自动测量黑度范围的光学密度计及光学密度计算方法技术

本发明专利技术属于无损检测射线检测技术领域，特别是涉及一种自动测量黑度范围的光学密度计，包括光源控制系统、光源接收装置、履带传送机和中控系统；所述光源控制系统与光源接收装置相对设置，在光源控制系统与光源接收装置之间放置有多张底片，底片安放在履带传动机的传送带上，所述中控系统分别与光源控制系统、光源接收装置和履带传送机电连接。本发明专利技术还提供一种光学密度计算方法。本发明专利技术解决了目前传统黑度计效率低、劳动强度大、测量误差大、不规范等问题，引入线性传感阵列的概念，该概念摒弃掉传统的单颗点式传感器，大幅度提升整张底片的自动测量效率。

【技术实现步骤摘要】
自动测量黑度范围的光学密度计及光学密度计算方法
本专利技术属于无损检测射线检测
，特别是涉及一种自动测量黑度范围的光学密度计及光学密度计算方法。
技术介绍
光学密度计又名黑度计，反映了射线底片的曝光程度，是射线照相的重要辅助设备，底片密度测量在射线底片质量评价中具有非常重要的意义。射线照相底片的黑度均用透射式黑度计测量。目前广泛使用的是数字显示黑度计，其结构原理将收到的模拟光信号转换为数字电信号，由于其结构为单颗光传感器结构，因此只能测量评定范围内的单点黑度值，如果测量评定范围内的黑度范围，就必须要测量多个点，不但造成测量效率低、劳动强度大，还存在测量误差大、不规范的严重问题。由于现市面的黑度计均为单点测量，因此很多情况下黑度计很少被使用在实际黑度的测量当中，只有当应付各种取证及检查时才进行校验和使用，正确的做法是应当和观片灯一起使用，经常随时使用，发现底片黑度有问题要随时测量，正是由于传统黑度计使用不方便，才造成这种情况。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的是针对目前传统黑度计效率低、劳动强度大、测量误差大、不规范等问题，提出一种自动测量黑度范围的光学密本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动测量黑度范围的光学密度计，其特征在于，包括光源控制系统、光源接收装置、履带传送机和中控系统；所述光源控制系统与光源接收装置相对设置，在光源控制系统与光源接收装置之间放置有多张底片，底片安放在履带传动机的传送带上，所述中控系统分别与光源控制系统、光源接收装置和履带传送机电连接。

【技术特征摘要】
1.一种自动测量黑度范围的光学密度计，其特征在于，包括光源控制系统、光源接收装置、履带传送机和中控系统；所述光源控制系统与光源接收装置相对设置，在光源控制系统与光源接收装置之间放置有多张底片，底片安放在履带传动机的传送带上，所述中控系统分别与光源控制系统、光源接收装置和履带传送机电连接。2.根据权利要求1所述的自动测量黑度范围的光学密度计，其特征在于，所述光源控制系统包括光源、第一光传感器、光电转换器、电压比较器和ASK-幅度键控，所述第一光传感器采集光源的光强信号，通过光电转换器将光强信号转换为电信号，并通过电压比较器进行比较后，再由ASK-幅度键控对光源的光强进行调节。3.根据权利要求1所述的自动测量黑度范围的光学密度计，其特征在于，所述光源接收装置包括第二光传感器。4.根据权利要求3所述的自动测量黑度范围的光学密度计，其特征在于，所述第二光传感器采用线性传感阵列排列。5.根据权利要求4所述的自动测量黑度范围的光学密度计，其特征在于，每个所述第二光传感器之间通过微型隔...

【专利技术属性】
技术研发人员：林如意，吴红伟，娄旭耀，郭浩男，林茁，赵丽，李丽，董庆锋，郭云龙，段柯，
申请(专利权)人：安阳中科工程检测有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41