光信息记录介质以及再生方法技术

一种光信息记录介质以及再生方法。在将根据从第1坑点串的最长坑点(P1max)或最长间隙(S1max)获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从第2坑点串的最长坑点(P2max)或最长间隙(S2max)获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，第1坑点串被形成为第1反射率与第2反射率大致相同。

【技术实现步骤摘要】
光信息记录介质以及再生方法本申请是申请日为2014年04月08日、申请号为201480031827.7、专利技术名称为“光信息记录介质、再生方法以及再生装置”的专利技术专利申请的分案申请。
本专利技术涉及能够记录信息的光信息记录介质及其再生方法和再生装置。
技术介绍
近年，为了保存高画质影像等的大量信息，要求光信息记录介质的大容量化，即，要求提高记录密度。为此，提出了超分辨率技术，其中，使通过包含具有比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点的坑点串而高密度记录了信息的光信息记录介质(超分辨率介质)，以高于使通过由不包含具有上述光学系统分辨率限度以下的长度的坑点的坑点构成的坑点串而记录了信息的光信息记录介质(通常介质)进行再生时的再生光强度(再生激光功率)的再生光强度，来进行再生。此外，在将再生装置所射出的再生光的波长设为λ、将物镜的数值孔径设为NA的情况下，光学系统超分辨率限度为λ/4NA。作为上述超分辨率介质的例子，可列举专利文献1。在专利文献1中公开了下述光信息记录介质，其中分配有：通过包含比光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点(凹以及/或者凸)而记录了内容的第1区域；和通过坑点而记录了用于确定介质的种类的介质识别信息的第2区域。另外，在该光信息记录介质中，形成上述介质识别信息的坑点以光学系统分辨率限度的长度以上的长度来形成。由此，在进行超分辨率介质的介质识别时，能够以适合通常介质的信息再生的再生激光功率而识别出为超分辨率介质。在先技术文献专利文献专利文献1：国际公开第2007/100139号(2007年9月7日公开)
技术实现思路
专利技术所要解决的课题然而，在专利文献1的光信息记录介质中，第1区域中形成的坑点的长度以及坑点间隔与第2区域中形成的坑点的长度以及坑点间隔彼此不同。即，在第1区域中的信息的记录密度与第2区域中的信息的记录密度之间产生了差异。该情况下，在从第1区域获得的反射率与从第2区域获得的反射率之间，有可能产生再生装置无法将这些反射率视为大致相同的差异。在产生了该差异的情况下，当一个区域的信息再生和另一个区域的信息再生被连续进行时，有可能在另一个区域中发生焦点偏移等现象。本专利技术正是鉴于上述问题点而实现的，其目的在于实现能够提高信息的再生质量的光信息记录介质、以及能够使该光信息记录介质进行再生的再生装置等。用于解决课题的手段为了解决上述课题，本专利技术的一方式所涉及的光信息记录介质具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串被形成为上述第1反射率与上述第2反射率大致相同。专利技术效果根据本专利技术的一方式，具有能够提高信息的再生质量的效果。附图说明图1是用于说明本专利技术的一实施方式所涉及的超分辨率介质的坑点的形状的图，(a)是表示数据区域中的坑点形状的一例的图，(b)是表示从照射到(a)所示的包含最长间隙的单点划线内的再生光而获得的信号强度的图。图2是表示上述超分辨率介质的外观的立体图。图3是表示上述超分辨率介质中的基板的主要部分构成的俯视图。图4是表示上述超分辨率介质的构造的剖视图。图5是表示上述超分辨率介质所具备的坑点的极性的图。图6是表示上述超分辨率介质的一实施例的图，(a)是表示向介质信息区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图，(b)是表示向数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图。图7是表示作为上述超分辨率介质的比较例的超分辨率介质的外观的立体图。图8是表示作为上述比较例的超分辨率介质中的基板的主要部分构成的俯视图。图9是表示向作为上述比较例的超分辨率介质的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光L的状态的图。图10是表示与上述超分辨率介质相关的一实验例的实验结果的图。图11是表示与上述超分辨率介质相关的一实验例的实验结果的图。图12是表示本专利技术的另一实施方式所涉及的超分辨率介质的一实施例、和该超分辨率介质的比较例的图，(a)是表示向上述一实施例中的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图，(b)是表示向上述比较例中的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光L的状态的图。图13是表示与上述超分辨率介质相关的一实验例的实验结果的图。图14是表示本专利技术的又一实施方式所涉及的超分辨率介质所具备的坑点的极性的图。图15是表示上述超分辨率介质的一实施例的图，(a)是表示向介质信息区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图，(b)是表示向数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图。图16是表示向本专利技术的又一实施方式所涉及的超分辨率介质的一实施例中的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图。图17是表示本专利技术的又一实施方式所涉及的再生装置的一例的框图。图18是表示上述再生装置的信号处理电路/控制部的简要构成的一例的框图。图19(a)是表示使通常介质以适合通常介质的再生时钟进行采样，并进行了PRML解码的情况下的坑点与输出信号的关系的图，(b)是表示使通常介质以适合超分辨率介质的再生时钟进行采样，并进行了PRML解码的情况下的坑点与输出信号的关系的图。具体实施方式〔实施方式1〕关于本专利技术的一实施方式所涉及的光信息记录介质，利用图1～图11来进行如下说明。此外，在本实施方式中，将为再生专用介质且具有剖面构造为BD(Blu-rayDisc(蓝光光盘)：注册商标)类型的超分辨率区域的光信息记录介质(以下作为超分辨率介质1)作为例子来进行说明，但并不限定于此。作为超分辨率介质1，例如也可以是能够进行信息的记录的光信息记录介质，还可以是DVD类型。〔超分辨率介质1的构造〕图2表示了本实施方式所涉及的超分辨率介质1的外观。如图2所示，作为圆盘状的介质的超分辨率介质1，具有预先被分配了记录有例如影像、软件等内容的数据区域2(第1区域)、和记录有例如与超分辨率介质1有关的信息的介质信息区域3(第2区域)的记录层。另外，图3放大表示了图2所示的超分辨率介质1的a部。如图3所示，在数据区域2以及介质信息区域3中，形成有：多个坑点P1(第1坑点串的坑点)、坑点P2(第2坑点串的坑点)、和分别形成在该坑点P1间、坑点P2间的多个间隙S1(第1间隙)、间隙S2(第2间隙)，使得每隔给定的轨道间距TpD、TpR(给定的间隔)而在周向上成串。换而言之，在数据区域2中，由坑点P1以及间隙S1形成了第1坑点串，在介质信息区域3中，由坑点P2以及间隙S2形成了第2坑点串。在数据区域2以及介质信息区域3的信息记录中，采用了能够利用形状以及大小不同的坑点P1、P2以及间隙S1、S2来记录信息的标记边缘记录方式。在本实施方式中，利用了其中的被称为1-7PP(1-7ParityPreserve/ProhibitRMTR(RepeatedMinimumTransitio本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光信息记录介质，具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，所述光信息记录介质的特征在于，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串以与上述第2坑点串的形成条件不同的形成条件被形成，使得上述第1反射率与上述第2反射率大致相同，在上述第2区域记录有用于识别介质的介质识别信息。

【技术特征摘要】
2013.06.07 JP 2013-1209581.一种光信息记录介质，具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，所述光信息记录介质的特征在于，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串以与上述第2坑点串的形成条件不同的形成条件被形成，使得上述第1反射率与上述第2反射率大致相同，在上述第2区域记录有用于识别介质的介质识别信息。2.一种光信息记录介质，由再生光的波长为405nm、物镜的数...

【专利技术属性】
技术研发人员：中峻之，山田博久，山本真树，田岛秀春，小西正人，
申请(专利权)人：夏普株式会社，忆术控股股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP