一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统技术方案

本实用新型专利技术涉及防漏料系统领域，特别涉及一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其技术方案要点是：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，包括断路器、报警器和多个控制触片；控制触片包括第一触片和第二触片，多个所述第一触片设置于样品托架上，并位于样品托架和样品压环相对的一侧；多个所述第二触片均匀分布于样品压环上，与所述第一触片相对的一侧；所述第二触片和第一触片能够接触，第一触片和第二触片接触不良能够触发断路器和报警器；所述断路器能够断开卤素测试仪的电源。其特点是能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。

【技术实现步骤摘要】
一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统
本技术涉及防漏料系统领域，特别涉及一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统。
技术介绍
氟(F)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I)、砹(At)，简称卤素。有机卤化合物本身是有毒的，在人体中潜伏可致癌，且其生物降解率很低，致使在生态系统中产生积累，并且一些挥发性的有机卤素化合物对臭氧层有极大的破坏作用，对环境和人类健康造成严重影响。因此需要对产品的卤素进行测试，以实现无卤化。卤素的测试方法很多，在论文《电子分色片中卤素比的X光荧光光谱测定》中提供了一种用X光荧光光谱测试卤素的方法。针对基于X荧光光谱分析的卤素测试仪，我国现有如下专利:专利授权公告号：CN203929682U，公开了一种RoHS专用X荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品移动测试平台、内置高清晰度摄像头，信号探测装置中设置有与信号处理装置连接的探测器，信号处理装置与计算机连接，激发光源装置与计算机控制连接，激发光源装置中设置有X射线发生器，探测器位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器，探测器为SDD电制冷探测器。本技术可对各类样品中的RoHS指令中有害元素(Pb，Cd，Hg，Br，Cr)进行精准测试及无卤测试。该专利的样品托架和样品压环可更换，却无法保证样品托架和样品压环之间紧密配合，若存在空隙无法及时察觉，在测试过程中，样品粉尘或碎屑容易掉入仪器测量室内，污染光源装置，影响测量精度，甚至引发故障。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特点是能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，包括断路器、报警器和多个控制触片；控制触片包括第一触片和第二触片，多个所述第一触片设置于样品托架上，并位于样品托架和样品压环相对的一侧；多个所述第二触片均匀分布于样品压环上，与所述第一触片相对的一侧；所述第二触片和第一触片能够接触，第一触片和第二触片接触不良能够触发断路器和报警器；所述断路器能够断开卤素测试仪的电源。通过上述技术方案，当样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时，缝隙处的第一触片和第二触片的接触不良，能够触发断路器和报警器，及时响应，发出报警信号并切断卤素测试仪的电源。优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片的输入端通过上拉电阻与电源连接，所述第二触片接地，所述第一触片的输出端与所述PLC控制器的输入端连接。通过上述技术方案，当第一触片和第二触片接触良好时，第一触片的输出端向PLC控制器输入低电平信号；当第一触片和第二触片接触不良时，第一触片的输出端向PLC控制器输入高电平信号。优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片通过或门与PLC控制器连接。通过上述技术方案，当其中任意第一触片与第二触片之间接触不良时，即可通过或门向PLC控制器发出高电平信号。优选的，还包括PLC控制器，若干所述第一触片的输入端通过下拉电阻接地，所述第二触片连接电源，所述第一触片的输出端与所述PLC控制器的输入端连接。通过上述技术方案，当第一触片和第二触片接触良好时，第一触片的输出端向PLC控制器输入高电平信号；当第一触片和第二触片接触不良时，第一触片的输出端向PLC控制器输入低电平信号。优选的，若干所述第一触片通过与门与PLC控制器连接。通过上述技术方案，当其中任意第一触片与第二触片之间接触不良时，即可通过与门向PLC控制器发出低电平信号。优选的，还包括中间继电器，中间继电器的线圈与PLC控制器的输出端连接；断路器中设置有分励脱扣器，分励脱扣器中的分励线圈与中间继电器的辅助触点连接。通过上述技术方案，PLC控制器能够令中间继电器的线圈得电，中间继电器的辅助触点闭合，使得分励脱扣器的分励线圈得电，分励脱扣器自动脱扣，触发断路器，使卤素测试仪停止工作。优选的，所述报警器与所述PLC控制器连接。通过上述技术方案，PLC控制器能够触发报警器，使报警器开始工作。优选的，所述报警器为声光报警器。通过上述技术方案，采用声光报警器，能够输出声光报警信号，提示工作人员。优选的，若干所述第一触片均匀分布于样品托架上。通过上述技术方案，能够保证当样品托架和样品压环存在缝隙时，缝隙处存在第一触片和第二触片。本技术的有益效果在于:通过设置防漏料系统，能够在样品托架和样品压环配合不紧密，出现漏料风险时及时响应。附图说明图1为卤素测试仪的电气连接示意图；图2为实施例1的电气连接图；图3为实施例2的电气连接图；图4为实施例3的电气连接图；图5为实施例4的电气连接图；图6为
技术介绍
中样品移动测试平台的结构示意图；图7为实施例1中样品托架的结构示意图；图8为实施例1中样品压环的结构示意图。附图标记：1、样品移动测试平台；2、样品测试托板；3、样品托架；4、样品压环；5、第一触片；6、第二触片；7、断路器；8、报警器；9、高压电源；10、探测器电源；11、PLC处理器；12、分励脱扣器；13、分励线圈；14、或门；15、与门。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细说明。如图6所示，样品移动测试平台1，包括样品测试托板2、可更换的样品托架3以及样品压环4。实施例1：一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，如图2所示，包括若干第一触片5、与第一触片5对应的第二触片6、断路器7和报警器8。断路器7用于切断卤素测试仪的电源，报警器8用于发出报警信号。第一触片5和第二触片6用于触发断路器7和报警器8，当第一触片5和第二触片6的接触不良时断路器7和报警器8即被触发。报警器8为声光报警器。如图7所示，若干第一触片5均匀设置于样品托架3上，位于样品托架3和样品压环4相对的侧面。如图8所示，若干第二触片6均匀设置于样品压环4上，位于样品压环4和样品托架3相对的侧面。第二触片6与第一触片5相对设置。当样品压环4和样品托架3紧密配合时，第一触片5和第二触片6接触良好，能够良好导电。当样品压环4和样品托架3之间配合不紧密，出现缝隙时，缝隙处的第一触片5和第二触片6接触不良，无法导电。如图1所示，断路器7与高压电源9和探测器电源10连接，能够切断高压电源9和探测器电源10，使卤素测试仪停止工作。如图2所示，系统中还包括PLC处理器和中间继电器。断路器7中设置有分励脱扣器12，分励脱扣器12内设有分励线圈13。第一触片5的输入端通过上拉电阻R1连接电源VCC，第一触片5的输出端与PLC控制器11的输入端连接。第二触片6接地。中间继电器的线圈KA-1与PLC控制器11的输出端连接。中间继电器的辅助触点KA-2与分励线圈13连接，辅助触点KA-2闭合能够使分励线圈13得电。报警器8连接PLC控制器11的输出端。当第一触片5和第二触片6接触良好时，第一触片5的输出端向PLC控制器11输入低电平信号。当第一触片5和第二触片6接触不良时，第一触片5的输出端向PLC控制器11输入高电平信号。此时PLC控制器11触发报警器8，使报警器8开始工作，输出声光报警信号。同时，PLC控制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特征在于：包括断路器（7）、报警器（8）和多个控制触片；控制触片包括第一触片（5）和第二触片（6），多个所述第一触片（5）设置于样品托架（3）上，并位于样品托架（3）和样品压环（4）相对的一侧；多个所述第二触片（6）均匀分布于样品压环（4）上，与所述第一触片（5）相对的一侧；所述第二触片（6）和第一触片（5）能够接触，第一触片（5）和第二触片（6）接触不良能够触发断路器（7）和报警器（8）；所述断路器（7）能够断开卤素测试仪的电源。

【技术特征摘要】
1.一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特征在于：包括断路器（7）、报警器（8）和多个控制触片；控制触片包括第一触片（5）和第二触片（6），多个所述第一触片（5）设置于样品托架（3）上，并位于样品托架（3）和样品压环（4）相对的一侧；多个所述第二触片（6）均匀分布于样品压环（4）上，与所述第一触片（5）相对的一侧；所述第二触片（6）和第一触片（5）能够接触，第一触片（5）和第二触片（6）接触不良能够触发断路器（7）和报警器（8）；所述断路器（7）能够断开卤素测试仪的电源。2.根据权利要求1所述的一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特征在于：还包括PLC控制器（11），若干所述第一触片（5）的输入端通过上拉电阻（R1）与电源（VCC）连接，所述第二触片（6）接地，所述第一触片（5）的输出端与所述PLC控制器（11）的输入端连接。3.根据权利要求2所述的一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特征在于：若干所述第一触片（5）通过或门（14）与PLC控制器（11）连接。4.根据权利要求1所述的一种基于X荧光光谱分析卤素测试仪的防漏料系统，其特征在于：还包...

【专利技术属性】
技术研发人员：李春方，马鑫，贾静波，
申请(专利权)人：苏州柯仕达电子材料有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32