【技术实现步骤摘要】
高效紫外激发荧光测量装置
本专利技术涉及光谱检测技术,特别是涉及一种高效紫外激发荧光测量装置的技术。
技术介绍
入射光子将电子激发到一个高能态,高能态电子通过无辐射跃迁到第一电子激发态,再由第一电子激发态跃迁至基态时,会发射出光子,其能量比入射光小,波长比入射光长,该过程即被称为荧光现象,所发射的光称为荧光。现有荧光光谱测量系统一般包括激发光源,光回收模块,光谱仪。其中激发光源用于发射激发光,激发光直接或者被透镜聚焦后照射到被测样品表面,使样品产生荧光,光回收模块收集样品被激发出的荧光信号后传输到光谱仪,光谱仪用来色散荧光信号,探测不同波长处荧光信号强度。现有荧光光谱测量系统的缺陷在于:通常样品受激发面积大,荧光信号的发射面也相对较大,即使采用了较大数值孔径的透镜,被光谱仪能有效接收的光信号也很少,探测效率很低。
技术实现思路
针对上述现有技术中存在的缺陷,本专利技术所要解决的技术问题是提供一种探测效率高的高效紫外激发荧光测量装置。为了解决上述技术问题,本专利技术所提供的一种高效紫外激发荧光测量装置,包括紫外激发光源、光收集模块、光纤光谱仪,其特征在于:所述光收集模块包括耦合透镜、滤光片、多芯光纤;所述光纤光谱仪包括狭缝器件、凹面反射光栅、图像传感器;该系统的光路结构为:从紫外激发光源出发,依次经耦合透镜、滤光片、多芯光纤射入狭缝器件,再穿过狭缝器件后射向凹面反射光栅,再由凹面反射光栅反射至图像传感器;所述多芯光纤在入射端的纤芯为多芯圆对称布设,多芯光纤在出射端的纤芯为多芯依序直线排布,并且其排布方向与狭缝器件的狭缝长度方向一致。本专利技术提供的高效紫外激发荧 ...
【技术保护点】
1.一种高效紫外激发荧光测量装置,包括紫外激发光源、光收集模块、光纤光谱仪,其特征在于:所述光收集模块包括耦合透镜、滤光片、多芯光纤;所述光纤光谱仪包括狭缝器件、凹面反射光栅、图像传感器;该系统的光路结构为:从紫外激发光源出发,依次经耦合透镜、滤光片、多芯光纤射入狭缝器件,再穿过狭缝器件后射向凹面反射光栅,再由凹面反射光栅反射至图像传感器;所述多芯光纤在入射端的纤芯为多芯圆对称布设,多芯光纤在出射端的纤芯为多芯依序直线排布,并且其排布方向与狭缝器件的狭缝长度方向一致。
【技术特征摘要】
1.一种高效紫外激发荧光测量装置,包括紫外激发光源、光收集模块、光纤光谱仪,其特征在于:所述光收集模块包括耦合透镜、滤光片、多芯光纤;所述光纤光谱仪包括狭缝器件、凹面反射光栅、图像传感器;该系统的光路结构为:从紫外激发光源出发,依次经耦...
【专利技术属性】
技术研发人员:吕超,孙健慧,于永爱,陈娟,詹德坚,郑宜报,
申请(专利权)人:上海如海光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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