The invention discloses a positioning device for measuring the wall thickness of a thin-walled tube, and a positioning method for the wall thickness of a thin-walled tube. The positioning device for measuring the wall thickness of the wall of the thin wall special-shaped tube includes a supporting beam, which is used for a tube cavity through a thin-walled and irregular tube; the inner support positioning rod is positioned on the support beam body through a fixed seat, and the inner supporting position rod is supported. The outer diameter is less than the inner diameter of the wave peak inner cavity on the wall of the thin wall special-shaped tube, the length of the inner support positioning rod is larger than the depth of the wave peak inner cavity, and the top of the inner support positioning rod is provided with a supporting part for supporting the inner wall of the wave peak. The invention has the advantages of convenient operation and improved measurement accuracy.
【技术实现步骤摘要】
薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置及其定位方法
本专利技术涉及机械加工
,特别是涉及一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置及其定位方法。
技术介绍
如图1a所示,待测的薄壁异形管3中心位置设有管腔,波峰14位于所述薄壁异形管3的外壁上,波峰14的内腔与所述的管腔相连通。以往测量薄壁异形管3的波峰14顶点壁厚是在其成形之前,用壁厚千分尺测量波峰位置车薄带的壁厚,但异形管的异形部位在成型过程中会受到较大的应力,壁厚会发生一定变化,因此管坯测量数据已不再适用。以往还通过破坏成型零件的办法,再用壁厚千分尺测量。在零件加工成形之后,由于薄壁异形管3的波峰14内空间尺寸较小,测量仪器无法直接接触到被测位置,因此,成型后薄壁异形管3的波峰14的顶点壁厚测量一直是一个难题。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术中存在的薄壁异形管的波峰顶点壁厚不易测量的问题,而提供一种薄壁异形管波峰壁厚测量用定位装置,以便利用三坐标测量机采点测量,从而计算得到壁厚。本专利技术的另一目的是针对现有技术中存在的薄壁异形管的波峰顶点内空间小,千分尺不易测量壁厚的问题,而提供一种薄壁异形管波峰壁厚测量用定位装置的定位方法,以便利用三坐标测量机测量波峰的壁厚。为实现本专利技术的目的所采用的技术方案是:一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置,包括:支撑梁体,用于穿过薄壁异形管的管腔;内支撑定位杆,底端通过固定座在支撑梁体上定位,所述内支撑定位杆的外径小于所述薄壁异形管侧壁上的波峰内腔的内径,所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰内腔的深度,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶 ...
【技术保护点】
1.一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置,其特征在于,包括:支撑梁体,用于穿过薄壁异形管的管腔;内支撑定位杆,底端通过固定座在支撑梁体上定位,所述内支撑定位杆的外径小于所述薄壁异形管侧壁上的波峰内腔的内径,所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰内腔的深度,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部。
【技术特征摘要】
1.一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置,其特征在于,包括:支撑梁体,用于穿过薄壁异形管的管腔;内支撑定位杆,底端通过固定座在支撑梁体上定位,所述内支撑定位杆的外径小于所述薄壁异形管侧壁上的波峰内腔的内径,所述内支撑定位杆的长度大于所述波峰内腔的深度,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰的内壁顶点的支撑部。2.如权利要求1所述的一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置,其特征在于,所述支撑部为球体,所述球体对所述波峰内腔的顶点形成支撑。3.如权利要求2所述的一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置,其特征在于,所述内支撑定位杆包括同轴心依次连接的下圆柱杆、圆台、圆锥柱体、上圆柱杆和所述的球体。4.如权利要求3所述的一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置,其特征在于,所述上圆柱杆的外径小于所述球体直径,长度大于所述波峰内腔的深度;所述圆锥柱体的顶端外径与所述上圆柱杆的外径相同,底端外径小于所述圆台的外径,所述圆台的外径大于所述下圆柱杆的外径,所述下圆柱杆与所述的固定座夹紧配合。5.如权利要求1所述的一种薄壁异形管波峰顶点壁厚测量用定位装置...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘红,付胜楠,曹昆武,姚江伟,张云江,王超,刘海梅,
申请(专利权)人:核工业理化工程研究院,
类型:发明
国别省市:天津,12
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。