测试电路及测试电源制造技术

本发明专利技术公开一种测试电路及测试电源，其中测试电路包括供电芯片及时序控制电路，其中供电芯片，输出测试所需电压；时序控制电路，对供电芯片输出的电压进行检测，并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。本发明专利技术技术方案满足芯片对电源要求。

【技术实现步骤摘要】
测试电路及测试电源
本专利技术涉及电源
，特别涉及一种可触发式测试电路及测试电源。
技术介绍
在对现有的智能终端设备的主板芯片进行测试时，例如手机，需要向芯片提供按照预设时序供电的电源。对此类芯片来说，不满足要求的时序关系是不能正常工作的。智能终端设备的电源一般都采用高集成度的PMU(powermanagementunit，电源管理单元)芯片。PMU需向手机中的其他芯片零件提供不同形式的各类电源，此类电源往往有着复杂的时序关系，而不同的电源信号之间的延迟一般在毫秒级别。如果采用传统的测试电路，由于人本身的限制，不可能在如此精确的时间内控制电源的时序。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种测试电路，旨在满足芯片对电源要求。为实现上述目的，本专利技术提出的一种测试电路，包括供电芯片及时序控制电路，其中所述供电芯片，输出测试所需电压；所述时序控制电路，对所述供电芯片输出的电压进行检测，并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。优选地，所述时序控制电路包括模数转换电路、控制电路及输出电路；其中，所述模数转换电路，将供电芯片输出的模拟电压转换为数字电压；所述控制电路对数字电压进行处理，控制所述输出电路按照预设时序输出测试所需电压。优选地，所述控制电路包括控制芯片、锁存器及晶振；所述锁存器及晶振均与所述控制芯片连接；所述控制芯片分别与所述数据转换电路及输出电路连接。优选地，所述控制芯片采用的型号为8051单片机。优选地，所述锁存器采用的型号为74LS372。优选地，所述模数转换电路包括模数转换芯片及电平转换单元；所述模数转换芯片经所述电平转换单元与所述控制电路连接。优选地，所述电平转换单元包括第一与非门、第二与非门及非门；所述模数转换芯片包括转换结束端、正电压参考端、负电压参考端、电源端、使能端及启动端；所述正电压参考端、电源端均与电源连接；所述负电压参考端接地；所述第一与非门的第一输入端及第二端输入端均与控制电路连接，第一与非门的第二端与所述模数转换芯片转换结束端连接；所述第二与非门的第一输入端及第二端输入端均与控制电路连接，第二与非门的的输出端与所述模数转换芯片的使能端连接；所述非门的输入端与所述控制电路连接，所述非门的输出端与模数转换芯片的启动端连接。本专利技术还提出一种测试电源，所述电源包括测试电路；所述测试电路包括供电芯片及时序控制电路，其中所述供电芯片，输出测试所需电压；所述时序控制电路，对所述供电芯片输出的电压进行检测，并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。本专利技术技术方案通过设置供电芯片及时序控制电路，形成了一种测试电路。供电芯片用于提供电源，时序控制电路对供电芯片提供的电源电压进行采样，将采样的电压转换为数字信号，并按照预设时序输出所需电压至待测试的芯片，从而实现了对待测芯片电源时序的控制。满足了芯片测试的要求。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术测试电路一实施例的功能模块图；图2为本专利技术测试电路一实施例的结构示意图。附图标号说明：标号名称标号名称100供电芯片U4晶振200时序控制电路A1非门210模数转换电路B1第一与非门220控制电路B2第二与非门230输出电路U3控制芯片U1模数转换芯片U2锁存器本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本专利技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。本专利技术提出一种测试电路，本该测试电路应用于手机中的芯片进行测试。参照图1，在本专利技术实施例中，该测试电路包括供电芯片100及时序控制电路200，其中所述供电芯片100，输出测试所需电压；所述时序控制电路200，对所述供电芯片100输出的电压进行检测，并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。PMU就是一种高集成的、针对便携式应用的电源管理方案，即将传统分立的若干类电源管理芯片，如低压差线性稳压器(LDO)、直流转换器(DC/DC)，但现在它们都被集成到手机的电源管理单元(PMU)中，这样可实现更高的电源转换效率和更低功耗，及更少的组件数以适应缩小的板级空间，成本更低。通常手机中的电源是由PMU进行供电，这种芯片常常有不同形式的各类电源，此类电源输出电压往往有着复杂的时序输出，以满足CPU等芯片需求，本实施例中通过时序控制电路200来控制时序，满足CPU等手机芯片的测试要求。本专利技术技术方案通过设置供电芯片100及时序控制电路200，形成了一种测试电路。供电芯片100用于提供电源，时序控制电路200对供电芯片100提供的电源电压进行采样，将采样的电压转换为数字信号，并按照预设时序输出所需电压至待测试的芯片，从而实现了对待测芯片电源时序的控制。满足了芯片测试的要求。具体地，所述时序控制电路包括模数转换电路210、控制电路220及输出电路230；其中，所述模数转换电路210，将供电芯片100输出的模拟电压转换为数字电压；所述控制电路220对数字电压进行处理，控制所述输出电路230按照预设时序输出测试所需电压。值得说明的是，因为控制电路220只能识别数字信号，因此，在对供电芯片100的电压进行采样后，将模拟的电压信号转换为数字电压信号，控制电路220识别该数字电压信号，并进行响应。控制电路220中，预先设置有程序，程序中包含时序参数。控制电路220按照预设的时序，控制输出电路220输出采样得到的电压至待测试的芯片。参照图2，具体地，所述控制电路220包括控制芯片U3、锁存器U2及晶振U4；所述锁存器U2及晶振U4均与所述控制芯片U3连接；所述控制芯片U3分别与所述数据转换电路210及输出电路230连接。本实施例中，所述控制芯片U3采用的型号为8051单片机。所述锁存器U2采用的型号为74LS372。模数转换电路210采样型号为ADC0809。需要说明的是，晶振U4为控制芯片U3提供时钟频率，锁存器U2用于存储数模转换芯片输入的电平信号。具体地，所述模数转换电路210包括模数转换芯片U1及电平转换单元；所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路，其特征在于，包括供电芯片及时序控制电路，其中所述供电芯片，输出测试所需电压；所述时序控制电路，对所述供电芯片输出的电压进行检测，并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，包括供电芯片及时序控制电路，其中所述供电芯片，输出测试所需电压；所述时序控制电路，对所述供电芯片输出的电压进行检测，并按照预设时序对待测试的芯片输出测试所需电压。2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述时序控制电路包括模数转换电路、控制电路及输出电路；其中，所述模数转换电路，将供电芯片输出的模拟电压转换为数字电压；所述控制电路对数字电压进行处理，控制所述输出电路按照预设时序输出测试所需电压。3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述控制电路包括控制芯片、锁存器及晶振；所述锁存器及晶振均与所述控制芯片连接；所述控制芯片分别与所述数据转换电路及输出电路连接。4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述控制芯片采用的型号为8051单片机。5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述锁存器采用的型号为74LS372。6.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述模数转换电路包括模数转换芯片及电平转换单元；所述模数转换芯片经所述电平转换单元与所述控制电路连接。7.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述电平转换单元包括第一与非门、第二与非门及非门；所述模数转换...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐家林，刘静江，
申请(专利权)人：上海展扬通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31