一种激光分系统综合测试设备技术方案

本发明专利技术公开了一种激光分系统综合测试设备，包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台，所述控制柜、操作显示平台、功率测量装置均设置在光学平台上表面，所述功率测量装置和操作显示平台平行设置在控制柜的一侧，所述控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置，所述大口径平行光管的光束出射平行性≤5″，有效光学口径为Φ300mm。本发明专利技术提供的激光分系统综合测试设备可以模拟测程和测量光轴精度，解决了目前激光测试设备功能单一检测精度低的问题，大大提高了激光分系统的测试调控效率。

【技术实现步骤摘要】
一种激光分系统综合测试设备
本专利技术涉及光学测试
，特别涉及一种激光分系统综合测试设备。
技术介绍
在激光照射瞄准等激光器组件生产中,需要对组件的相关性能参数，包括激光器光束本身的性能特性，如光束的发散角能量和脉宽等激光光轴与发射天线光轴的同轴度，以及安装基准的偏差、发射光轴与接收光轴的同轴度等进行测试，便于激光器组件的辅助装配同时还需要离线对组件的整体性能进行测试，而现有的激光参数检测仪是针对各参数独立测量，没有一个综合的激光参数功能测试平台，不仅测量的精度和效率低，而且测量参数不齐全，这些因素已成为制约激光产品研制激光瞄准系统性能提高的颈瓶，因此需研制高精度技术指标及要求的综合检测系统。
技术实现思路
为克服现有技术中存在的上述问题，本专利技术提供了一种基于光电测量的焊接辅助定位仪。具体技术方案如下：一种激光分系统综合测试设备，包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台，所述控制柜、操作显示平台、功率测量装置均设置在光学平台上表面，所述功率测量装置和操作显示平台平行设置在控制柜的一侧，所述控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置，所述大口径平行光管的光束出射平行性≤5″，有效光学口径为Φ300mm。优选的，所述大口径离轴抛物面反射式平行光管为全波段平行光管，包括依次设置的离轴抛物面反射镜、折光反射镜和目标靶。优选的，还包括靶切换导轨，所述靶切换导轨与目标靶相连，所述靶切换导轨包括二维伺服导轨和依次设置在二维伺服导轨上方的寻像指示激光、1064nm模拟激光点光源、带照明可见自准直分划板和激光靶。优选的，所述离轴抛物面反射镜的外形尺寸为Φ320mmX45mm(等厚)，母抛物面焦距为2500mm±5％，面形误差为RMS≤1/20λλ＝0.6328μm)，表面镀膜反射率≥90％(工作波段)。优选的，所述模拟测程装置包括光学陷阱、光电探测器、高速触发器、精密延时器、1064nm模拟激光光源和平行光管，所述光学陷阱用于收集来自产品发射的激光，所述探测器设置在光学陷阱内，所述高速触发器、精密延时器和1064nm模拟激光光源依次相连。优选的，所述功率测量装置包括聚焦光学镜头、光阑、反射镜组、功率计、外壳和移动导轨，所述外壳设置在移动导轨上，所述外壳的一侧设置有开口，所述聚焦光学镜头设置在开口处，所述光阑设置在聚焦光学镜头外部，所述反射镜组合功率计相对设置在外壳内部。本专利技术与现有技术相比具有以下有益效果：本专利技术提供了一种激光分系统综合测试设备，包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台，控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置，本专利技术解决了激光测试设备功能单一、检测精度低的问题，优化了测试光路，降低测试设备的数量和成本，提高了性价比。附图说明图1为本专利技术一种激光分系统综合测试设备的系统框图；图2为本专利技术一种激光分系统综合测试设备的正视图；图3为本专利技术一种激光分系统综合测试设备的侧视图；图4为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中大口径离轴抛物面反射式平行光管的结构示意图；图5为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中靶切换导轨的结构示意图；图6为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中测程模拟装置的工作原理图；图7为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中测程模拟装置的结构示意图；图8为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中模拟激光光源的组成框图；图9为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中精密延时器的原理框图；图10为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中光轴校正装置的工作原理图；图11为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中光轴精度测量装置工作原理图；图12为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中功率检测装置的结构示意图；图13为本专利技术一种激光分系统综合测试设备中控制系统框图。图中，1-大口径离轴抛物面反射式平行光管，2-模拟测程装置，3-光轴精度测量装置，4-基准，5-操作显示平台，6-功率测量装置，7-控制柜，8-光学平台，9-光电探测器，10-光轴偏差图像采集传感器，11-离轴抛物面反射镜，12-切换导轨，13-目标靶，14-触发器，15-延时器，16-模拟光源，17-靶面图像采集光轴平行性测量系统，18-光学陷阱，19-折光反射镜，20-分划板，21-激光靶，22-二维伺服导轨，23-1064nm点光源，24-寻像指示激光，25-靶面图像采集装置，26-校正反射镜，27-可见光源，28-激光衰减装置，29-聚焦光学镜头、30-光阑、31-反射镜组、32-功率计、33-外壳、34-移动导轨具体实施方式下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本专利技术，但并不构成对本专利技术的限定。此外，下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。本专利技术公开了一种激光分系统综合测试设备，如图1、2和3所示，包括控制柜7、操作显示平台5、功率测量装置6和光学平台8，控制柜7、操作显示平台5、功率测量装置6均设置在光学平台8上表面，功率测量装置6和操作显示平台5平行设置在控制柜7的一侧，控制柜7内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管1、模拟测程装置2和光轴精度测量装置3。如图4所示，大口径离轴抛物面反射式平行光管1为全波段平行光管，包括依次设置的离轴抛物面反射镜11、折光反射镜19和目标靶13。大口径离轴抛物面反射式平行光管1是模拟测程装置2和光轴精度测量装置3的共用部件，由离轴抛物面反射镜11、折光反射镜19、目标靶13等和结构件等组成全波段平行光管，大口径离轴抛物面反射式平行光管1除保证离轴抛物面反射镜11面形加工精度外，安装时必须经过精密校正，才能保证出射光束的像差、光束束散角等技术指标要求。靶板切换导轨12在伺服电机的控制下精确切换目标靶13。折光反射镜19是为了折叠光路，减小整个测试设备的体积。还包括靶切换导轨12，靶切换导轨12与目标靶13相连，靶切换导轨12包括二维伺服导轨22和依次设置在二维伺服导轨22上方的寻像指示激光24、1064nm模拟激光点光源23、带照明可见自准直分划板20和激光靶21。靶切换导轨12上安装有带照明可见自准直分划板20、激光靶21、1064nm模拟激光点光源23、寻像指示激光24，在伺服电机的驱动下，进行精确切换。其中，大口径平行光管的光束出射平行性≤5″，有效光学口径为Φ300mm，离轴抛物面反射镜11的外形尺寸为Φ320mmX45mm(等厚)，母抛物面焦距为2500mm±5％，面形误差为RMS≤1/20λ(λ＝0.6328μm)，表面镀膜反射率≥90％(工作波段)。如图6和7所示，模拟测程装置2包括光学陷阱18、光电探测器9、高速触发器14、精密延时器15、1064nm模拟激光光源16和平行光管，光学陷阱18用于收集来自产品发射的激光，探测器设置在光学陷阱18内，高速触发器14、精密延时器15和1064nm模拟激光光源16依次相连。模拟测程装置2由光学陷阱18、高灵敏度光电探测器9、高速触发器14、精密延时器15、1064nm模拟激光光源16、平行光管等组成。光学陷阱18收集来自产品发射的激光，高灵敏度探测器放置在光学陷本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光分系统综合测试设备，其特征在于：包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台，所述控制柜、操作显示平台、功率测量装置均设置在光学平台上表面，所述功率测量装置和操作显示平台平行设置在控制柜的一侧，所述控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置，所述大口径平行光管的光束出射平行性≤5″，有效光学口径为Φ300mm。

【技术特征摘要】
1.一种激光分系统综合测试设备，其特征在于：包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台，所述控制柜、操作显示平台、功率测量装置均设置在光学平台上表面，所述功率测量装置和操作显示平台平行设置在控制柜的一侧，所述控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置，所述大口径平行光管的光束出射平行性≤5″，有效光学口径为Φ300mm。2.根据权利要求1所述的一种激光分系统综合测试设备，其特征在于：所述大口径离轴抛物面反射式平行光管为全波段平行光管，包括依次设置的离轴抛物面反射镜、折光反射镜和目标靶。3.根据权利要求2所述的一种激光分系统综合测试设备，其特征在于：还包括靶切换导轨，所述靶切换导轨与目标靶相连，所述靶切换导轨包括二维伺服导轨和依次设置在二维伺服导轨上方的寻像指示激光、1064nm模拟激光点光源、带照明可见自准直分划板和激光靶。4.根据权利要求2所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴李宗，张德祥，王锦华，陈轩，
申请(专利权)人：扬州莱达光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32