一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片制造技术

本发明专利技术公开了一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片，上层芯片、中间薄膜和下层芯片依次配合，共同组成芯片的整体；上层芯片的底面设置有微通道结构，微通道结构与中间薄膜直接接触；下层芯片的上表面设置有凹槽，凹槽与中间薄膜直接接触，凹槽的位置与上层芯片微通道结构的位置相对应；上层芯片和下层芯片的材质是PDMS即聚二甲基硅氧烷或PMMA即聚甲基丙烯酸甲酯，中间薄膜选用PDMS软质材料以保证可变形。通过本芯片能够测量下游壁面可变形的微通道中的压力变化。

Microfluidic chip for measuring pressure changes in downstream microchannels with deformable microchannels

The invention discloses a microfluidic chip which is used to measure the pressure change in the deformable downstream wall of the microchannel. The upper chip, the middle film and the lower layer are in turn to form the whole chip. The bottom surface of the upper chip has a microchannel structure, the microchannel structure is directly contact with the middle film, and the lower layer chip. There are grooves on the upper surface. The groove is in direct contact with the middle film. The position of the groove corresponds to the position of the microchannel structure of the upper chip. The material of the upper and lower chip is PDMS, that is, poly two methyl siloxane or PMMA, polymethyl methacrylate, and the middle thin film selects PDMS soft material to ensure the deformability. The pressure changes in the micro channel of the downstream wall can be measured by this chip.

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片
本专利技术涉及一种新型微流控芯片，利用交汇处液体界面的变化来测量下游壁面可变形的微通道中的压力变化。
技术介绍
近年来，以微液滴技术为核心的微流控技术得到迅速发展，微液滴系统具有突出优点，体积小，比表面积大，速度快，通量高，大小均匀，体系封闭等，使得微液滴技术已经在物理、化学、生物以及多学科交叉等领域取得广泛应用。在微液滴技术中，液滴/气泡的生成和运动会产生额外压力，对通道内部的压力和速度分布产生很大影响，增加了系统的功能性和复杂性。目前实验和工程中经常会利用液滴/气泡产生的额外压力来满足不同需求，比如该压力可以作为一种逻辑信号来控制逻辑门或逻辑开关；多重乳化带来的压力变化在石油开采中也起到非常重要的作用，可以借助微液滴技术模拟地下多孔环境，并在实验室层面测量该压力。此外，液滴/气泡存在时两相交界面增加的非线性可以用来扰动低雷诺数下系统的层流流动状况，增强连续相的混合效率。这些功能的实现需要了解各种流动条件下不同尺寸液滴/气泡对系统压力变化的具体作用规律。文献中已经报道过很多在微尺度条件测量该压力的方法，最直接的一种就是将微型本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片，其特征在于：上层芯片、中间薄膜和下层芯片依次配合，共同组成芯片的整体；上层芯片的底面设置有微通道结构，微通道结构与中间薄膜直接接触；下层芯片的上表面设置有凹槽，凹槽与中间薄膜直接接触，凹槽的位置与上层芯片微通道结构的位置相对应；上层芯片的底面两侧分别设置有一条路径，一侧路径需要测量其下游可变形壁面作用下的压力变化，定义为微通道A，另一侧路径用来作为参照，对比测量微通道A中压力变化，定义为微通道B；微通道A包括入口、连接通道和出口，入口和出口通过连接通道连接，用于通道壁面变形的凹槽在连接通道上隔着中间薄膜配合，凹槽提供配合处发生变形的空间...

【技术特征摘要】
1.一种用于测量下游壁面可变形的微通道中压力变化的微流控芯片，其特征在于：上层芯片、中间薄膜和下层芯片依次配合，共同组成芯片的整体；上层芯片的底面设置有微通道结构，微通道结构与中间薄膜直接接触；下层芯片的上表面设置有凹槽，凹槽与中间薄膜直接接触，凹槽的位置与上层芯片微通道结构的位置相对应；上层芯片的底面两侧分别设置有一条路径，一侧路径需要测量其下游可变形壁面作用下的压力变化，定义为微通道A，另一侧路径用来作为参照，对比测量微通道A中压力变化，定义为微通道B；微通道A包括入口、连接通道和出口，入口和出口通过连接通道连接，用于通道壁面变形的凹槽在连接通道上隔着中间薄膜配合，凹槽提供配合处发生变形的空间，软质中间薄膜使与凹槽配合的壁面在内部压力的作用下发生变形；微通道B也包括入口、连接通道和出口，入口和出口通过连接通道连接；由于微通道B不能受到凹槽的干扰组成可变形壁面，所以连接通道设置为折线形以绕开凹槽的设置位置；微通道A和微通道B在凹槽配合处的上游设置一个连接口，传递微通道两侧的压差变化；本芯片利用连接口液体界面的位移...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘赵淼，王翔，逄燕，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：北京,11