颗粒传感器和颗粒感测方法技术

一种颗粒传感器使用电离室形式的静电颗粒荷电部分。流量传感器布置被用于产生代表电离室外部与电离室内部之间的气流量的信号。该信息指示流状态，并可用于确定何时存在可能不利地影响颗粒传感器的性能或寿命的不利流状态。

Particle sensor and particle sensing method

A particle sensor uses an electrostatic particle charged part in the form of an ionization chamber. The flow sensor arrangement is used to produce signals that represent the flow of gas between the outside of the ionization chamber and the ionization chamber. This information indicates a flow state and can be used to determine when there is an adverse flow state that may adversely affect the performance or life of a particle sensor.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】颗粒传感器和颗粒感测方法
本专利技术涉及颗粒传感器，特别是超微颗粒传感器，其基于以下原理工作：对由超微颗粒的沉淀所产生的电流进行测量，这些超微颗粒已经通过扩散荷电而带电。
技术介绍
扩散荷电是指一种颗粒荷电过程，其中通过与已经由诸如针尖电极或电晕线的电离电极产生的气态离子（典型地为正离子）碰撞而在颗粒荷电部分中使气载颗粒（airborneparticle）带电。典型地，这种类型的已知的颗粒传感器包括用于建立通过传感器的气流的装置（例如通风机、风扇或泵）。气流经过颗粒荷电部分，然后经过颗粒沉淀部分用于从流中除去基本上所有的气载颗粒。传感器进一步包括具有电流计的颗粒测量部分，该电流计用于测量颗粒沉淀部分中每单位时间颗粒粘合的（particle-bound）电荷的沉积产生的电流。根据测量的电流可以计算出所谓的表观超微颗粒数浓度（apparentultrafineparticlenumberconcentration）。表观超微颗粒数浓度等于颗粒长度浓度（即，当所有气载UFP在单位空气体积中排成一串时，在单位空气体积中所有气载UFP的串的总长度）与预定的平均颗粒直径的比值。颗粒沉淀部分可以包本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒传感器，包括：‑输入，用于接收具有夹带的颗粒的气流；‑静电颗粒荷电部分（12），包括在电离室内的电离电极，其中气流经过所述电离室并且部分进入所述电离室；‑颗粒沉淀部分（18）；以及‑传感器单元，用于检测沉淀的颗粒以产生传感器信号，其中所述颗粒传感器包括用于产生代表电离室的外部与电离室的内部之间的气流量的信号的传感器布置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.07.03 EP 15175272.21.一种颗粒传感器，包括：-输入，用于接收具有夹带的颗粒的气流；-静电颗粒荷电部分（12），包括在电离室内的电离电极，其中气流经过所述电离室并且部分进入所述电离室；-颗粒沉淀部分（18）；以及-传感器单元，用于检测沉淀的颗粒以产生传感器信号，其中所述颗粒传感器包括用于产生代表电离室的外部与电离室的内部之间的气流量的信号的传感器布置。2.根据权利要求1所述的颗粒传感器，其中所述传感器布置包括流率计（S1、S2、S3）的布置。3.根据权利要求2所述的颗粒传感器，其中流量计的布置包括第一流量计（S1、S3）和第二流量计（S2），第一流量计（S1、S3）在电离室外部所述颗粒荷电部分的入口端和/或出口端附近，第二流量计（S2）在电离室外部所述电离电极的尖端附近。4.根据权利要求3所述的颗粒传感器，其中第二流量计（S2）位于颗粒荷电部分的入口端和电离电极（14）的尖端之间。5.根据权利要求1所述的颗粒传感器，其中所述传感器布置包括压力传感器（P1、P2）的布置。6.根据权利要求5所述的颗粒传感器，其中所述压力传感器的布置包括所述电离室内部的第一压力传感器（P1）和所述电离室外部的第二压力传感器（P2）。7.根据权利要求6所述的颗粒传感器，其中第一压力传感器（P1）位于所述电离室的入口端，并且第二压力传感器（P2）位于所述颗粒荷电部分的出口端。8.根据任一前述权利要求所述的颗粒传感器...

【专利技术属性】
技术研发人员：AGR科伊伯，R希比格，CR龙达，
申请(专利权)人：皇家飞利浦有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL