传感器电路以及传感器装置制造方法及图纸

技术编号:17651933 阅读:66 留言:0更新日期:2018-04-08 06:29
本发明专利技术涉及传感器电路和传感器装置。该传感器电路具备:照度传感器,其检测周围光的照度;和非接触式传感器,其驱动发光元件,并根据以物体反射从上述发光元件辐射的光而到来的反射光的光强度来检测上述物体的接近,该传感器电路具备驱动上述发光元件的信号的输出所使用的驱动端子、用于上述照度传感器与上述非接触式传感器中至少一方的检测结果的输出的检测结果输出端子、用于预定通信标准的数据的输入输出的数据输入输出端子以及用于上述通信标准的时钟输入的时钟端子中的至少一个端子,且具备可写入用于修正上述传感器电路特性的个体差波动的修整数据的非易失性存储器,从上述至少一个端子输入的上述修整数据被写入到上述非易失性存储器中。

【技术实现步骤摘要】
传感器电路以及传感器装置
本专利技术涉及传感器电路以及传感器装置。
技术介绍
目前,已知一种传感器装置(例如参照专利文献1),具有作为照度传感器的功能和非接触式传感器的功能,能够调整由于制造波动引起的照度测量的偏差和接近测量的偏差这两者。该传感器装置具备修整信号输入端子和修整调整电路。该修整调整电路根据从传感器装置外部输入到修整信号输入端子的修整信号来调整光接收检测电路的光接收灵敏度和发光元件驱动电路的驱动电流量。专利文献1:日本特开2011-209236号公报
技术实现思路
但是,现有技术的修整信号输入端子是修整专用的端子,是不用于修整结束后的端子,因此没有有效地使用半导体集成电路的芯片面积。因此,本专利技术的目的在于提供一种提高了芯片面积的使用效率的传感器电路以及传感器装置。为了达成上述目的,本专利技术的一个方式为提供一种传感器电路,具备:照度传感器,其检测周围光的照度;以及非接触式传感器,其驱动发光元件,并根据通过以物体反射从上述发光元件辐射的光而到来的反射光的光强度来检测上述物体的接近,该传感器电路具备驱动上述发光元件的信号的输出所使用的驱动端子、上述照度传感器与上述非接触式传感器中至少一方的检测结果的输出所使用的检测结果输出端子、预定通信标准的数据的输入输出所使用的数据输入输出端子以及上述通信标准的时钟输入所使用的时钟端子中的至少一个端子,并且具备能够写入用于修正上述传感器电路的特性的个体差波动的修整数据的非易失性存储器,从上述至少一个端子输入的上述修整数据被写入到上述非易失性存储器中。根据本专利技术的一个方式,不需要用于输入上述修整数据的专用端子,所以能够提高传感器电路的芯片面积的使用效率。附图说明图1是表示传感器装置的结构的一例的图。图2是表示写入修整数据的非易失性存储器的单元结构的一例的图。图3是表示传感器电路的修整模式时的端子功能的一例的图。图4是表示从通常模式转到修整模式时的一例的时间图。图5是表示修正由非接触式传感器检测出的光强度的光强度修正电路的一例的图。图6是表示传感器装置被搭载到使用该传感器装置的电子设备中的方式的一例的图。附图标记的说明11:发光元件、12:发光脉冲、13、14:反射光、15:物体、20照度传感器、30非接触式传感器、50写入控制电路、65:减法电路、70:NVM模块、100:传感器电路、200:传感器装置、201:覆盖部、301:盖玻璃、IPDR:驱动端子、INT:检测结果输出端子、SDA:输入输出端子、SCL:时钟端子。具体实施方式以下,根据附图说明本专利技术的实施方式。图1是表示传感器装置的结构的一例的图。传感器装置200是能够传感(sensing)物体的接近和周围光的照度这两者的传感器装置的一例。传感器装置200具备发光元件11、传感器电路100。传感器装置200例如是通过树脂等覆盖部将发光元件11和传感器电路100进行封装后的模块品。传感器装置200例如被搭载到智能手机等移动型信息设备上。传感器电路100是能够传感物体的接近和周围光的照度这两者的传感器电路的一例。传感器电路100是例如在芯片上形成的半导体集成电路。作为传感器电路100的具体例,列举没有被封装的裸芯片。传感器电路100具备照度传感器20、非接触式传感器30、数据寄存器63、判定电路40。另外,在以下的说明中,将照度传感器(AmbientLightSensor环境光传感器)略称为“ALS”,将非接触式传感器(ProximitySensor)略称为“PS”。照度传感器20具有对于可视光有灵敏度的ALS用光接收元件,通过ALS用光接收元件接收从照度传感器20周围来的周围光。并且,照度传感器20检测出通过ALS用光接收元件接收到的周围光的照度,并将与检测出的照度对应的模拟照度检测数据进行AD(Analog-to-digital模拟到数字)转换。然后,输出AD转换后的数字照度检测数据。数字的照度检测数据被存储在ALS用的数据寄存器63中。判定电路40例如在检测出存储在ALS用的数据寄存器63中的照度检测数据比预定的高电平侧阈值大时,将检测结果输出端子INT的电平变更为有效电平(例如低电平)。或者,判定电路40例如在检测出存储在ALS用的数据寄存器63中的照度检测数据比预定的低电平侧阈值小时,将检测结果输出端子INT的电平变更为有效电平(例如低电平)。判定电路40在将检测结果输出端子INT的电平变更为有效电平后预定的重置条件成立时,将检测结果输出端子INT的电平变更为非有效电平(例如高电平)。非接触式传感器30驱动发光元件11,使得从发光元件11辐射发光脉冲12,由PS用光接收元件接收通过物体反射从发光元件辐射的发光脉冲12而到来的反射光13。然后,非接触式传感器30检测出通过PS用光接收元件接收到的反射光13的光强度,并将与检测出的光强度对应的模拟光强度检测数据进行AD转换。然后,非接触式传感器30输出AD转换后的数字光强度检测数据。数字光强度检测数据被存储在PS用的数据寄存器63中。判定电路40例如在检测出存储在PS用的数据寄存器63中的光强度检测数据比预定的高电平侧阈值大时,将检测结果输出端子INT的电平变更为有效电平(例如低电平)。或者,判定电路40例如在检测出存储在PS用的数据寄存器63中的光强度检测数据比预定的低电平侧阈值小时,将检测结果输出端子INT的电平变更为有效电平(例如低电平)。判定电路40在将检测结果输出端子INT的电平变更为有效电平后预定的重置条件成立时,将检测结果输出端子INT的电平变更为非有效电平(例如高电平)。这样,非接触式传感器30根据通过PS用光接收元件接收到的反射光13的光强度来检测该物体的接近。非接触式传感器30检测接近的对象物中包括人体的全部或一部分(例如手、手指、脸等)。作为发光元件11的具体例子,列举发光二极管等。发光元件11例如输出红外线的发光脉冲12。图1表示发光元件11在传感器装置200内部以外挂方式与传感器电路100连接的方式,但是发光元件11也可以内置在非接触式传感器30中。另外,图1表示发光二极管的光标与非接触式传感器30连接并由非接触式传感器30从发光二极管吸入电流进行驱动的方式。但是,也考虑发光二极管的阳极与非接触式传感器30连接并且非接触式传感器30使电流流到发光二极管来进行驱动的方式。作为ALS用光接收元件或PS用光接收元件的具体例,列举光电二极管。光接收元件可以由照度传感器20和非接触式传感器30来共用。传感器电路100具备能够写入用于修正传感器电路100或传感器装置200的特性的个体差异的修整数据的NVM(Non-VolatileMemory非易失性存储器)模块70。NVM模块70例如是不能够消除曾经写入的数据的一次可编程非易失性存储器。传感器电路100在晶圆出货状态下,能够调整照度传感器20的照度检测灵敏度和调整非接触式传感器30的光强度检测灵敏度(后面详述)。通过指针地址指定修整模式寄存器61,由此能够访问NVM模块70。修整模式寄存器61是指定用于执行对NVM模块70写入修整数据的修整模式的寄存器。写入控制电路50在访问了修整模式寄存器61的时间点(修整模式寄存器61的地址被写入到指针寄存器的时间点),从通常模式切换到修整模式。从本文档来自技高网...
传感器电路以及传感器装置

【技术保护点】
一种传感器电路,具备:照度传感器,其检测周围光的照度;以及非接触式传感器,其驱动发光元件,并根据以物体反射从上述发光元件辐射的光而到来的反射光的强度来检测上述物体的接近,该传感器电路的特征在于,具备驱动上述发光元件的信号的输出所使用的驱动端子、上述照度传感器与上述非接触式传感器中至少一方的检测结果的输出所使用的检测结果输出端子、预定通信标准的数据的输入输出所使用的输入输出端子以及上述通信标准的时钟输入所使用的时钟端子中的至少一个端子,并且具备能够写入用于修正上述传感器电路的特性的个体差波动的修整数据的非易失性存储器,从上述至少一个端子输入的上述修整数据被写入到上述非易失性存储器中。

【技术特征摘要】
2016.09.29 JP 2016-1921891.一种传感器电路,具备:照度传感器,其检测周围光的照度;以及非接触式传感器,其驱动发光元件,并根据以物体反射从上述发光元件辐射的光而到来的反射光的强度来检测上述物体的接近,该传感器电路的特征在于,具备驱动上述发光元件的信号的输出所使用的驱动端子、上述照度传感器与上述非接触式传感器中至少一方的检测结果的输出所使用的检测结果输出端子、预定通信标准的数据的输入输出所使用的输入输出端子以及上述通信标准的时钟输入所使用的时钟端子中的至少...

【专利技术属性】
技术研发人员:川崎佑也
申请(专利权)人:三美电机株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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