TF卡测试座制造技术

技术编号:18255077 阅读:29 留言:0更新日期:2018-06-20 07:22
本发明专利技术提供了一种TF卡测试座,包括基座、设置在基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,测试探针连接测试线路板,TF卡放置槽水平设置,测试探针设置在所述TF卡放置槽下方,测试探针的针头伸入TF卡放置槽内;每个TF卡压杆均包括伸入TF卡放置槽内的压紧端和铰接在下压机构上的铰接端,每个TF卡压杆上均开设有从TF卡压杆的中部延伸至压紧端附近的限位长孔,基座上位于TF卡放置槽的两侧均设置有限位轴,两个限位轴一一对应地穿设在两个限位长孔内;基座和下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构。

TF card test seat

The invention provides a TF card test seat, including a base seat, a test circuit board, a test probe, a TF card placement slot, a down pressure mechanism and a TF bar set on both sides of the TF card placement slot. The test probe connects the test circuit board, the TF card placement slot is set horizontally, and the test probe is set in the TF card placement slot. At the bottom, the needle of the test probe is inserted into the TF card placement slot, and each TF Card pressure lever includes the pressing end in the TF card placement slot and the hinge end connected to the lower pressure mechanism. Each TF card is equipped with a long limit hole extending from the middle of the TF Card to the pressing end, and the base is located on both sides of the TF card placement slot. A finite position axis is set up, and the two limit axis is fitted one by one in two long holes, and a vertical limiting mechanism and a reset mechanism are set between the base and the lower pressure mechanism.

【技术实现步骤摘要】
TF卡测试座
本专利技术涉及一种电子产品测试装置,具体的说,涉及了一种TF卡测试座。
技术介绍
T-FLASH存储卡简称TF卡,是一种外观十分小巧的闪存储器卡,最早用于手机设备上,如今随着科技的迅速发展,TF卡被广泛应用在智能家居、单反相机、平板电脑等智能设备上。随着TF卡产品市场的要求,在提升TF卡产品性能的同时,对TF卡的测试需求也逐渐增多,TF卡测试座作为一种承载部件,能够完成对TF卡的电气性能及功能的测试,因此TF卡测试座的优劣能够直接影响到TF卡测试的准确性和可靠性。然而,现有的TF卡测试座主要存在以下问题:一方面,传统的TF卡测试座在对待测TF卡进行测试的过程中,当待测TF卡被放置在TF卡测试座的相应位置时,待测TF卡容易发生移位,导致测试过程中容易出现待测TF卡与探针接触不良、不稳定或者信号故障等现象;另一方面,现有的TF卡测试座多为人工掀盖式的测试座,在对大批量待测TF卡进行测试时,难以灵活地适用于自动化设备实现待测TF卡的自动化测试,从而导致测试效率大大降低;此外,由于现有的TF卡测试座结构复杂,一旦出现部件损坏时,不方便进行更换或者维护。为了解决以上存在的问题,人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足,从而提供一种设计科学、可靠性高、操作方便、维护方便、可适用于大批量自动化测试的TF卡测试座。为了实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种TF卡测试座,包括基座、设置在所述基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在所述TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,所述测试探针安装在所述测试线路板上,所述测试探针的针头伸入所述TF卡放置槽内;所述TF卡压杆包括伸入所述TF卡放置槽内的压紧端和铰接在所述下压机构上的铰接端,所述TF卡压杆上开设有从所述TF卡压杆的中部延伸至所述压紧端附近的限位长孔,所述基座上对应所述限位长孔设置有限位轴,所述下压机构的上下移动能够驱使所述TF卡压杆在所述限位长孔的限定范围内翻转;所述基座和所述下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构,初始状态下,所述复位机构顶压所述下压机构并驱使所述TF卡压杆的压紧端压紧所述TF卡放置槽的底面;存/取卡状态下,所述下压机构下移压迫所述复位机构并驱使所述TF卡压杆翻转至离开所述TF卡放置槽。基于上述,所述基座包括底座和TF卡座,所述底座上开设有安装槽,所述TF卡座可竖向运动地放置在所述安装槽内,所述安装槽对应所述TF卡座的外侧壁设置有导向内壁,所述TF卡座底部和所述安装槽之间设置有弹性机构,所述TF卡放置槽开设在所述TF卡座内,所述测试探针穿过所述底座和所述TF卡座,两个所述限位轴均设置在所述底座上,所述复位机构的作用力大于所述弹性机构的作用力。基于上述,所述复位机构包括设置在所述底座四角和所述下压机构四角之间的四个第一压簧,所述弹性机构包括两个第二压簧。基于上述,所述底座四角和所述下压机构四角对应所述第一压簧、所述安装槽和所述TF卡座底部对应所述第二压簧分别设置有压簧安装凹孔。基于上述,所述竖向限位机构包括设置在所述底座上的行程长孔和设置在所述下压机构上的行程限位销。基于上述,所述测试探针包括测试针座和探针,所述测试针座固定在所述基座上,所述测试针座上设置有探针安装孔,所述探针可拆卸地安装在所述探针安装孔内,所述底座和所述TF卡座上对应所述探针分别开设有探针通孔。基于上述,所述探针包括测试针管和测试针头,所述测试针管内设置有针头弹簧,所述测试针头的底部插入所述测试针管内,所述测试针头的底端连接所述针头弹簧。基于上述,所述测试针头的顶端呈圆头状。基于上述,所述测试线路板与所述底座之间通过螺栓固定。本专利技术相对现有技术具有突出的实质性特点和显著的进步,具体的说,本专利技术提供了一种全新的技术方案,其设置了所述下压机构与所述TF卡压杆,通过按压所述下压机构即可带动所述TF卡压杆的铰接端运动,通过所述限位长孔和所述限位轴的导向和限位,所述TF卡压杆的压紧端可对放置在所述TF卡放置槽内的TF卡实施压紧和松开动作,通过所述压紧端的下压,可实现对TF卡的牢固固定,避免在测试过程中移位,提高了可靠性,通过所述复位机构的设置实现了所述下压机构的自动回位,简化了操作。进一步地,通过所述弹性机构的设置,使所述压紧端在压紧TF卡时,所述TF卡座能够给所述压紧端施加一个向上的反作用力,实现两者的柔性对接,不但能够避免所述压紧端在下压过程受到的僵硬阻力,使锁紧更容易,而且能够将TF卡固定地更加牢固。进一步地,由于四个所述第一压簧的弹力大于两个所述第二压簧的弹力,从而使得所述TF卡压杆的铰接端受力大于压紧端受力,于是,默认状态下,所述TF卡压杆的压紧端将紧紧压在TF卡上,处于锁紧状态,只有通过按压所述下压机构,才能将所述压紧端松开。进一步地,所述压簧安装凹孔的设置,方便了所述第一压簧和所述第二压簧的拆装。进一步地,将所述探针可拆卸地安装在所述探针安装孔内,在所述探针损坏时,方便对其进行单独更换。进一步地,所述针头弹簧的设置,可实现所述测试针头与TF卡之间的柔性接触,保证所述测试针头与TF卡的紧密接触。进一步地,将所述测试针头的顶端设置为圆头状,保证了与TF卡的均匀接触,在所述针头弹簧弹力的作用下,避免出现待测TF卡与探针接触不良、不稳定或者信号故障等现象,从而提高待测TF卡测试的准确度和可靠性。进一步地,所述测试线路板与所述底座之间通过螺栓固定,方便了所述测试线路板的维修和拆装。最后,该TF卡测试座能够灵活地适用于对TF卡进行大批量测试或者信息灌装的自动化设备,避免仅能通过人工单一地来完成TF卡测试或者TF卡信息灌装,从而大大提高TF卡测试效率或者TF卡信息灌装的效率。其具有设计科学、可靠性高、操作方便、维护方便、可适用于大批量自动化测试的优点。附图说明图1是本专利技术中TF卡测试座的初始状态图。图2是本专利技术中TF卡测试座的下压状态图。图3是本专利技术中TF卡测试座的结构分解图。图4是本专利技术中TF卡测试座沿TF卡压杆剖开的剖视图。图5是本专利技术中TF卡测试座沿测试探针剖开的剖视图。图6是本专利技术中底座的结构示意图。图7是本专利技术中TF卡座的结构示意图。图8是本专利技术中TF卡座的底面视图。图9本专利技术中下压机构的结构示意图。图10是本专利技术中下压机构的底面视图。图11是本专利技术中TF卡压杆的结构示意图。图12是本专利技术中测试针座的结构示意图。图13是本专利技术中探针的结构示意图。图14是本专利技术中底座、第一压簧、第二压簧和测试探针的装配图。图15是将TF卡座安装在图14中的结构示意图。图16是将下压机构和TF卡压杆安装在图15中的结构示意图。图中:1.测试线路板;2.TF卡座;3.测试针座;4.测试针管;5.测试针头;6.底座;7.TF卡压杆;8.下压机构;9.限位轴;10.第一压簧;11.行程限位销;12.螺栓;13.铰接轴;14.第二压簧;15.行程长孔;201.探针通孔I;202.压簧安装凹孔I;601.探针通孔II;602.压簧安装凹孔II;603.压簧安装凹孔III;701.压紧端;702.铰接端;703.限位长孔;801.压簧安装凹孔IV。具体实施方式下面通过具体实施方式,对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。如图1-1本文档来自技高网...
TF卡测试座

【技术保护点】
1.一种TF卡测试座,其特征在于:包括基座、设置在所述基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在所述TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,所述测试探针安装在所述测试线路板上,所述测试探针的针头伸入所述TF卡放置槽内;所述TF卡压杆包括伸入所述TF卡放置槽内的压紧端和铰接在所述下压机构上的铰接端,所述TF卡压杆上开设有从所述TF卡压杆的中部延伸至所述压紧端附近的限位长孔,所述基座上对应所述限位长孔设置有限位轴,所述下压机构的上下移动能够驱使所述TF卡压杆在所述限位长孔的限定范围内翻转;所述基座和所述下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构,初始状态下,所述复位机构顶压所述下压机构并驱使所述TF卡压杆的压紧端压紧所述TF卡放置槽的底面;存/取卡状态下,所述下压机构下移压迫所述复位机构并驱使所述TF卡压杆翻转至离开所述TF卡放置槽。

【技术特征摘要】
1.一种TF卡测试座,其特征在于:包括基座、设置在所述基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在所述TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,所述测试探针安装在所述测试线路板上,所述测试探针的针头伸入所述TF卡放置槽内;所述TF卡压杆包括伸入所述TF卡放置槽内的压紧端和铰接在所述下压机构上的铰接端,所述TF卡压杆上开设有从所述TF卡压杆的中部延伸至所述压紧端附近的限位长孔,所述基座上对应所述限位长孔设置有限位轴,所述下压机构的上下移动能够驱使所述TF卡压杆在所述限位长孔的限定范围内翻转;所述基座和所述下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构,初始状态下,所述复位机构顶压所述下压机构并驱使所述TF卡压杆的压紧端压紧所述TF卡放置槽的底面;存/取卡状态下,所述下压机构下移压迫所述复位机构并驱使所述TF卡压杆翻转至离开所述TF卡放置槽。2.根据权利要求1所述的TF卡测试座,其特征在于:所述基座包括底座和TF卡座,所述底座上开设有安装槽,所述TF卡座可竖向运动地放置在所述安装槽内,所述安装槽对应所述TF卡座的外侧壁设置有导向内壁,所述TF卡座底部和所述安装槽之间设置有弹性机构,所述TF卡放置槽开设在所述TF卡座内,所述测试探针穿过所述底座和所述TF卡座,两个所述限位轴均设置在所述底座上,所述复位机构的作用力大于所述弹性机构的作用力。3.根据权利要求2所述的TF卡测试座,其特征在于:所述复位机构包括设置在所述底座四角和所述下...

【专利技术属性】
技术研发人员:马现通刘熙胖王凯霖彭金辉石淑英苏庆会穆佩红
申请(专利权)人:郑州信大捷安信息技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:河南,41

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