The invention provides a bad analysis method for display devices. The bad analytical method of the display device is connected to a normally displayed second metal line through a bad second wire line through a first wire, so that the input signal of the defective second metal line is replaced by the original input signal of the second metal line normally displayed by the bar to the normal display of the bar. In the second metal line, if the second metal line displayed normally turns out to be bad, it can be judged that the display device has a bad display outside the display area, otherwise the display device has a bad display in the display area, which can improve the bad resolution efficiency of the display device and improve the undesirable solution of the display device. The analysis is accurate.
【技术实现步骤摘要】
显示装置不良解析方法
本专利技术涉及显示
,尤其涉及显示装置不良解析方法。
技术介绍
随着显示技术的发展,液晶显示器(LiquidCrystalDisplay,LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示装置中的主流。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶显示面板、对应液晶显示面板设置的背光模组以及与所述液晶显示面板电性连节点驱动电路。其中,液晶显示面板是液晶显示器的主要组件,但液晶显示面板本身不发光,需要借由背光模组提供的光源来正常显示影像。一般的液晶显示面板包括:阵列(TFT)基板、彩膜(CF)基板及位于阵列基板和彩膜基板之间的液晶层,其中阵列基板上形成薄膜晶体管阵列、与所述薄膜晶体管阵列电性连接的数据线、扫描线、公共电极线以及像素电极,彩膜基板上形成有公共电极及彩色滤光层,通过控制公共电极与像素电极之间的电压控制液晶旋转,通过彩色滤光层滤光实现色彩显示。在液晶显示面板制作时,其成型工艺一般包括:阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、彩膜(CF)制程、成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。在液晶显示器制程完成后可能会出现显示不良,引起显示不良的原因很多,包括:液晶显示面板中制作过程中有一些异物掉落到线路上以及膜层异常、在液晶显示面板与驱动电路连接时出现有异物掉落或出现刮伤或驱动电路异等,由于造成线不良的原因较多,需要考虑和观察的范围较广 ...
【技术保护点】
一种显示装置不良解析方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、提供一待解析显示装置,所述待解析显示装置包括显示面板(10)以及与所述显示面板(10)电性连接的驱动电路(20);所述显示面板(10)包括:多条平行间隔排列的第一金属线(12)和多条平行间隔排列的第二金属线(13),所述第二金属线(13)与所述驱动电路(20)电性连接,所述第一金属线(12)与所述第二金属线(13)绝缘交叉;步骤S2、根据所述待解析显示装置中显示不良的位置确定第一线路(100)、第二线路(200)及第三线路(300),所述第一线路(100)为与所述待解析显示装置中不良显示位置对应的一条第二金属线(13),所述第二线路(200)为与所述待解析显示装置中一正常显示位置对应的一条第二金属线(13),所述第三线路(300)为最靠近所述驱动电路(20)的一条第一金属线(12);步骤S3、进行借线处理,通过第三线路(300)在第一线路(100)和第二线路(200)之间形成电性连接,从而经由第三线路(300)将原本输入到第一线路(100)的驱动信号输入到第二线路(200)中,并将原本输入到第二线路(200)的驱动信号阻断; ...
【技术特征摘要】
1.一种显示装置不良解析方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、提供一待解析显示装置,所述待解析显示装置包括显示面板(10)以及与所述显示面板(10)电性连接的驱动电路(20);所述显示面板(10)包括:多条平行间隔排列的第一金属线(12)和多条平行间隔排列的第二金属线(13),所述第二金属线(13)与所述驱动电路(20)电性连接,所述第一金属线(12)与所述第二金属线(13)绝缘交叉;步骤S2、根据所述待解析显示装置中显示不良的位置确定第一线路(100)、第二线路(200)及第三线路(300),所述第一线路(100)为与所述待解析显示装置中不良显示位置对应的一条第二金属线(13),所述第二线路(200)为与所述待解析显示装置中一正常显示位置对应的一条第二金属线(13),所述第三线路(300)为最靠近所述驱动电路(20)的一条第一金属线(12);步骤S3、进行借线处理,通过第三线路(300)在第一线路(100)和第二线路(200)之间形成电性连接,从而经由第三线路(300)将原本输入到第一线路(100)的驱动信号输入到第二线路(200)中,并将原本输入到第二线路(200)的驱动信号阻断;步骤S4、点亮所述待解析显示装置,观察所述第二线路(200)对应的位置是否出现显示不良,若出现显示不良,则确定所述待解析显示装置的显示不良的原因位于显示区外,否则确定所述待解析显示装置的显示不良的原因为位于显示区内。2.如权利要求1所述的显示装置不良解析方法,其特征在于,所述多条平行间隔排列的第一金属线(12)包括多条公共电极线及多条扫描信号线。3.如权利要求1所述的显示装置不良解析方法,其特征在于,所述多条平行间隔排列的第二金属线(13)包括多条数据信号线。4.如权利要求2所述的显示装置不良解析方...
【专利技术属性】
技术研发人员:曾宝丹,蔡荣茂,陈清清,
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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