The invention provides a TF card test seat, including a base seat, a test circuit board, a test probe, a TF card placement slot, a down pressure mechanism and a TF bar set on both sides of the TF card placement slot. The test probe connects the test circuit board, the TF card placement slot is set horizontally, and the test probe is set in the TF card placement slot. At the bottom, the needle of the test probe is inserted into the TF card placement slot, and each TF Card pressure lever includes the pressing end in the TF card placement slot and the hinge end connected to the lower pressure mechanism. Each TF card is equipped with a long limit hole extending from the middle of the TF Card to the pressing end, and the base is located on both sides of the TF card placement slot. A finite position axis is set up, and the two limit axis is fitted one by one in two long holes, and a vertical limiting mechanism and a reset mechanism are set between the base and the lower pressure mechanism.
【技术实现步骤摘要】
TF卡测试座
本专利技术涉及一种电子产品测试装置,具体的说,涉及了一种TF卡测试座。
技术介绍
T-FLASH存储卡简称TF卡,是一种外观十分小巧的闪存储器卡,最早用于手机设备上,如今随着科技的迅速发展,TF卡被广泛应用在智能家居、单反相机、平板电脑等智能设备上。随着TF卡产品市场的要求,在提升TF卡产品性能的同时,对TF卡的测试需求也逐渐增多,TF卡测试座作为一种承载部件,能够完成对TF卡的电气性能及功能的测试,因此TF卡测试座的优劣能够直接影响到TF卡测试的准确性和可靠性。然而,现有的TF卡测试座主要存在以下问题:一方面,传统的TF卡测试座在对待测TF卡进行测试的过程中,当待测TF卡被放置在TF卡测试座的相应位置时,待测TF卡容易发生移位,导致测试过程中容易出现待测TF卡与探针接触不良、不稳定或者信号故障等现象;另一方面,现有的TF卡测试座多为人工掀盖式的测试座,在对大批量待测TF卡进行测试时,难以灵活地适用于自动化设备实现待测TF卡的自动化测试,从而导致测试效率大大降低;此外,由于现有的TF卡测试座结构复杂,一旦出现部件损坏时,不方便进行更换或者维护。为了解决以上存在的问题,人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足,从而提供一种设计科学、可靠性高、操作方便、维护方便、可适用于大批量自动化测试的TF卡测试座。为了实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种TF卡测试座,包括基座、设置在所述基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在所述TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,所述测试探针安装在所 ...
【技术保护点】
1.一种TF卡测试座,其特征在于:包括基座、设置在所述基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在所述TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,所述测试探针安装在所述测试线路板上,所述测试探针的针头伸入所述TF卡放置槽内;所述TF卡压杆包括伸入所述TF卡放置槽内的压紧端和铰接在所述下压机构上的铰接端,所述TF卡压杆上开设有从所述TF卡压杆的中部延伸至所述压紧端附近的限位长孔,所述基座上对应所述限位长孔设置有限位轴,所述下压机构的上下移动能够驱使所述TF卡压杆在所述限位长孔的限定范围内翻转;所述基座和所述下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构,初始状态下,所述复位机构顶压所述下压机构并驱使所述TF卡压杆的压紧端压紧所述TF卡放置槽的底面;存/取卡状态下,所述下压机构下移压迫所述复位机构并驱使所述TF卡压杆翻转至离开所述TF卡放置槽。
【技术特征摘要】
1.一种TF卡测试座,其特征在于:包括基座、设置在所述基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在所述TF卡放置槽两侧的TF卡压杆,所述测试探针安装在所述测试线路板上,所述测试探针的针头伸入所述TF卡放置槽内;所述TF卡压杆包括伸入所述TF卡放置槽内的压紧端和铰接在所述下压机构上的铰接端,所述TF卡压杆上开设有从所述TF卡压杆的中部延伸至所述压紧端附近的限位长孔,所述基座上对应所述限位长孔设置有限位轴,所述下压机构的上下移动能够驱使所述TF卡压杆在所述限位长孔的限定范围内翻转;所述基座和所述下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构,初始状态下,所述复位机构顶压所述下压机构并驱使所述TF卡压杆的压紧端压紧所述TF卡放置槽的底面;存/取卡状态下,所述下压机构下移压迫所述复位机构并驱使所述TF卡压杆翻转至离开所述TF卡放置槽。2.根据权利要求1所述的TF卡测试座,其特征在于:所述基座包括底座和TF卡座,所述底座上开设有安装槽,所述TF卡座可竖向运动地放置在所述安装槽内,所述安装槽对应所述TF卡座的外侧壁设置有导向内壁,所述TF卡座底部和所述安装槽之间设置有弹性机构,所述TF卡放置槽开设在所述TF卡座内,所述测试探针穿过所述底座和所述TF卡座,两个所述限位轴均设置在所述底座上,所述复位机构的作用力大于所述弹性机构的作用力。3.根据权利要求2所述的TF卡测试座,其特征在于:所述复位机构包括设置在所述底座四角和所述下...
【专利技术属性】
技术研发人员:马现通,刘熙胖,王凯霖,彭金辉,石淑英,苏庆会,穆佩红,
申请(专利权)人:郑州信大捷安信息技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:河南,41
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