一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法和设备技术

技术编号:17878529 阅读:131 留言:0更新日期:2018-05-06 00:27
本发明专利技术公开了一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法,包括如下步骤:第一步、将BQstudio软件与对应的Firmware匹配,并且设置好测试参数,导出srec格式文件;第二步、把电源管理芯片的updater软件配置的srec格式文件替换为步骤S1中导出的srec文件;第三步、使用记事本打开电源管理芯片的updater软件中的pcfg格式文件,并修改Firmware的版本号;第四步、使用记事本打开电源管理芯片的updater软件中的bqUpdater.ini文件,并修改其中引用的srec文件;第五步、把修改好的updater软件安装到测试主机上。本发明专利技术还公开一种实现BQ电量管理芯片快速测试的测试设备。本发明专利技术用于实现电池电量管理芯片的快速测试。

A method and equipment for rapid test of BQ power management chip

The invention discloses a fast test method for the BQ power management chip, which includes the following steps: first step, matching the BQstudio software with the corresponding Firmware, setting up the test parameters, exporting the SREC format file, and replacing the SREC format file of the updater software configuration of the power management chip to step S1 in the second step. The SREC file exported in the third step, using the notebook to open the PCFG format file in the updater software of the power management chip, and modify the version number of the Firmware; the fourth step, using the Notepad to open the bqUpdater.ini file in the updater software of the power management chip, and modify the reference of the SREC file; the fifth step, the repair of the file. The modified updater software is installed on the test host. The invention also discloses a testing device for realizing the fast test of the BQ power management chip. The invention is used for realizing fast test of battery power management chip.

【技术实现步骤摘要】
一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法和设备
本专利技术涉及电池电量测试
,具体涉及一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法和设备。
技术介绍
随着市场对于电池电量显示精度的要求越来越高,终端往往会在电芯端加上一颗高精度的电量管理芯片(如:TI的电量管理芯片),以满足市场的需求。但往往对于不同的终端会有不同的芯片类型,甚至为了满足各类客户的要求,芯片厂商针对同一类型的芯片也会定制不同版本的Firmware,而芯片出厂时并不会改变;需要我们用设备升级成不同的Firmware。对于电量管理芯片,往往需要烧录各类参数以满足不同电芯和终端的需求。目前对于不同类型的芯片和同一类型(不同Firmware)烧录方式主要是开发专用的烧录设备(只能烧录参数进去,无法改变底层的Firmware);或者使用专用升级设备,升级Firmware后再烧录参数。这类方式的烧录目前来看因芯片类型种类繁多,每一款都需要开发新设备,设备投入较大,且价格不菲。故我们通过相应的验证总结,完善出一种能在现有多通道升级设备(EV2300扩展成12通道)上满足升级Firmware版本的同时烧录参数的方法。
技术实现思路
本专利技本文档来自技高网
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一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法和设备

【技术保护点】
一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、将BQstudio软件与对应的Firmware匹配,并且设置好测试参数,导出srec格式文件;S2、把电源管理芯片的updater软件配置的srec格式文件替换为步骤S1中导出的srec文件;S3、使用记事本打开电源管理芯片的updater软件中的pcfg格式文件,并修改Firmware的版本号;S4、使用记事本打开电源管理芯片的updater软件中的bqUpdater.ini文件,并修改其中引用的srec文件;S5、把修改好的updater软件安装到测试主机上。

【技术特征摘要】
1.一种实现BQ电量管理芯片快速测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、将BQstudio软件与对应的Firmware匹配,并且设置好测试参数,导出srec格式文件;S2、把电源管理芯片的updater软件配置的srec格式文件替换为步骤S1中导出的srec文件;S3、使用记事本打开电源管理芯片的updater软件中的pcfg格式文件,并修改Firmware的版本号;S4、使用记事本打开电源管理芯片的updater软件中的bqUpdater.ini文件,并修改其中引用的srec文件;S5、把修改好的updater软件安装到测试主机上。2.根据权利要求1所述的实现BQ电量管理芯片快速测试的方法,其特征在于:步骤S5中所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:王李成张伟朱立湘尹志明林军
申请(专利权)人:惠州市蓝微电子有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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