一种面板的测量装置制造方法及图纸

技术编号:18308546 阅读:21 留言:0更新日期:2018-06-28 18:15
本实用新型专利技术属于测量工具领域,具体涉及一种面板的测量装置,装置包括:平台及设置于平台上的第一测量尺A、第二测量尺B和活动测量尺C,其中,第一测量尺A和第二测量尺B固接于平台上,活动测量尺C具有通孔可以使第二测量尺B穿过且活动测量尺C可以沿着第二测量尺B水平移动;第一测量尺A、第二测量尺B和活动测量尺C的表面沿长度方向和内侧沿垂直方向均具有刻度。本实用新型专利技术的测量装置可以提高测量效率,节省时间成本,还可以减少因直尺测量误差较大而导致不良品投入的风险,节省了生产成本。此外,该装置还可以方便测量不同大小的面板的尺寸、角度和翘曲。

【技术实现步骤摘要】
一种面板的测量装置
本技术属于测量工具领域,具体涉及一种面板的测量装置。
技术介绍
偏光板是液晶显示器的关键零组件,占液晶显示器材料成本约6%~18%,被视为面板材料中仅次于背光模组及彩色滤光片的重要材料。随着液晶屏幕的可视面积越来越大,所要求的对比度也增加,导致其所需要的偏光板的质量也要有所提高,这样的液晶屏幕需要厚度较薄的偏光板来使其质量变得轻薄。当偏光板变薄后,就会出现一些例如翘曲等问题。因此,使偏光板的翘曲可控成为一大难题。请参见图1,图1为现有技术提供的一种测量偏光板翘曲的方法示意图,目前行业内,偏光板尺寸角度和翘曲的测量没有测量装置,都是用直尺或者角规进行测量。现有技术测量偏光板尺寸角度和翘曲的方法有以下缺点:1、用直尺或者角规测量所需尺寸时,效率低,浪费时间;2.用直尺或者角规测量翘曲时,由人为控制与台面的垂直,所以误差较大。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的上述问题,本技术提供了一种面板的测量装置。本技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现:一种面板的测量装置,包括:平台及设置于所述平台上的第一测量尺A、第二测量尺B和活动测量尺C,其中,所述第一测量尺A和所述第二测量尺B固接于所述平台上,所述活动测量尺C具有通孔可以使所述第二测量尺B穿过且所述活动测量尺C可以沿着所述第二测量尺B水平移动;所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C的表面沿长度方向和内侧沿垂直方向均具有刻度。上述的测量装置,所述第一测量尺A和所述第二测量尺B相互垂直,所述第二测量尺B和所述活动测量尺C相互垂直。上述的测量装置,所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C的表面均设置有螺旋测微头,所述螺旋测微头可以沿着所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C移动。上述的测量装置,还包括活动支撑板和滑轨,所述活动测量尺C固接于所述活动支撑板且通过所述活动支撑板沿着所述滑轨移动。上述的测量装置,还包括活动量角器,所述活动量角器包括依次活动连接的第一活动杆H、第二活动杆E、第三活动杆G和量角器,所述活动量角器可以放置于所述活动测量尺C的内部凹槽内。上述的测量装置,所述第一活动杆H、所述第二活动杆E、所述第三活动杆G和所述量角器均用滚珠连接。上述的测量装置,所述平台设置背光灯,用于测量面板的角度。上述的测量装置,所述面板为偏光板。与现有技术相比,本技术的有益效果:1.本技术的测量装置可以提高效率,节省时间成本,在来料检查翘曲和尺寸或者抽检时都可以方便使用。2.本技术的测量装置可以减少因直尺或角规测量误差较大而导致不良品投入的风险,节省了生产成本。3.本技术的测量装置可以方便测量不同大小的面板的尺寸、角度和翘曲,无需单独再使用其它工具。以下将结合附图及实施例对本技术做进一步详细说明。附图说明图1是现有技术提供的一种测量偏光板翘曲的方法示意图;图2是本技术实施例提供的一种面板测量装置的结构俯视示意图;图3是本技术实施例提供的一种面板测量装置的结构侧视示意图;图4是本技术实施例提供的一种面板测量装置的第二测量尺B与活动测量尺C的结构示意图;图5是本技术实施例提供的一种面板测量装置的一种翘曲测量示意图;图6是本技术实施例提供的一种面板测量装置的螺旋测微头的示意图;图7是本技术实施例提供的一种面板测量装置的活动量角器的结构示意图;图8是本技术实施例提供的一种面板测量装置的放置活动量角器的凹槽示意图;图9是本技术实施例提供的一种面板测量装置的偏光板角度计算的原理示意图。具体实施方式为进一步阐述本技术达成预定目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及实施例对本技术的具体实施方式、结构特征及其功效,详细说明如下。实施例1:请参见图2和图3,图2是本技术实施例提供的一种面板测量装置的结构俯视示意图,图3是本技术实施例提供的一种面板测量装置的结构侧视示意图,该面板的测量装置,包括:平台及设置于所述平台上的第一测量尺A、第二测量尺B和活动测量尺C,其中,所述第一测量尺A和所述第二测量尺B固接于所述平台上,所述活动测量尺C具有通孔可以使所述第二测量尺B穿过且所述活动测量尺C可以沿着所述第二测量尺B水平移动;所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C的表面沿长度方向和内侧沿垂直方向均具有刻度。本实施例,通过采用三种测量尺集成在同一平台上用于测量面板,可以提高效率,节省时间成本,在来料检查翘曲和尺寸或者抽检时都可以方便使用,另外还可以减少因直尺测量误差较大而导致不良品投入的风险,节省了生产成本。同时由于测量尺C可以沿着测量尺B水平移动,其可以方便测量不同大小的面板的尺寸和翘曲。实施例2:与上述实施例不同之处,在于本实施例对上述实施例进行了更详细的说明,本实施例以偏光板的测量为例进行详细描述。本实施例的一种面板的测量装置,包括:平台及设置于所述平台上的第一测量尺A、第二测量尺B和活动测量尺C,其中,请再次参见图1、图2同时参见图4,图4是本技术实施例提供的一种面板测量装置的第二测量尺B与活动测量尺C的结构示意图。所述第一测量尺(A)和所述第二测量尺(B)相互垂直,所述第二测量尺(B)和所述活动测量尺(C)相互垂直。所述第一测量尺A和所述第二测量尺B固接于所述平台上,所述活动测量尺C具有通孔可以使所述第二测量尺B穿过且所述活动测量尺C可以沿着所述第二测量尺B水平移动,这样,当待测偏光板的尺寸不同时,活动测量尺C可以通过移动方便的固定待测偏光板。请参见图5,图5是本技术实施例提供的一种面板测量装置的一种翘曲测量示意图。所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C的表面沿长度方向和内侧沿垂直方向均具有刻度,垂直方向的刻度可以直接读出偏光板的翘曲值。请再次参见图2,所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C的表面均设置有螺旋测微头,所述螺旋测微头可以沿着所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C移动。请参见图6,图6是本技术实施例提供的一种面板测量装置的螺旋测微头的示意图。所述螺旋测微头包括:测量端和固定端,测量端和固定端用螺丝锁紧的方式结合。其中,所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C表面具有第一凹槽D,固定端上面具有凸起可以沿着所述第一凹槽D移动。螺旋测微头可以精确的测量出偏光板的尺寸。其中,在测量偏光板的尺寸时,将待测的偏光板放在平台上卡在所述测量装置之间,也就是所述第一测量尺A和所述第二测量尺B,根据偏光板的大小来调节所述活动测量尺C的位置。通过所述第一测量尺A、所述第二测量尺B的表面刻度以及螺旋测微头精确测量出偏光板的尺寸。在测量偏光板的翘曲时,可以通过所述第一测量尺A、所述第二测量尺B和所述活动测量尺C的内侧面垂直方向的刻度直接测量出偏光板的翘曲值。请参见图7和图8,图7是本技术实施例提供的一种面板测量装置的活动量角器的结构示意图,图8是本技术实施例提供的一种面板测量装置的放置活动量角器的凹槽示意图。本实施例的面板测量装置还包括活动量角器,所述活动量角器包括依次活动连接的第一活动杆H、第二活动杆E、第三活动杆G和量角器,其中,所述活动量角器可以放置于所述活动本文档来自技高网...
一种面板的测量装置

【技术保护点】
1.一种面板的测量装置,其特征在于,所述装置包括:平台及设置于所述平台上的第一测量尺(A)、第二测量尺(B)和活动测量尺(C),其中,所述第一测量尺(A)和所述第二测量尺(B)固接于所述平台上,所述活动测量尺(C)具有通孔可以使所述第二测量尺(B)穿过且所述活动测量尺(C)可以沿着所述第二测量尺(B)水平移动;所述第一测量尺(A)、所述第二测量尺(B)和所述活动测量尺(C)的表面沿长度方向和内侧沿垂直方向均具有刻度。

【技术特征摘要】
1.一种面板的测量装置,其特征在于,所述装置包括:平台及设置于所述平台上的第一测量尺(A)、第二测量尺(B)和活动测量尺(C),其中,所述第一测量尺(A)和所述第二测量尺(B)固接于所述平台上,所述活动测量尺(C)具有通孔可以使所述第二测量尺(B)穿过且所述活动测量尺(C)可以沿着所述第二测量尺(B)水平移动;所述第一测量尺(A)、所述第二测量尺(B)和所述活动测量尺(C)的表面沿长度方向和内侧沿垂直方向均具有刻度。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第一测量尺(A)和所述第二测量尺(B)相互垂直,所述第二测量尺(B)和所述活动测量尺(C)相互垂直。3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述第一测量尺(A)、所述第二测量尺(B)和所述活动测量尺(C)的表面均设置有螺旋测微头,所述螺旋测微头可...

【专利技术属性】
技术研发人员:李少荣
申请(专利权)人:咸阳彩虹光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:陕西,61

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