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一种新型薄膜电弱点测试仪制造技术

技术编号:18424931 阅读:29 留言:0更新日期:2018-07-12 01:40
一种新型薄膜电弱点测试仪,包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面底板(1)上的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)。本发明专利技术既可以测试直径较小的试样膜卷,又可以测试直径较大成品膜卷,仪器用途更广。

A new thin film electric weakness tester

A new thin film electric weakness tester, including a floor (1), a pair of large film roll support (7) fixed on the back floor (1) of the test chamber of a small film roll, a transition roll (4) set in the test chamber of the small film roll and the rear wall (2) of the small film roll test chamber (2), is provided for the window (3) for the entry of large film film. The invention can not only test the film rolls with smaller diameters, but also test the bigger film rolls with larger diameters, and the instrument has wider uses.

【技术实现步骤摘要】
一种新型薄膜电弱点测试仪
本专利技术涉及一种测试电气用塑料薄膜电气性能的电弱点测试仪,具体地说就是一种新型薄膜电弱点测试仪。
技术介绍
现有的电气用塑料薄膜电弱点测试仪一般包括试样辊、导电橡胶板(接高压正极),电极辊(接地,高压负极亦接地)、收卷辊,电极辊前端至少设置有一个橡胶展平辊,电极辊后端至少设置有一个金属导向辊,以及控制部分构成。其工作原理是当收卷辊带动试样辊上的一定宽度的薄膜经过电极辊,设置在电极辊上端一定宽度的等电位的导电橡胶板柔性与薄膜呈横向线接触,将电压施加到薄膜上。导电橡胶板(高压正极)、移动的薄膜、电极辊(高压负极亦即接地)即构成了一个高压回路,此高压回路的漏电流随移动的薄膜而变,当薄膜某处有弱点(瑕疵)时,此高压回路的漏电流会突变,在高压回路中采集到这种突变的漏电流亦即测试到薄膜电弱点。CN201017020Y公开的就是这样一种电气用塑料薄膜电弱点测试仪。为消除收卷辊膜卷静电CN203587622U公开了一种可消除静电的薄膜电弱点测试仪。为了测试时薄膜展平效果好,CN203587744U公开了这样一种电气用塑料薄膜电弱点测试仪。但这几种仪器的使用条件都是必须先分切一卷直径较小的试样膜卷,然后人工将试样膜卷架上测试腔内的试样辊上去。实际生产中,成品膜卷直径很大,重量达150KG,该类仪器都无法完成对成品膜卷进行电弱点测试,因此均存在明显的使用局限性。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足,提供一种新型薄膜电弱点测试仪,既可以测试直径较小的试样膜卷,又可以测试直径较大成品膜卷,仪器用途更广。技术方案:一种新型薄膜电弱点测试仪,包括底板、固设在小膜卷测试腔背面底板上的一对大膜卷辊支架、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊以及小膜卷测试腔后壁开设的供大膜卷薄膜进入的窗口。进一步的,所述底板在大膜卷辊下方开设有供运送大膜卷辊升降小车进出的开口;进一步的,所述一对大膜卷辊支架的任一侧支架上设有磁粉制动器,大膜卷辊通过转轴与磁粉制动器连轴端同轴活动连接;进一步的,所述过渡辊设置在测试腔内展平辊后侧上方,其与试样膜卷辊转轴水平方向距离至少250mm,可确保在小膜卷测试时试样薄膜不与其碰触;进一步的,所述后壁窗口为长方形,其垂直向中心线基准高度至少高于大膜卷辊轴心基准高度,优选的,所述后壁窗口长度为920mm,满足最宽的大膜卷测试要求,窗口高度为200mm,满足大膜卷测试时:膜卷直径最大时薄膜不与窗口上端接触,膜卷直径最小时薄膜不与窗口下端接触。综上所述本专利技术的有益效果:1.当进行小膜卷测试时,可在仪器测试腔内进行,试样膜卷(小膜卷)上薄膜不经过测试腔内过渡辊,直接经展平辊至收卷辊;2.当进行大膜卷测试时,大膜卷上薄膜由测试腔后壁开设的窗口进入,经过测试腔内过渡辊引导,然后经展平辊至收卷辊。本专利技术既可以测试直径较小的试样膜卷,又可以测试直径较大成品膜卷,仪器用途更广。附图说明:图1为本专利技术主视图。图2为本专利技术后视图。图3为本专利技术俯视图。其中,1底板,2后壁,3窗口,4过渡辊,5大膜卷,6小膜卷,7大膜卷辊支架,8磁粉制动器,9转轴,10开口。具体实施方式:如图1-3所示,一种新型薄膜电弱点测试仪,包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面底板(1)上的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)。所述底板(1)在大膜卷辊下方开设有供运送大膜卷辊升降小车进出的开口(10)。所述一对大膜卷辊支架(7)的任一侧支架上设有磁粉制动器(8),大膜卷辊通过转轴(9)与磁粉制动器(8)连轴端同轴活动连接;磁粉制动器(8)的设置,可提高大膜卷(5)测试时薄膜的展平效果。所述过渡辊(4)设置在测试腔内展平辊后侧上方,其与试样膜卷辊转轴水平方向距离至少250mm,可确保在小膜卷(6)测试时试样薄膜不与其碰触。所述后壁(2)上的窗口(3)为长方形,其垂直向中心线基准高度至少高于大膜卷辊轴心基准高度,这样可保证大膜卷(5)上薄膜大致呈水平状进入窗口(3)。所述后壁(2)上的窗口(3)长度为920mm,这样设置满足最宽的大膜卷(5)测试要求,窗口高度为200mm,这样设置满足大膜卷(5)测试时:膜卷直径最大时薄膜不与窗口(3)上端接触,膜卷直径最小时薄膜不与窗口(3)下端接触。上述一种新型薄膜电弱点测试仪是这样工作的:1.小膜卷测试时,小膜卷(6)上的薄膜走膜路径与现有的电弱点测试仪一样,小膜卷(6)上的薄膜不经过过渡辊,直接经展平辊至收卷辊;2.当测试大膜卷(5)时,切断小膜卷(6)上的薄膜,移走试样辊上小膜卷(6),将装好大膜卷(5)的大膜卷辊用升降小车沿底板(1)的开口(10)处推入到大膜卷辊支架(7)处并放入,将大膜卷(5)上的薄膜从后壁(2)的窗口(3)引入,经过过渡辊(4)引导后再经过展平辊至收卷辊;3.依此类推,当再次测试小膜卷(6)时,移走大膜卷辊上大膜卷(5)及薄膜,重新将小膜卷(6)薄膜直接经展平辊至收卷辊。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型薄膜电弱点测试仪,包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面底板上(1)的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)。

【技术特征摘要】
1.一种新型薄膜电弱点测试仪,包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面底板上(1)的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)。2.根据权利要求1所述的一种新型薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述底板(1)在大膜卷辊下方开设有供运送大膜卷辊升降小车进出的开口(10)。3.根据权利要求1所述的一种新型薄膜电弱点测试仪,其特征是:所述一对大膜卷辊支架(7)的任一侧支架上设有磁粉制动器(8),大膜卷辊通过转...

【专利技术属性】
技术研发人员:钱锦绣
申请(专利权)人:钱立文
类型:发明
国别省市:安徽,34

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