显示面板和显示测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术的实施例公开了显示面板和显示测试装置。显示面板包括：阵列基板，位于阵列基板上的测试器件和连接状态检测器件。显示测试装置经由该测试器件对显示面板的像素单元进行测试，连接状态检测器件在对阵列基板进行测试时检测显示测试装置与阵列基板的连接状态。

【技术实现步骤摘要】
显示面板和显示测试装置
本专利技术涉及显示
，具体地，涉及显示面板和显示测试装置。
技术介绍
液晶显示器LCD具有低辐射、体积小及低耗能等优点，被广泛地应用在笔记本电脑、平面电视或移动电话等电子产品中。液晶显示器LCD包括多晶硅(Poly-Si)LCD和非晶硅(a-Si)LCD，两者的差异主要在于电晶体特性不同。多晶硅LCD可包括低温低位多晶硅晶体管(LTPS-TFT)LCD和高温多晶硅晶体管(HTPS-TFT)LCD。其中，LTPS-TFTLCD具有高分辨率、反应速度快、高亮度、高开口率等优点。由于LTPS-TFTLCD的硅结晶排列较a-Si有次序，使得电子移动率相对高100倍以上，可以将外围驱动电路同时制作在玻璃基板上，达到系统整合的目标、节省空间及驱动IC的成本。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种显示面板和显示测试装置。根据本专利技术的第一方面，提供了一种显示面板，包括：阵列基板；位于阵列基板上的测试器件，显示测试装置经由测试器件对显示面板的像素单元进行测试；位于阵列基板上的连接状态检测器件，连接状态检测器件用于在对显示面板进行测试时检测显示测试装置与阵列基板的连接状态。在本专利技术的实施例中，连接状态检测器件包括：第一检测衬垫，用于从显示测试装置接收检测信号；第二检测衬垫，用于向显示测试装置发送基于检测信号的反馈信号；以及导电部件，其将第一检测衬垫电耦接到第二检测衬垫。在本专利技术的实施例中，第一检测衬垫和/或第二检测衬垫作为阵列基板的对准标记。在本专利技术的实施例中，阵列基板还包括：衬底，第一绝缘层，位于衬底上；第一导电层，位于第一绝缘层上；第二绝缘层，位于导电层上，其中，第二绝缘层具有暴露第一导电层的第一开口和第二开口，其中，第一检测衬垫位于第二绝缘层上并经由第一开口连接到第一导电层，第二检测衬垫位于第二绝缘层上并经由第二开口连接到第一导电层，其中，第一导电层的位于第一检测衬垫和第二检测衬垫之间的部分构成导电部件。在本专利技术的实施例中，测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，测试器件还包括：第一晶体管，第一晶体管的控制极连接第一测试衬垫，第一极连接第二测试衬垫，第二极连接扫描信号线；第二晶体管，第二晶体管的控制极连接第三测试衬垫，第一极连接第四测试衬垫，第二极连接数据信号线；以及像素驱动晶体管，像素驱动晶体管的控制极连接扫描信号线，第一极连接像素单元的像素电极，第二极连接数据信号线。在本专利技术的实施例中，第一测试衬垫被配置为接收第一信号，第二测试衬垫被配置为接收第二信号，第三测试衬垫被配置为接收第三信号，第四测试衬垫被配置为接收放电电平。第一信号使第一晶体管导通，以将第二信号提供给像素驱动晶体管的控制极，以使得像素驱动晶体管导通，第三信号使第二晶体管导通，以向像素电极提供放电电平。根据本专利技术的第二方面，提供了一种显示测试装置。显示测试装置包括探头，探头具有连接状态检测探针和测试探针。在本专利技术的实施例中，连接状态检测探针从探头的表面突出的部分的长度小于测试探针从探头的表面突出的长度。在本专利技术的实施例中，测试探针沿突出方向可压缩。在本专利技术的实施例中，显示测试装置还包括限位部件，用于将探头固定到第一位置或第二位置，其中，在第一位置，连接状态检测探针和测试探针与待测试的显示面板接触；在第二位置，连接状态检测探针和测试探针与显示面板断开。在本专利技术的实施例中，显示测试装置包括阻尼部件，以便在探头在从第一位置变化到第二位置期间的中间位置提供阻尼，其中，在中间位置，连接状态检测探针与显示面板断开且测试探针与显示面板接触。在本专利技术的实施例中，显示测试装置还包括轮轴，探头附接到轮轴的周向表面。在本专利技术的实施例中，阻尼部件和限位部件包括位于轮轴的周向表面的凹槽，和对应于凹槽的凸起。根据本专利技术的第三方面，提供了一种使用本专利技术的第二方面的显示测试装置测试本专利技术的第一方面的显示面板的方法。在方法中，经由显示测试装置向显示面板的连接状态检测器件提供检测信号；确定是否接收到来自连接状态检测器件的反馈信号，当确定接收到反馈信号时，经由显示测试装置对显示面板进行测试；当确定未接收到反馈信号时，经由显示测试装置对显示面板进行放电。在本专利技术的实施例中，显示面板的测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，测试器件还包括：第一晶体管，其控制极连接第一测试衬垫，其第一极连接第二测试衬垫，其第二极连接扫描信号线；第二晶体管，其控制极连接第三测试衬垫，其第一极连接第四测试衬垫，其第二极连接数据信号线；以及像素驱动晶体管，其控制极连接扫描信号线，第一极连接像素单元的像素电极，第二极连接数据信号线。进行放电包括：向第一测试衬垫提供第一信号，向第二测试衬垫提供第二信号，向第三测试衬垫提供第三信号，向第四测试衬垫提供放电电平，其中，第一信号使第一晶体管导通，以将第二信号提供给像素驱动晶体管的控制极，以使得像素驱动晶体管导通，第三信号使第二晶体管导通，以向像素电极提供放电电平。由上所述，根据本专利技术实施例提供的显示面板能够快速地检测其与显示测试装置的分离，从而有利于后续工序，如放电电路的及时启用，以对残留的像素电荷进行放电。附图说明为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施例的附图进行简单说明。应当知道，以下描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，而非对本专利技术的限制，其中：图1示出了一种采用显示测试装置对显示面板进行测试的示意图；图2示出了根据本专利技术的实施例的显示面板的示意图；图3示出了根据本专利技术的实施例的显示面板的示意图；图4示出了根据本专利技术的实施例的显示面板的一部分的截面示意图；图5示出了根据本专利技术的实施例的放电电路的示意图；图6示出了根据本专利技术的一个实施例的显示测试装置的示意图；图7示出了根据本专利技术的另一实施例的显示测试装置的示意图；图8a-8c示出了采用根据本专利技术的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试的示意图；图9示出了根据本专利技术的实施例的显示面板的测试信号的时序图；图10示出了采用根据本专利技术的实施例的显示测试装置对显示面板进行测试的方法的流程图。具体实施方式为了使本专利技术的实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本专利技术的实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而并非全部的实施例。基于所描述的实施例，本领域的普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，也都属于本专利技术的范围。在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的机或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“耦接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面结合附图和实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板，包括：阵列基板；位于所述阵列基板上的测试器件，显示测试装置经由所述测试器件对所述显示面板的像素单元进行测试；位于所述阵列基板上的连接状态检测器件，所述连接状态检测器件用于在对所述显示面板进行测试时检测所述显示测试装置与所述阵列基板的连接状态。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括：阵列基板；位于所述阵列基板上的测试器件，显示测试装置经由所述测试器件对所述显示面板的像素单元进行测试；位于所述阵列基板上的连接状态检测器件，所述连接状态检测器件用于在对所述显示面板进行测试时检测所述显示测试装置与所述阵列基板的连接状态。2.根据权利要求1所述的显示面板，其中，所述连接状态检测器件包括：第一检测衬垫，用于从所述显示测试装置接收检测信号；第二检测衬垫，用于向所述显示测试装置发送基于所述检测信号的反馈信号；以及导电部件，其将所述第一检测衬垫电耦接到所述第二检测衬垫。3.根据权利要求2所述的显示面板，其中，所述第一检测衬垫和/或所述第二检测衬垫作为所述阵列基板的对准标记。4.根据权利要求2或3所述的显示面板，其中，所述阵列基板还包括：衬底，第一绝缘层，位于所述衬底上；第一导电层，位于所述第一绝缘层上；第二绝缘层，位于所述导电层上，其中，所述第二绝缘层具有暴露所述第一导电层的第一开口和第二开口，其中，所述第一检测衬垫位于所述第二绝缘层上并经由所述第一开口连接到所述第一导电层，所述第二检测衬垫位于所述第二绝缘层上并经由所述第二开口连接到所述第一导电层，其中，所述第一导电层的位于所述第一检测衬垫和所述第二检测衬垫之间的部分构成所述导电部件。5.根据权利要求1至4中任一项所述的显示面板，其中，所述测试器件包括：第一测试衬垫、第二测试衬垫、第三测试衬垫和第四测试衬垫，其中，所述测试器件还包括：第一晶体管，所述第一晶体管的控制极连接第一测试衬垫，第一极连接第二测试衬垫，第二极连接扫描信号线；第二晶体管，所述第二晶体管的控制极连接第三测试衬垫，第一极连接第四测试衬垫，第二极连接数据信号线；以及像素驱动晶体管，所述像素驱动晶体管的控制极连接所述扫描信号线，第一极连接所述像素单元的像素电极，第二极连接所述数据信号线。6.根据权利要求5所述的显示面板，其中，所述第一测试衬垫被配置为接收第一信号，所述第二测试衬垫被配置为接收第二信号，所述第三测试衬垫被配置为接收第三信号，所述第四测试衬垫被配置为接收放电电平，其中，所述第一信号使所述第一晶体管导通，以将所述第二信号提供给所述像素驱动晶体管的控制极，以使得所述像素驱动晶体管导通，所述第三信号使所述第二晶体管导通，以向所述像素电极提供放电电平。7.一种显示测试装置，所述显示测试装置包括探头，其中，所述探头具有连接状态检测探针和测试探针。8.根据权利要求7所述的显...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙世成，田建飞，王志强，胡双，霍培荣，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11