一种三维度尺寸测量平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三维度尺寸测量平台，包括框架、大理石平台、左导轨支架、右导轨支架、导轨、横梁，所述框架右侧中间设有显示器支架，所述框架上方设有立柱，所述立柱设在框架顶部的四周，所述立柱上方设有大理石平台，所述大理石平台通过减震垫与立柱连接，所述大理石平台左右两端设有左导轨支架和右导轨支架，所述右导轨支架上方设有直线电机，所述左导轨支架上方设有导轨条，所述左导轨支架、右导轨支架上方设有横梁，所述横梁左端通过滑块与导轨条连接，所述横梁右端通过滑座与直线电机连接，所述横梁上设有导轨，所述导轨上设有与导轨滑动连接的调整平台，所述调整平台连接有3D相机，本实用新型专利技术，结构简单，精确度高，使用方便。

【技术实现步骤摘要】
一种三维度尺寸测量平台
本技术涉及三位测量
，具体为一种三维度尺寸测量平台。
技术介绍
三维测量技术应用于工业自动检测、产品质量控制、逆向设计、虚拟现实等众多领域。巨大的应用市场需求，促使了各种三维测量方法和技术的快速发展，涌现出的商业测量仪器包括接触式的三坐标测量机和关节坐标测量机，以及基于声学、光学和电磁学的非接触式测量设备。随着计算机视觉、数字图像采集技术和精密光学器件的发展，越来越多的三维光学测量技术快速进入商业应用阶段。而基于结构光的三维轮廓测量由于具有无接触、精度高，速度快和自动化程度高的特点，在机器人导航、模具制造、3D打印和在线质量检查等领域得到了广泛的关注和发展。现有技术的三次元检测机，在三维测量上一般使用点激光进行高度检测，点激光仅检测一点，表面的凹凸、弧度状态会让检测产生误差，而且金属表面很容易出现此类问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种三维度尺寸测量平台，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种三维度尺寸测量平台，包括框架、大理石平台、左导轨支架、右导轨支架、导轨、横梁，所述框架右侧中间设有显示器支架，所述框架上方设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三维度尺寸测量平台，包括框架(1)、大理石平台(14)、左导轨支架(18)、右导轨支架(15)、导轨(3)、横梁(17)，其特征在于：所述框架(1)右侧中间设有显示器支架(16)，所述框架(1)上方设有立柱(12)，所述立柱(12)设在框架(1)顶部的四周，所述立柱(12)上方设有大理石平台(14)，所述大理石平台(14)通过减震垫(13)与立柱(12)连接，所述大理石平台(14)左右两端设有左导轨支架(18)和右导轨支架(15)，所述右导轨支架(15)上方设有直线电机(2)，所述左导轨支架(18)上方设有导轨条(10)，所述左导轨支架(18)、右导轨支架(15)上方设有横梁(17)，所述...

【技术特征摘要】
1.一种三维度尺寸测量平台，包括框架(1)、大理石平台(14)、左导轨支架(18)、右导轨支架(15)、导轨(3)、横梁(17)，其特征在于：所述框架(1)右侧中间设有显示器支架(16)，所述框架(1)上方设有立柱(12)，所述立柱(12)设在框架(1)顶部的四周，所述立柱(12)上方设有大理石平台(14)，所述大理石平台(14)通过减震垫(13)与立柱(12)连接，所述大理石平台(14)左右两端设有左导轨支架(18)和右导轨支架(15)，所述右导轨支架(15)上方设有直线电机(2)，所述左导轨支架(18)上方设有导轨条(10)，所述左导轨支架(18)、右导轨支架(15)上方设有横梁(17)，所述横梁(17)左端通过滑块与导轨条(10)连接，所述横梁(17)右端通过滑座与直线电机(2)连接，所述横梁(17)上设有导轨(3)，所述导轨(3)上设有与导轨(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪敏珏，邹启海，
申请(专利权)人：昆山兴基德自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32