显示设备制造技术

技术编号:18085486 阅读:37 留言:0更新日期:2018-05-31 13:59
根据本发明专利技术的显示设备可包括:装配有多个像素的显示面板,多个像素连接至数据线和感测线;源极驱动IC,其被配置成经由感测线将数据电压提供至像素且装配有感测组块,感测组块使用经由感测线输入的信号获得与像素的驱动特性相关的感测数据;开关,其被配置成控制像素和感测组块之间经由感测线的连接;和电源,其被配置成提供测试电压或测试电流至感测组块。在开关断开像素和感测组块的连接的状态下,通过使用测试电压或测试电流,源极驱动IC可获得用于感测组块的校准数据。

【技术实现步骤摘要】
显示设备
本专利技术涉及一种显示设备,和更特别地,涉及一种校准用于实时感测显示面板特性的感测电路的显示设备。
技术介绍
有源矩阵型有机发光显示器覆盖有机发光二极管(以下,称作“OLED”),其自身发光,且优势在于快响应速度、高发光效率、高亮度和宽视角。自身发光的OLED包括阳极、阴极和形成于其间的有机化合物层。有机化合物层包括空穴注入层HIL、空穴传输层HTL、发射层EML、电子传输层ETL、和电子注入层EIL。当将驱动电压施加到阳极和阴极时,穿过HTL的空穴和穿过ETL的电子被传送到EML以形成激子。结果,发光层EML发出可见光。在有机发光二极管显示设备中,每一个都包括OLED的像素被设置成矩阵形式,且根据图像数据等级,通过控制OLED发出的光量控制亮度。每个像素都包括驱动元件,也就是驱动薄膜晶体管TFT,其根据在其栅极和源极之间施加的电压控制流过OLED的像素电流。OLED和驱动TFT的电特性随着时间变劣且会引起像素差。在像素之间的电偏移是图像质量变差的主要因素。公知的外部补偿技术是测量与像素电特性(驱动TFT的阈值电压和电子迁移率以及OLED的阈值电压)对应的感测信息和基于感测信息调制外部电路中的图像数据,以补偿像素之间的电特性偏差。在该外部补偿技术中,通过使用嵌入到源极驱动IC(集成电路)中的感测组块感测像素的电特性。以电流形式接收像素特性信号的感测组块包括具有电流积分器和采样/保持器(holder)的多个感测单元,和模数转换器ADC。电流积分器通过感测通路进行像素电流输入的积分以生成感测电压。该感测电压经由采样/保持器通过ADC,且通过ADC被转换成数字感测数据。时序控制器基于自ADC的数字感测数据计算像素补偿值用于补偿像素电特性变化,并基于像素补偿值校正输入图像数据。由于有机发光显示器包括用于以分段方式在区域基础(areabasis)上驱动显示面板的多个源极驱动IC,因此每一个都被嵌入到每个源极驱动IC中的多个感测组块以分段方式基于区域感测显示面板区域上的像素。当通过多个感测组块以分段方式感测像素时,由于在感测组块之间的偏移(offset)变化会导致感测精确度较低。尤其,在ADC内部,源极驱动IC特性依赖于温度或者周围环境变化,因此ADC的输出一定程度上在一定范围室温下保持恒定值,但是在室温以外的高温下,其改变为明显不同于室温下的值。ADC的该输出特性影响面板的像素感测数据,引起当显示图像时,在源极驱动IC负责的区域之间显示亮度差的组块模糊现象。图1在概念上示出了用于执行校准的技术,以消除由于装运之后ADC特性变化引起的组块模糊现象。由于包括在感测组块中的ADC特性偏移,导致源极驱动IC(或感测组块)之间的偏移不同。在装运显示设备之前,经由分开的工艺测量偏差且通过补偿减小偏移,因此当显示相同亮度数据时,在源极驱动IC负责的区域之间不会发生亮度差。但是,在装运之后,ADC特性改变且在感测组块的偏移之间产生偏差,因此,当显示相同亮度的数据时,会发生其中在源极驱动IC负责的区域之间亮度不均匀的现象,且在水平方向上亮度会变化。为了解决组块模糊现象,必须首先经由校准工艺补偿感测组块之间的偏移差。在校准工艺中,将测试电流或者测试电压V_reference施加到每个感测组块,获得反映ADC特性变化的用于校准的感测数据,且基于用于校准的感测数据计算感测组块当中能补偿偏移差的用于校准的补偿值。当校正输入图像数据时,通过参考用于校准的补偿值以及用于像素的补偿值,时序控制器增加了补偿精度。图2示出了其中驱动单元执行显示驱动期间的周期和感测单元执行校准操作和感测驱动期间的周期分开的现有技术。在显示器驱动停止其操作的显示器关闭期间校正感测组块当中的偏移差,该操作在空闲周期或者断电序列中执行,且主要在断电序列中执行。如上所述,由于校准操作在断电序列中进行,因此难以适当反映出显示器驱动期间由环境变化引起的感测组块的特性变化,且存在断电序列所需时间变长的问题。
技术实现思路
考虑到上述情况作出本专利技术。本专利技术的目的在于提供一种能够进行校准操作的显示设备,同时其实时反映显示驱动期间发生的环境变化。根据本专利技术实施例的显示设备可包括:装配有连接到数据线和感测线的多个像素的显示面板;被配置成经由感测线提供数据电压至像素且装配有感测组块的源极驱动IC,所述感测组块使用经由感测线输入的信号获得与像素的驱动特性相关的感测数据;被配置成控制像素和感测组块之间经由感测线的连接的开关;和被配置成提供测试电压或者测试电流至感测组块的电源,且在开关断开像素和感测组块的状态下,电源驱动IC可通过使用测试电压或测试电流获得对于感测组块的校准数据。在一实施例中,源极驱动IC可在显示驱动周期中执行获得校准数据的校准操作,在该显示驱动周期期间,通过提供数据电压而在显示面板上显示图像。在一实施例中,在一部分显示驱动周期中,参考电压被与电源分开的源经由感测线提供至像素。在一实施例中,开关可连接像素和感测组块,且在除了显示驱动周期之外的断电序列周期的垂直空闲周期中感测组块通过使用感测线的电压或电流而获得感测数据。在一实施例中,在电源提供测试电压至感测组块的情况下,感测组块可包括用于采样和保持感测线的电压的采样单元,和用于将采样的电压转换成数字值的模数转换器。在一实施例中,在电源提供测试电流至感测组块的情况下,感测组块可包括用于积分电流的积分器、用于采样和保持自积分器输出的电压的采样单元,和用于将采样值转换成数字值的模数转换器。在一实施例中,显示设备还包括控制器,其被配置成基于校准数据和感测数据补偿输入图像数据,并且将补偿数据提供至源极驱动IC。根据本专利技术的另一实施例,用于在显示设备中校准数据的方法可包括在显示驱动周期期间通过将数据电压施加至连接到数据线和感测线的多个像素而显示图像;获得用于感测组块的校准数据,感测组块通过将测试电压或测试电流提供至感测组块获得与像素的驱动特性相关的感测数据,同时断开像素和感测组块之间的连接;在除了显示驱动周期之外的周期期间,通过使用感测线的电压或电流获得感测数据同时连接像素和感测组块;和基于校准数据和感测数据补偿输入图像数据。在一实施例中,获得校准数据可在显示驱动周期中执行。在一实施例中,显示图像可包括在一部分显示驱动周期中经由感测线将与测试电压分离的参考电压提供至像素。在一实施例中,获得感测数据可在垂直空闲周期或者断电序列周期中执行。因此,可与显示驱动同时进行校准操作,使得由于显示驱动引起的环境变化导致的感测组块的变化被实时校准且补偿,且可以实时减小源极驱动IC之间的偏差,从而改善组块模糊现象和改善图像质量。而且,通过在显示驱动周期期间进行校准操作,可以减小断电序列所需的时间。附图说明包括附图以提供本专利技术的进一步理解,且附图结合到说明书中并构成说明书的一部分,附图示出了本专利技术的实施例且与该描述一起用于解释本专利技术的原理。附图中:图1在概念上示出了用于执行校准以消除由装运之后ADC特性变化引起的组块模糊现象的技术。图2示出了现有技术,其中驱动单元执行显示驱动的周期和感测单元执行校准操作及感测操作的周期分开。图3示出了提供参考电压至感测组块的电路,将该参考电压提供至像素用于校准感测电路。图4在概念上示出了根据本专利技术实施例通过将面本文档来自技高网
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显示设备

【技术保护点】
一种显示设备,包括:显示面板,装配有连接至数据线和感测线的多个像素;源极驱动IC,其被配置成经由所述感测线将数据电压提供至像素,且装配有使用经由所述感测线输入的信号获得与所述像素的驱动特性相关的感测数据的感测组块;开关,其被配置成控制所述像素和所述感测组块之间经由所述感测线的连接;和电源,其被配置成提供测试电压或测试电流至所述感测组块,其中,在所述开关断开所述像素和所述测试组块的连接的状态下,所述源极驱动IC使用所述测试电压或所述测试电流获得用于所述感测组块的校准数据。

【技术特征摘要】
2016.11.21 KR 10-2016-01548051.一种显示设备,包括:显示面板,装配有连接至数据线和感测线的多个像素;源极驱动IC,其被配置成经由所述感测线将数据电压提供至像素,且装配有使用经由所述感测线输入的信号获得与所述像素的驱动特性相关的感测数据的感测组块;开关,其被配置成控制所述像素和所述感测组块之间经由所述感测线的连接;和电源,其被配置成提供测试电压或测试电流至所述感测组块,其中,在所述开关断开所述像素和所述测试组块的连接的状态下,所述源极驱动IC使用所述测试电压或所述测试电流获得用于所述感测组块的校准数据。2.如权利要求1所述的显示设备,其中源极驱动IC进行校准操作,用于在显示面板上显示图像的显示驱动周期中通过提供数据电压获得校准数据。3.如权利要求2所述的显示设备,其中在显示驱动周期的一部分中,通过与电源分离的源,经由感测线将参考电压提供至像素。4.如权利要求2所述的显示设备,其中在除了显示驱动周期之外的断电序列周期的垂直空闲周期中,开关连接像素和感测组块,且感测组块通过使用感测线的电压或电流获得感测数据。5.如权利要求1所述的显示设备,其中在电源将测试电压提供至感测组块的情况下,感测组块包括用于采样和保持感测线的电压...

【专利技术属性】
技术研发人员:洪锡显裵宰润都旿成李泰瑛
申请(专利权)人:乐金显示有限公司
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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