一种电子锁测试装置制造方法及图纸

技术编号:17679927 阅读:24 留言:0更新日期:2018-04-11 22:25
本实用新型专利技术公开了一种电子锁测试装置,其包括电源,与所述电源连接的控制器,以及分别与电子锁和所述控制器连接的第一控制开关;所述控制器上设置有用于控制电子锁开启与关闭的第二控制开关,所述第二控制开关与电子锁连接;所述第一控制开关在电子锁开启时闭合并将电子锁开启信号传送给所述控制器,所述第一控制开关在电子锁锁定时断开。所述电子锁测试装置可以自动循环完成电子锁的多次开启与锁定,无需人工记录电子锁开启次数,且体积小,不占用过多空间。

【技术实现步骤摘要】
一种电子锁测试装置
本技术涉及锁具
,尤其涉及一种电子锁测试装置。
技术介绍
如今随着技术的发展,智能电子锁得到广泛普及,用户数量不断增加,例如,越来越多的人不再携带与不同锁具匹配的不同钥匙,而是通过输入不同的密码,来直接打开对应的房门。进一步,为了保证可以向用户提供高质量的电子锁,对电子锁进行必要的性能测试就成为生产过程中不可或缺的一个重要环节。目前现有技术中常用的锁具测试方法是采用人工操作方式,具体而言,就是将样品锁具安装在门或锁架上,由专人对智能锁具进行解锁、开门、关门和上锁动作,同时记录操作次数及测试过程中存在的问题。然而,由于性能测试需要反复多次执行上述解锁、开门、关门和上锁动作,其次数可能多达几万次,甚至十几万次,显然,采用上述方式对智能锁具进行性能测试的测试效率较低,测试周期也较长。因此,现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种电子锁测试装置,旨在解决现有技术中电子锁检测需要人工参与,测试效率低的问题。本技术解决技术问题所采用的技术方案如下:一种电子锁测试装置,其包括电源,其还包括与所述电源连接的控制器,以及分别与电子锁和所述控制器连接的第一控制开关;所述控制器上设置有用于控制电子锁开启与关闭的第二控制开关,所述第二控制开关与电子锁连接;所述第一控制开关在电子锁开启时闭合并将电子锁开启信号传送给所述控制器,所述第一控制开关在电子锁锁定时断开。所述电子锁测试装置,其中,所述控制器包括壳体,以及设置在所述壳体内的工装电路板;所述第一控制开关、所述第二控制开关和所述电源均与所述工装电路板连接。所述电子锁测试装置,其中,所述第一控制开关包括继电器以及推动装置;所述继电器线圈的一端与所述工装电路板连接;所述推动装置与电子锁连接;所述推动装置用于在电子锁开启时与所述继电器线圈的另一端接触使所述继电器闭合。所述电子锁测试装置,其中,所述继电器的触点为常开型。所述电子锁测试装置,其中,所述推动装置包括与电子锁连接的驱动装置以及与所述驱动装置连接的金属锁舌;所述驱动装置用于在电子锁开启时,驱动所述金属锁舌向所述继电器移动并与所述继电器线圈的另一端接触,在电子锁锁定时,驱动所述金属锁舌脱离所述继电器线圈。所述电子锁测试装置,其中,所述电源为直流电源。所述电子锁测试装置,其中,所述控制器还包括用于指示电子锁开启的次数达到预定次数的第一指示灯;所述第一指示灯与所述工装电路板连接。所述电子锁测试装置,其中,所述控制器还包括用于指示电子锁开启的次数未达到预定次数的第二指示灯;所述第二指示灯与所述工装电路板连接。有益效果:与现有技术相比,本技术中,所述电子锁测试装置可以自动循环完成电子锁的多次开启与锁定,无需人工记录电子锁开启次数,测试效率高,且体积小,不占用过多空间。附图说明图1是本技术中所述电子锁测试装置的结构示意图;图2是本技术中所述电子锁测试装置的原理框图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确,以下参照附图,并举实施例对本技术进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。请同时参阅图1和图2,其中,图1是本技术中所述电子锁测试装置的结构示意图;图2是本技术中所述电子锁测试装置的原理框图。本技术提供一种电子锁测试装置,其包括电源1,与所述电源1连接的控制器2,以及分别与电子锁3和所述控制器2连接的第一控制开关4;所述控制器2上设置有用于控制电子锁3开启与关闭的第二控制开关5,所述第二控制开关5与电子锁3连接;所述第一控制开关4在电子锁3开启时闭合并将电子锁开启信号传送给所述控制器2,所述第一控制开关4在电子锁3锁定时断开;所述控制器2用于接收所述电子锁开启信号后记录电子锁3开启的次数同时控制所述第二控制开关5断开,并在所述第二控制开关5断开预设时间后控制所述第二控制开关5闭合。电子锁3的感应区域放置有与其相对应的感应门禁卡31,当为电子锁3供电后,电子锁3得到供电被唤醒工作,电子锁3唤醒后感应到感应门禁卡31则会开启。较佳的,所述电源1、所述控制器2、所述第一控制开关4和所述第二控制开关5均设置在机架上,电子锁3通过固定夹安装在机架上,且感应门禁卡31被绑定在电子锁3的感应区域。所述电源1为直流电源,所述电源1开启后,为所述控制器2供电,所述控制器2上电后可判断是否接收到电子锁开启信号,由于首次将电子锁3安装到所述机架上进行测试时,并未闭合所述第二控制开关5,电子锁3未通电,即电子锁3未开启,所述控制器2并未接收到电子锁开启信号,则所述控制器2控制所述第二控制开关5闭合,以为电子锁3供电;由于感应门禁卡31被绑定在电子锁3的感应区域,电子锁3得电启动后便会与感应门禁卡31进行感应,若电子锁3无故障,电子锁3就会开启;与电子锁3连接的第一控制开关4在电子锁3开启后闭合,从而将电子锁开启信号传送至所述控制器2,所述控制器2对电子锁开启信号以开启次数的形式进行记录,即所述控制器2每接收到一次电子锁开启信号,电子锁3开启次数就加1,初始时,电子锁3开启次数为0。所述控制器2记录过电子锁3开启次数后,断开所述第二控制开关5,不再为电子锁3供电,电子锁3失电后锁定,同时与电子锁3连接的所述第一控制开关4断开,所述控制器2接收不到电子锁开启信号,并在所述第二控制开关5断开预设时间后控制所述第二控制开关5闭合,重新为电子锁3供电,在电子锁3得电正常开启后记录电子锁3开启次数,并按照上述步骤依次循环操作。整个测试过程不再需要人工记录,可以自行记录电子锁3开启次数,且体积小,不占用过多空间,不限于单次测试,可以自动循环检测。所述控制器2包括壳体和设置在所述壳体内的工装电路板,所述第一控制开关4、所述第二控制开关5、和所述电源均与所述工装电路板连接;较佳的,所述控制器2还包括显示器,所述显示器与所述工装电路板连接;电子锁3开启次数每增加一次,所述显示器上就显示当前电子锁3已开启的次数。所述工装电路板每次接受到电子锁开启信号时,还可以将接收到电子锁开启信号的当前时间与电子锁3开启次数对应存储,如:电子锁3开启次数为1时,对应的时间为所述工装电路板第一次接收到电子锁开启信号的时间;电子锁3开启次数为2时,对应的时间为所述工装电路板第二次接收到电子锁开启信号的时间,以此类推,电子锁3开启次数为n时,对应的时间为所述工装电路板第n次接收到电子锁开启信号的时间。所述工装电路板还与外部服务器无线连接,用户通过外部服务器可以读取电子锁3开启次数及对应的时间,从而便于用户了解电子锁3相邻两次开启的时间间隔,以了解电子锁3的性能。所述第一控制开关4包括继电器43以及推动装置;所述继电器43线圈的一端与所述工装电路板连接;所述推动装置与电子锁3连接;所述推动装置用于在电子锁3开启时与所述继电器43线圈的另一端接触使所述继电器43闭合。所述继电器43的触点为常开型,即所述继电器43的线圈不带电时,其触点为断开状态,当所述继电器43的线圈带电时,其触点闭合。电子锁3开启时,所述推动装置接收到电子锁开启信号,便朝向所述继电器43运动,从而与所述继电器43线圈的另本文档来自技高网...
一种电子锁测试装置

【技术保护点】
一种电子锁测试装置,其包括电源,其特征在于,其还包括与所述电源连接的控制器,以及分别与电子锁和所述控制器连接的第一控制开关;所述控制器上设置有用于控制电子锁开启与关闭的第二控制开关,所述第二控制开关与电子锁连接;所述第一控制开关在电子锁开启时闭合并将电子锁开启信号传送给所述控制器,所述第一控制开关在电子锁锁定时断开。

【技术特征摘要】
1.一种电子锁测试装置,其包括电源,其特征在于,其还包括与所述电源连接的控制器,以及分别与电子锁和所述控制器连接的第一控制开关;所述控制器上设置有用于控制电子锁开启与关闭的第二控制开关,所述第二控制开关与电子锁连接;所述第一控制开关在电子锁开启时闭合并将电子锁开启信号传送给所述控制器,所述第一控制开关在电子锁锁定时断开。2.根据权利要求1所述电子锁测试装置,其特征在于,所述控制器包括壳体,以及设置在所述壳体内的工装电路板;所述第一控制开关、所述第二控制开关和所述电源均与所述工装电路板连接。3.根据权利要求2所述电子锁测试装置,其特征在于,所述第一控制开关包括继电器以及推动装置;所述继电器线圈的一端与所述工装电路板连接;所述推动装置与电子锁连接;所述推动装置用于在电子锁开启时与所述继电器线圈的另一端接触使所述继电器闭...

【专利技术属性】
技术研发人员:王万里杨清治
申请(专利权)人:深圳市创维群欣安防科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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