电极、容器、电化学沉积装置和X射线荧光光谱分析系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种电极、容器、电化学沉积装置和X射线荧光光谱分析系统，属于电化学沉积技术领域。本实用新型专利技术的电极为厚度大于或等于50纳米且小于或等于5毫米的导电的柔性碳基材料层，所述柔性碳基材料层用于在电化学沉积的过程中附着待分析液体中的待分析金属元素；在本实用新型专利技术的容器的内部或在所述容器的部分壁上固定有能够在电化学沉积过程中用作阴极电极的本实用新型专利技术的述的电极；本实用新型专利技术的电化学沉积装置包括用于容纳待分析液体的所述容器；本实用新型专利技术的X射线荧光光谱分析系统，包括X射线荧光光谱分析装置和所述电化学沉积装置。

【技术实现步骤摘要】
电极、容器、电化学沉积装置和X射线荧光光谱分析系统
本技术属于电化学沉积（ElectrochemicalDeposition）
，涉及一种使用导电的碳基材料层的电极、碳基材料层的用途、固定有该电极的容器和使用该容器的电化学沉积装置，还涉及使用该电化学沉积装置的X射线荧光光谱分析（X-RayFluorescence，XRF）系统和用于分析液体中的金属元素含量的方法。
技术介绍
为分析液体（例如水体）中的金属元素（例如Hg、Pb、Cd、As、Ni或Cr等）含量，其中一种常见方式是使用电化学沉积方法来进行。具体而言，通过电化学沉积将水体中的金属元素（通常以离子形式存在）电沉积在阴极电极上，然后采用X射线荧光光谱（X-RayFluorescence，XRF）分析方法检测分析阴极电极上的各种金属元素的量，从而分析出水体中的相应金属元素的含量或浓度。目前，在电化学沉积过程中使用金属材料的阴极电极。但是，金属电极相对昂贵，且容易受待分析液体的酸性环境影响；并且，在XRF分析过程中，金属电极的金属基体会对被分析的电沉积的金属元素产生干扰或影响，导致被分析的金属元素的结果不准确，因此，存在所谓的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种能够在电化学沉积中使用的电极，其特征在于，所述电极为厚度大于或等于50纳米且小于或等于5毫米的导电的柔性碳基材料层，所述柔性碳基材料层用于在电化学沉积的过程中附着待分析液体中的待分析金属元素。

【技术特征摘要】
1.一种能够在电化学沉积中使用的电极，其特征在于，所述电极为厚度大于或等于50纳米且小于或等于5毫米的导电的柔性碳基材料层，所述柔性碳基材料层用于在电化学沉积的过程中附着待分析液体中的待分析金属元素。2.如权利要求1所述的电极，其特征在于，所述柔性碳基材料层的厚度大于或等于0.05毫米且小于或等于0.1毫米。3.一种能够在电化学沉积中使用的容器，其用于容纳待分析液体，其特征在于，在所述容器内部或在所述容器的部分壁上固定有能够在电化学沉积过程中用作阴极电极的如权利要求1或2所述的电极。4.如权利要求3所述的容器，其特征在于，所述柔性碳基材料层被贴附固定于所述容器的壁的内表面或外表面上。5.如权利要求3所述的容器，其特征在于，所述柔性碳基材料层以薄膜形式被沉积固定于所述容器的壁的内表面上。6.如权利要求3所述的容器，其特征在于，所述柔性碳基材料层固...

【专利技术属性】
技术研发人员：李冬松，
申请(专利权)人：赛默飞世尔上海仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31