检测信号至主控芯片，实现闭环检测；闭环检测电路可对两相步进电机、振荡器线圈等负载进行闭环检测，应用范围广，另外，该电路无需设计比较器和信号采集器，具有同样可靠性的同时合理地缩小电路结构的大小，降低生产的成本。

A closed loop detection circuit based on SCR

The utility model discloses a closed loop detection circuit based on SCR, including the main control circuit. The input end of the main control circuit is connected with a monitoring circuit and a zero crossing detection circuit respectively. The output terminal is connected with a driving circuit, the output end of the drive circuit is connected with a load circuit, and the zero crossing point detection circuit collects the zero point signal and sends it. The main control chip provides the standard for the conduction of the silicon controlled Q15, reduces the failure rate of the internal circuit, and monitors the load motor in the load circuit. If the load is on line, the detection signal is sent to the main control chip to realize closed loop detection, and the closed-loop detection circuit can be closed to the load of the two phase step motor and the oscillator coil. The loop detection has a wide range of applications. In addition, the circuit does not need to design a comparator and a signal collector. It has the same reliability and reduces the size of the circuit structure and reduces the cost of production.

【技术实现步骤摘要】
一种基于可控硅的闭环检测电路
本技术涉及一种检测电路，特别是一种基于可控硅的闭环检测电路。
技术介绍
随着社会的发展，人们对设备的性能要求越来越高，然而市面上许多的设备如组合秤，其内部电路的振动器驱动是采用开环控制方式，并不具备闭环检测和实时监控功能，不可对内部电路进行实时监控，当振动器线圈出现断路、接触不良或者过载烧坏等现象，不能给出反馈信息，让组合秤得到及时维修，很容易影响组合秤运转的性能,导致称重包装产生精度差，甚至会缩短组合秤的使用寿命，另一方面，若设备发生故障，则需要进行全面的检测和诊断，寻找故障的原因，极大地增加维修的时间和难度，同时，要求检修人员具备足够的经验和技能水平。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术提供一种电路结构简单、具有实时监测功能的基于可控硅的闭环检测电路。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于可控硅的闭环检测电路，包括主控电路，所述主控电路的输入端分别连接有监测电路和过零点检测电路，输出端连接有驱动电路，所述驱动电路的输出端连接有负载电路，所述主控电路采用的主控芯片型号为MB9AF111K，所述监测电路包括光耦合器U2、二极管D17、电阻R72和电阻R73；所述光耦合器U2的1端口连接所述二极管D17的负极，所述二极管D17的正极通过所述电阻R73接220V电压；所述光耦合器U2的3端口分两路，一路通过所述电阻R72接5V电压，另一路接所述主控芯片的42端口；所述光耦合器U2的4端口接地。所述驱动电路包括输出光耦U1、反相触发器A1、反相触发器A2、可控硅Q15、电阻R42、电阻R43和电阻R45；所述输出光耦U1的1端口通过所述电阻R45接5V电压；所述输出光耦U1的2端口依次通过所述反相触发器A1和反相触发器A2接所述主控芯片的44端口；所述输出光耦U1的3端口悬空；所述输出光耦U1的4端口通过所述电阻R43接220V电压；所述输出光耦U1的5端口分两路，一路接所述可控硅的G引脚，另一路通过所述电阻R42接所述可控硅Q15的T1引脚。所述负载电路包括负载电机B1、电容C20和电阻R41，所述电容C20的一端通过所述电阻R41接所述可控硅的T2引脚，另一端分三路，第一路通过所述负载电机接220电压，第二路接所述光耦合器U2的2端口，第三路接所述可控硅Q15与所述电阻R42间的节点。所述过零点检测电路包括光耦合器U3、反相触发器A3、连接器CON4、二极管D14、电容C36、电阻R44和电阻R46；所述光耦合器U3的1端口接所述二极管D14的负极；所述电阻R44一端接所述二极管D14的正极，另一端分三路，一路接所述可控硅Q15引脚T2与所述电阻R41间的节点，第二路接入220V电压，第三路接所述连接器CON4的3引脚；所述光耦合器U3的2端口分两路，一路接220V电压，另一路接所述连接器CON4的2引脚；所述光耦合器U3的3端口分两路，一路通过所述反相触发器A3接所述主控芯片的43端口，另一路依次通过所述电阻R46和电容C36接地；所述电阻R46与电容C36间的节点接入5V电压，所述光耦合器U3的4端口接地。本技术的有益效果是：本技术的包括主控电路，主控电路的输入端分别连接有监测电路和过零点检测电路，输出端连接有驱动电路，驱动电路的输出端连接有负载电路，过零点检测电路采集零点信号并发送至主控芯片，为可控硅Q15的导通提供标准，降低内部电路的故障率，监测电路监测负载电路中的负载电机，若负载在线，则发送检测信号至主控芯片，实现闭环检测；闭环检测电路可对两相步进电机、振荡器线圈等负载进行闭环检测，应用范围广，另外，该电路无需设计比较器和信号采集器，具有同样可靠性的同时合理地缩小电路结构的大小，降低生产的成本。附图说明下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1是本技术的电路原理图第一部分；图2是本技术的电路原理图第二部分。具体实施方式参照图1和图2，一种基于可控硅的闭环检测电路，包括主控电路，所述主控电路的输入端分别连接有监测电路和过零点检测电路，输出端连接有驱动电路，所述驱动电路的输出端连接有负载电路，以上电路的工作电源提供是本领域技术人员所熟知的技术手段，可设置由7805、74LVC245等转换芯片构成的开关电源电路，为闭环检测电路提供工作电源。所述主控电路采用的主控芯片型号为MB9AF111K。所述监测电路包括光耦合器U2、二极管D17、电阻R72和电阻R73；所述光耦合器U2的1端口连接所述二极管D17的负极，所述二极管D17的正极通过所述电阻R73接220V电压；所述光耦合器U2的3端口分两路，一路通过所述电阻R72接5V电压，另一路接所述主控芯片的42端口；所述光耦合器U2的4端口接地。所述电阻R73为限流电阻，避免过大的输入电流对光耦合器造成冲击，提高检测电路的稳定性。所述驱动电路包括输出光耦U1、反相触发器A1、反相触发器A2、可控硅Q15、电阻R42、电阻R43和电阻R45；所述输出光耦U1的型号为P560J，所述输出光耦U1的1端口通过所述电阻R45接5V电压；所述输出光耦U1的2端口依次通过所述反相触发器A1和反相触发器A2接所述主控芯片的44端口；所述输出光耦U1的3端口悬空；所述输出光耦U1的4端口通过所述电阻R43接所述220V电压；所述输出光耦U1的5端口分两路，一路接所述可控硅的G引脚，另一路通过所述电阻R42接所述可控硅Q15的T1引脚。所述负载电路包括负载电机B1、电容C20和电阻R41，所述电容C20的一端通过所述电阻R41接所述可控硅的T2引脚，另一端分三路，第一路通过所述负载电机接220电压，第二路接所述光耦合器U2的2端口，第三路接所述可控硅Q15与所述电阻R42间的节点。所述过零点检测电路包括光耦合器U3、反相触发器A3、连接器CON4、二极管D14、电容C36、电阻R44和电阻R46；所述光耦合器U3的1端口接所述二极管D14的负极；所述电阻R44一端接所述二极管D14的正极，另一端分三路，一路接所述可控硅Q15引脚T2与所述电阻R41间的节点，第二路接入220V电压，第三路接所述连接器CON4的3引脚；所述光耦合器U3的2端口分两路，一路接220V电压，另一路接所述连接器CON4的2引脚；所述光耦合器U3的3端口分两路，一路通过所述反相触发器A3接所述主控芯片的43端口，另一路依次通过所述电阻R46和电容C36接地；所述电阻R46与电容C36间的节点接入5V电压，所述光耦合器U3的4端口接地。上述过零点检测电路接入的220V交流电源可在所述连接器CON4接入。所述过零点检测电路采集输入交流电的频率，提取零点信号并发送至主控芯片，为可控硅Q15的导通提供标准，减小可控硅Q15的故障率，所述监测电路输入的交流电流经过所述R73电阻，正向导通D17二极管，驱动光耦合器U2，监测所述负载电路中的负载电机，若负载在线，则形成回路，光耦合器U2的光二极管工作，并在另一端产生50Hz的方波发送至主控芯片，主控芯片检测该信号,为负载实现闭环检测，负载电路中的负载电机为两相步进电机，该闭环检测电路的实际运用当中还可对振荡器线圈等其它领域的负载进行闭环检测，应用范围广，另外，该电路无需设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于可控硅的闭环检测电路，包括主控电路，其特征在于所述主控电路的输入端分别连接有监测电路和过零点检测电路，输出端连接有驱动电路，所述驱动电路的输出端连接有负载电路，所述主控电路采用的主控芯片型号为MB9AF111K，所述监测电路包括光耦合器U2、二极管D17、电阻R72和电阻R73；所述光耦合器U2的1端口连接所述二极管D17的负极，所述二极管D17的正极通过所述电阻R73接220V电压；所述光耦合器U2的3端口分两路，一路通过所述电阻R72接5V电压，另一路接所述主控芯片的42端口；所述光耦合器U2的4端口接地。

【技术特征摘要】
1.一种基于可控硅的闭环检测电路，包括主控电路，其特征在于所述主控电路的输入端分别连接有监测电路和过零点检测电路，输出端连接有驱动电路，所述驱动电路的输出端连接有负载电路，所述主控电路采用的主控芯片型号为MB9AF111K，所述监测电路包括光耦合器U2、二极管D17、电阻R72和电阻R73；所述光耦合器U2的1端口连接所述二极管D17的负极，所述二极管D17的正极通过所述电阻R73接220V电压；所述光耦合器U2的3端口分两路，一路通过所述电阻R72接5V电压，另一路接所述主控芯片的42端口；所述光耦合器U2的4端口接地。2.根据权利要求1所述的基于可控硅的闭环检测电路，其特征在于所述驱动电路包括输出光耦U1、反相触发器A1、反相触发器A2、可控硅Q15、电阻R42、电阻R43和电阻R45；所述输出光耦U1的1端口通过所述电阻R45接5V电压；所述输出光耦U1的2端口依次通过所述反相触发器A1和反相触发器A2接所述主控芯片的44端口；所述输出光耦U1的3端口悬空；所述输出光耦U1的4端口通过所述电阻R43接220V电压；所述输出光耦U1的5端口分两路，一路接所述可控硅的G引脚，另一路通过所述电阻R42接所述可控...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨志聪，伍晓锋，
申请(专利权)人：中山市康必威自动化机械有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44