一种指纹识别芯片测试系统技术方案

技术编号:17741340 阅读:89 留言:0更新日期:2018-04-18 16:04
本实用新型专利技术涉及芯片测试设备技术领域,特别涉及一种指纹识别芯片测试系统。在待测位的上方设置压头,该压头由控制单元控制,在检测到待测位上有芯片时就通过气阀把压头内的导电胶头推到待测位位置来抵住芯片,对指纹识别芯片加压来实现按压电容效果,而且导电胶头不会损伤芯片表面,在测试的过程中不会在芯片表面留下明显的印痕导致外观不良的情况发生。

A fingerprint identification chip test system

The utility model relates to the technical field of chip testing equipment, in particular to a fingerprint identification chip testing system. Set the pressure head at the top of the measured position, the pressure head is controlled by the control unit, the detection to the test chip position when the conductive adhesive through the valve head in the push to position to be measured to withstand the pressure of the fingerprint identification chip, chip to realize the compression effect of capacitance, and conductive adhesive the head will not damage the surface of the chip, not leave clear impression on the surface of the chip leads to the appearance of a bad situation in the process of testing.

【技术实现步骤摘要】
一种指纹识别芯片测试系统
本技术涉及芯片测试设备
,特别涉及一种指纹识别芯片测试系统。
技术介绍
指纹芯片,是指内嵌指纹识别技术的芯片产品,能够片上实现指纹的图像采集、特征提取、特征比对的芯片,可以方便的实现指纹识别的功能,大大降低了指纹识别行业的门槛,对指纹识别的推广具有十分积极的推动作用。随着指纹识别芯片在手机、电脑等产品中的应用,市场对指纹识别芯片的需求越来越大,指纹识别芯片测试作为芯片生产过程中极为重要的一环,也受到重视。指纹识别芯片在测试时需要对指纹按压区域的有效性进行测试,传统的测试中,一般是把芯片的周侧承载在工作台上,在芯片的正下方设置有吸嘴,吸嘴吸住芯片从而模拟使用时对芯片施加压力。然而这种对芯片施加压力的方式和芯片实际使用时用手按压的情况相差太远,测试效果不理想,使得指纹按压区域的检测误差较大,而且吸嘴向下吸住芯片时与芯片的接触面积较大,可能在芯片表面留下明显的印痕,引起外观不良的情况。
技术实现思路
本技术的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种指纹识别芯片测试系统,用以提高指纹识别芯片的测试准确度。专利技术人想到用导电胶头对指纹识别芯片施压可以实现指纹本文档来自技高网...
一种指纹识别芯片测试系统

【技术保护点】
一种指纹识别芯片测试系统,其特征在于,包括芯片检测单元、控制单元、开关单元和压头,所述压头下方设有待测位,所述压头内设有导电胶头和用于把所述导电胶头推到所述待测位的气阀,所述芯片检测单元在芯片移到待测位时发出到位信号给控制单元,所述控制单元根据接收到的到位信号发出启动信号给所述开关单元,所述开关单元根据接收到的启动信号导通从而打开所述气阀来推动所述导电胶头。

【技术特征摘要】
1.一种指纹识别芯片测试系统,其特征在于,包括芯片检测单元、控制单元、开关单元和压头,所述压头下方设有待测位,所述压头内设有导电胶头和用于把所述导电胶头推到所述待测位的气阀,所述芯片检测单元在芯片移到待测位时发出到位信号给控制单元,所述控制单元根据接收到的到位信号发出启动信号给所述开关单元,所述开关单元根据接收到的启动信号导通从而打开所述气阀来推动所述导电胶头。2.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试系统,其特征在于,所述芯片检测单元包括用于在待测位内存在芯片时发出到位信号的红外传感器,该红外传感器设置在待测位的侧边。3.根据权利要求1所述的指纹识别芯片测试系统,其特征在于,所述待测位设有两个用于轮流放置芯片的卡位。4.根据权利要求3所述的指纹识别芯片测试系统,其特征在于,这两个卡位共用一个芯片检测单元,两个卡位分别放置芯片时芯片检测单元发出的到位信号分别是高电平和低电平。5.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙文涛
申请(专利权)人:广东利扬芯片测试股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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