射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统技术方案

技术编号:18201894 阅读:48 留言:0更新日期:2018-06-13 05:23
本发明专利技术实施例提供一种射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统,上述射频功率时域测量系统包括:示波器,计算机,待测板微带线和功率探头;功率探头和待测板微带线相对放置,功率探头位于待测板微带线上方并垂直于待测板微带线,且功率探头线圈中心投影在待测板微带线上;功率探头通过符合测试要求的传输线分别接示波器的第一通道、第二通道,在向待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时,示波器采集功率探头的功率输出信号,此时,功率探头的输出波形延时可以忽略,计算机根据功率输出信号获得待测板的射频功率。这种非接触式测量方法,可以在不修改系统或者停止系统的条件下进行对射频功率的时域测量,方便测试。

【技术实现步骤摘要】
射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统
本专利技术涉及射频功率频域测量
,特别是涉及一种射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统。
技术介绍
功率时域测量,指测量功率参量随时间的变化数据。目前,多采用接触式测量系统进行功率时域测量,但专利技术人在实现过程中,发现传统技术至少存在以下缺陷:传统的测试系统因需直接接触被测点,所以要充分考虑不干预被测系统,多需要修改系统或停止系统进行功率时域测试,测试不方便。随着测试对象的日益复杂,希望在不修改系统或者停止系统的条件下进行对射频功率的时域测量。
技术实现思路
基于此,有必要针对测试不方便的问题,提供一种射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统。一方面,本专利技术实施例提供一种射频功率时域测量系统,包括:示波器,计算机,待测板微带线和功率探头;功率探头和待测板微带线相对放置,功率探头位于待测板微带线上方并垂直于待测板微带线,且功率探头线圈中心投影在待测板微带线上;功率探头通过符合测试要求的传输线分别与示波器的第一通道和第二通道连接;示波器用于在向待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时采集功率探头的功率输出信号;计算机与示波器的输出端相连,且计算机用于根据功率输出信号获得待测板的射频功率。在其中一个实施例中,射频功率时域测量系统,还包括夹具,支架和样品台;待测板微带线固定在样品台上;夹具安装在支架上,且用于固定功率探头,使功率探头垂直于待测板微带线,且使功率探头线圈投影在待测板微带线上。在其中一个实施例中,功率探头线圈平面与待测板微带线平行,功率探头线圈中心投影在待测板微带线的中心处。在其中一个实施例中,待测板微带线两端通过SMA焊接在待测板上;待测板微带线一端连接负载,另一端用于接收符合测试频率要求的测量信号。在其中一个实施例中,功率探头包括电压探头和电流探头;电流探头和电压探头分别通过符合测试要求的传输线与示波器的第一通道和第二通道连接。在其中一个实施例中,电流探头包括采样线圈和第一SMA头射频连接器,采样线圈通过第一SMA头射频连接器与示波器的第一通道连接,采样线圈用于采集待测板微带线的第一输出电压;电压探头包括单极子探测结构和第二SMA头射频连接器,单极子探测结构通过第二SMA头射频连接器与示波器的第二通道连接,单极子探测结构用于采集待测板微带线的第二输出电压。另一方面,本专利技术实施例还提供了一种射频功率时域测量校准系统,包括:校准测量装置和上述射频功率时域测量系统;校准测量装置分别接功率探头和校准微带线;校准测量装置用于为校准微带线提供测量信号并获得校准微带线的校准参数,其中,校准参数用于对待测板的待测射频功率进行测量校准。在其中一个实施例中,校准测试装置包括信号发生器,功率探头包括电压探头和电流探头;信号发生器接校准微带线的一端,校准微带线的另一端接负载;信号发生器用于向校准微带线输入测量信号;示波器通过传输线分别与电流探头的输出端、电压探头的输出端以及校准微带线的两端连接。在其中一个实施例中,校准测试装置包括网络分析仪,功率探头包括电压探头和电流探头;网络分析仪分别接电压探头、电流探头和校准微带线的两端。一种对上述射频功率时域测量校准系统的校准验证系统,包括:任意波形发生器和上述射频功率时域测量系统;任意波形发生器的第一端口和第二端口分别与校准微带线的一端和示波器的第一通道连接,且校准微带线的另一端连接负载;其中,任意波形发生器用于向校准微带线输入任意波形;功率探头的输出端分别与示波器的第二通道和第三通道连接。本专利技术实施例至少具有以下有益效果:功率探头和待测板微带线相对放置,功率探头位于待测板微带线上方并垂直于待测板微带线,且功率探头线圈中心投影在待测板微带线上,此时待测板微带线中通入的电流产生的电场、磁场强度均最强,利于示波器通过功率探头采集待测板微带线的输出信号;功率探头通过符合测试要求的传输线分别与示波器的第一通道和第二通道连接,示波器用于在向待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时采集功率探头的功率输出信号,此时,功率探头的输出波形延时可以忽略,计算机根据功率输出信号获得待测板的射频功率。这种非接触式测量方法,可以在不修改系统或者停止系统的条件下进行对射频功率的时域测量,方便测试。附图说明图1为本专利技术射频功率时域测量系统实施例的第一结构示意图;图2为本专利技术射频功率时域测量系统实施例的待测板微带线示意图;图3为本专利技术射频功率时域测量系统实施例的第二结构示意图;图4为本专利技术射频功率时域测量方法实施例的第一流程示意图;图5为本专利技术射频功率时域测量方法实施例的第二流程示意图;图6为本专利技术射频功率时域测量校准系统实施例的第一结构示意图;图7为本专利技术射频功率时域测量校准系统实施例的第二结构示意图;图8为本专利技术射频功率时域测量校准系统实施例的第三结构示意图;图9为本专利技术射频功率时域测量校准方法实施例的第一流程示意图;图10为本专利技术射频功率时域测量校准方法实施例的第二流程示意图;图11为本专利技术射频功率时域测量校准方法实施例的第三流程示意图;图12为本专利技术校准验证系统实施例的结构示意图;图13为本专利技术射频功率时域测量校准方法实施例的第四流程示意图。具体实施方式为了便于理解本专利技术,下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的首选实施例。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容更加透彻全面。需要说明的是,当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件并与之结合为一体,或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“安装”、“一端”、“另一端”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1所示,本专利技术实施例提供一种射频功率时域测量系统,包括:示波器10,计算机,待测板微带线31和功率探头20;功率探头20和待测板微带线31相对放置,功率探头20位于待测板微带线31上方并垂直于待测板微带线31,且功率探头20线圈中心投影在待测板微带线31上;功率探头20通过符合测试要求的传输线分别与示波器10的第一通道11和第二通道12连接;示波器10用于在向待测板微带线31输入符合测试频率要求的测量信号时采集功率探头20的功率输出信号;计算机与示波器10的输出端相连,且计算机用于根据功率输出信号获得待测板30的射频功率。其中,功率探头20利用法拉第电磁感应定律来探测射频电流产生的磁场和利用电场耦合来探测射频电压产生的电场;示波器10的第一通道11和第二通道12用于连接功率探头20,并读取探头所采集到的输出波形,可选的,示波器10的终端阻抗可以设为50欧;计算机用于实现射频功率时域测量系统的总控以及数据处理,与示波器10之间连接,可选的,连接方式可以是通过LAN或者GPIB等方式连接,也可以是计算机与示波器10之间通过远程无线连接。符合测试要求的传输线,是指对示波器10采集的功率本文档来自技高网
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射频功率时域测量系统、测量校准系统及校准验证系统

【技术保护点】
一种射频功率时域测量系统,其特征在于,包括:示波器,计算机,待测板微带线和功率探头;所述功率探头和所述待测板微带线相对放置,所述功率探头位于所述待测板微带线上方并垂直于所述待测板微带线,且所述功率探头线圈中心投影在待测板微带线上;所述功率探头通过符合测试要求的传输线分别与示波器的第一通道和第二通道连接;所述示波器用于在向所述待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时采集所述功率探头的功率输出信号;所述计算机与所述示波器的输出端相连,且所述计算机用于根据所述功率输出信号获得所述待测板的射频功率。

【技术特征摘要】
1.一种射频功率时域测量系统,其特征在于,包括:示波器,计算机,待测板微带线和功率探头;所述功率探头和所述待测板微带线相对放置,所述功率探头位于所述待测板微带线上方并垂直于所述待测板微带线,且所述功率探头线圈中心投影在待测板微带线上;所述功率探头通过符合测试要求的传输线分别与示波器的第一通道和第二通道连接;所述示波器用于在向所述待测板微带线输入符合测试频率要求的测量信号时采集所述功率探头的功率输出信号;所述计算机与所述示波器的输出端相连,且所述计算机用于根据所述功率输出信号获得所述待测板的射频功率。2.根据权利要求1所述的射频功率时域测量系统,其特征在于,还包括夹具,支架和样品台;所述待测板微带线固定在所述样品台上;所述夹具安装在所述支架上,且用于固定所述功率探头,使所述功率探头垂直于所述待测板微带线,且使所述功率探头线圈投影在所述待测板微带线上。3.根据权利要求2所述的射频功率时域测量系统,其特征在于,所述功率探头线圈平面与所述待测板微带线平行,所述功率探头线圈中心投影在所述待测板微带线的中心处。4.根据权利要求1-3中任意一项所述的射频功率时域测量系统,其特征在于,所述待测板微带线两端通过SMA焊接在待测板上;所述待测板微带线一端连接负载,另一端用于接收所述符合测试频率要求的测量信号。5.根据权利要求4所述的射频功率时域测量系统,其特征在于,所述功率探头包括电压探头和电流探头;所述电流探头和电压探头分别通过符合测试要求的传输线与所述示波器的第一通道和第二通道连接。6.根据权利要求5所述的射频功率时域测量系统,其特征在于,所述电流探头包括采样线圈和第一SMA头射频连接器,所述采样线圈通过所述第一SMA头射频连接器与所述示波器的第一通道...

【专利技术属性】
技术研发人员:方文啸骆成阳贺致远王磊邵伟恒张鹏南黄云恩云飞
申请(专利权)人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所
类型:发明
国别省市:广东,44

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