SAR模数转换器选择性同步制造技术

本公开提供了SAR模数转换器选择性同步。逐次逼近路由(SAR)模数转换器集成电路可包括多个模数转换器(ADC)共享参考电压，该参考电压可以被对参考电压进行采样的数字转换器(DAC)的电容器阵列扰动，这可以限制转换精度。在ADC间同步每个位试验可以提高准确性，但可能会减慢转换速度。在ADC之间同步至少一个但少于N个位测试的子集可以帮助获得速度和鲁棒性。这种选择子集可包括位试验对应于预定义的关键事件，例如特别期望稳定的参考电压节点的那些事件。

Selective synchronization of SAR analog to digital converter

This disclosure provides selective synchronization of SAR analog-to-digital converters. The successive approximation routing (SAR) analog to digital converter integrated circuit can include a multiple analog to digital converter (ADC) shared reference voltage, which may be disturbed by the capacitor array of the digital converter (DAC) that samples the reference voltage, which can limit the conversion precision. Synchronizing each bit test between ADC can improve accuracy, but it may slow down the conversion speed. Synchronizing at least one but less than N bit test subset between ADC helps speed and robustness. This subset of options can include bit tests corresponding to pre-defined key events, such as those that specifically expect stable reference voltage nodes.

【技术实现步骤摘要】
SAR模数转换器选择性同步
本专利技术通常而非限制性涉及集中电路，更特别地涉及逐次逼近路由(SAR)模数转换器(ADC)电路及其选择性同步。
技术介绍
模数转换器(ADC)电路可以用于将模拟信号转换成数字信号，然后可以在数字域中进一步处理或使用数字信号。逐次逼近路由(SAR)ADC电路可以执行位试验以将模拟信号的部分与参考电压进行比较，以确定表示模拟信号的特定采样的数字字的数字位值。SARADC可以使用数模转换器(DAC)的电容器阵列来执行位试验以确定数字字的相应数字位值。位试验可以涉及一定量的时间，例如DAC信号可能需要从瞬态值稳定到稳定的值，用于前置放大器以将DAC信号的增益放大提供到特定水平，并且对于锁存电路重新产生前置放大器的输出，给出一个位试验结果。然而，高速位试验需要获得ADC的高速信号转换。多通道ADC集成电路(IC)可包括多个通道，个人通道包括可以共享公共精密参考电压的单独ADC，用于执行位测试，例如可以提供、稳定并存储在大的片外电容器上。
技术实现思路
本专利技术人尤其认识到，ADC之间的共享参考电压可能会在ADC之间产生串扰，特别是当ADC被允许异步工作时，可能需要增本文档来自技高网...

【技术保护点】
逐次逼近路由(SAR)多通道模数转换器(ADC)集成电路器件，包括：相同集成电路上的多个N位ADC；由多个ADC共享的参考电压电路，用于执行位试验将模拟信号样本转换为N位数字字；和同步电路，用于同步跨越多个ADC中的至少两个的选择子集的位试验中的至少一个但少于N个的预定义子集。

【技术特征摘要】
2016.11.04 US 15/343,3611.逐次逼近路由(SAR)多通道模数转换器(ADC)集成电路器件，包括：相同集成电路上的多个N位ADC；由多个ADC共享的参考电压电路，用于执行位试验将模拟信号样本转换为N位数字字；和同步电路，用于同步跨越多个ADC中的至少两个的选择子集的位试验中的至少一个但少于N个的预定义子集。2.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集包括以下中的至少一种：(1)用于对流水线或其他阶段ADC的第一阶段的残留放大器进行采样的位试验；(2)在第一阶段ADC上加载辅助微型ADC的位试验结果时发生的流水线或其他阶段ADC的第一阶段ADC的位试验；(3)数模转换器(DAC)的最高有效位(MSB)位试验；或(4)N位的选择位试验将最大的电容值放置在参考电压节点上。3.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集包括用于对流水线或其他阶段ADC的第一阶段的残留放大器进行采样的位试验。4.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集包括在第一阶段ADC上加载辅助微型ADC的位试验结果时发生的流水线或其他阶段ADC的第一阶段ADC的位试验。5.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集包括数模转换器(DAC)的最高有效位(MSB)位试验。6.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集包括N位的选择位试验将最大的电容值放置在参考电压节点上。7.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集限制于一个或多个位试验，其中数模(DAC)转换器误差就在SAR位试验决定超过N位模数转换的误差预算之前。8.权利要求1所述的器件，其中同步发生在位试验的预定义子集中的同步位试验的开头，以便在ADC之间同步。9.权利要求1所述的器件，其中所述预定义子集仅限于以下之一：(1)用于对流水线或其他阶段ADC的第一阶段的残留放大器进行采样的位试验；(2)在第一阶段ADC上加载辅助微型ADC的位试验结果时发生的流水线或其他阶段ADC的第一阶段ADC的位试验；(3)最高有效位(MSB)位试验；或(4)N位的选择位试验将最大的电容值放置在参考电压节点上。10.逐次逼近路由(SAR)多通道模数转换(ADC)方法，包括：在相同集成电路上使用不同通道执行多个N位ADC，包括各自的ADC电路和共享参考信号以用于SAR位试验；和跨越至少两个通道的选择子集同步位试验的至少一个但少于N个的预定义子集。11.权利要求10所述的方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·马达恩，S·蒙纳吉，
申请(专利权)人：亚德诺半导体集团，
类型：发明
国别省市：百慕大群岛,BM