一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法和装置，该方法通过将原子力显微镜和阻抗测试仪联合使用，使得原子力显微镜在测量形貌的同时，也可以得到表面微观结构上的交流阻抗信息。所述的测试装置基于法拉第屏蔽箱、原子力显微镜、阻抗测试仪，将待测样品作为工作电极、原子力显微镜的导电探针作为对电极实现；本发明专利技术的方法及装置可以适用于各种材料，如Nafion膜，采用本发明专利技术可以得到常规方法无法获取的其微观界面上纯的离子导电信号，这有助于对Nafion膜的微观性质如不同位置的离子电导率的深入理解，从而对于Nafion膜的性能做出评价和改进建议。

【技术实现步骤摘要】
一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法及装置
本专利技术属于阻抗测试
，涉及原子力显微镜表面阻抗成像测试技术的开发，尤其涉及一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法及装置。
技术介绍
原子力显微镜(atomicforcemicroscope，AFM)可以通过探针与被测样品之间微弱的相互作用力来获得材料表面结构的信息，其分辨率能够达到纳米级别。交流阻抗谱(impedancespectroscopy，IS)是常用的一种电化学测试技术，该方法具有频率范围广、对体系扰动小的特点，是研究电极过程动力学、电极表面现象以及测定固体电解质电导率的重要工具。例如在燃料电池中，交流阻抗谱的应用可以识别出各种电压损失的不同原因，例如欧姆损失，电极反应速率缓慢导致的过电势损失以及传质造成的影响。尽管如此，常规的交流阻抗谱只能测试得到样品的平均的系统结果，无法分辨出更加微观的结构，也无法分析样品的微观性质。因此，开发一种微观尺度上的交流阻抗谱分析方法对于各种材料的研究和改进都至关重要。本专利技术通过将原子力显微镜和电化学工作站联用的方法，开发出了表面微观结构上的交流阻抗的测试方法，这种测试方法的开本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法，其特征在于，该方法通过原子力显微镜和阻抗测试仪联合用于测量表面微观结构的交流阻抗并成像。

【技术特征摘要】
1.一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法，其特征在于，该方法通过原子力显微镜和阻抗测试仪联合用于测量表面微观结构的交流阻抗并成像。2.根据权利要求1所述的基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法，其特征在于，以待测样品作为工作电极，将原子力显微镜的导电探针作为对电极，通过原子力显微镜向阻抗测试仪发出直流电压信号控制阻抗测试仪测试样品微观结构的交流阻抗。3.根据权利要求1所述的基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试方法，其特征在于，所述的阻抗测试仪采用电化学工作站。4.一种基于原子力显微镜的表面阻抗成像测试装置，其特征在于，包括法拉第屏蔽箱、原子力显微镜、阻抗测试仪；所述的法拉第屏蔽箱接地，...

【专利技术属性】
技术研发人员：和庆钢，王晓江，雷涛，杨厚华，练健，赵晶，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：浙江,33