测量仪检测不合格产品的结构制造技术

本实用新型专利技术公开了测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台和千分表，所述测量平台的上方安装有固定件，所述固定件的下方一侧安装有参考点固定部件，所述参考点固定部件的下端安装在测量平台的上表面，所述测量平台上表面在参考点固定部件下端的一侧放置有被测量部件，所述千分表安装在固定件上，并且在所述的参考点固定部件上端的一侧，所述千分表的下端放置在被测量部件的上表面。本实用新型专利技术结构简单，使用方便快捷，提高了生产效率，完成了高精度高度测试的自动化。

Measuring the structure of an unqualified product by a measuring instrument

The utility model discloses a structure measuring instrument detection of substandard products, including the measurement platform and the dial gauge, the upper part of the measuring platform is provided with a fixed part, the fixed part is provided with a reference point below the fixed components, which are connected to the reference point fixing member is mounted on a top surface of one side of the measuring platform. Measurement of the upper surface of the platform on the lower end of the fixed part of the reference point is placed by measuring components, the dial gauge installed on the fixing piece, and at one side of the reference point at the upper end of the fixing member, a lower end of the dial gauge placed on the surface of the measured quantity of parts. The utility model has the advantages of simple structure, convenient and quick use, improved production efficiency, and completed the automation of high precision and height testing.

【技术实现步骤摘要】
测量仪检测不合格产品的结构
本技术涉及器件高度高精度测试设备
，特别涉及测量仪检测不合格产品的结构。
技术介绍
光电测量技术是利用光纤通信和光电子器件，对处于高电位的各种物理量进行测量和传输的技术。光电测量系统可分为有源系统和无源系统。目前国内光电技术企业内的生产配套仪器设备缺乏，在高度高精度测量这方面主要依靠人工完成，严重影响了产品的精度及生产过程中的效率。并且在测量过程中存在了如下问题：人工测试精度低、一致性差，并且测试速度慢，严重影响了产品的生产效率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供测量仪检测不合格产品的结构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台和千分表，所述测量平台的上方安装有固定件，所述固定件的下方一侧安装有参考点固定部件，所述参考点固定部件的下端安装在测量平台的上表面，所述测量平台上表面在参考点固定部件下端的一侧放置有被测量部件，所述千分表安装在固定件上，并且在所述的参考点固定部件上端的一侧，所述千分表的下端放置在被测量部件的上表面。优选的，所述测量平台和千分表测针的表面平整度的允许偏差均为0.05毫米。优选的，所述千分表测针的地平面和测量平台的上表面保持平行。优选的，所述千分表测针的下端与参考点固定部件的下端之间存在高度差。优选的，所述参考点固定部件的上端固定安装在固定件的下端一侧。与现有技术相比，本技术的有益效果如下：1、本技术通过将测量平台和千分表测针的表面平整度的允许偏差设置为0.05毫米，有效的保证了测量数据的准确性。2、本技术通过将千分表的测针的地平面设置与测量平台的上表面平行，进一步保证了测量的精度。3、本技术通过在固定件和测量平台之间设置参考点固定部件，并且将千分表的测针下端与参考点固定部件的下端设置一定的高度差，能够快速的进行测试，提高测试的速度，进而提高生产效率。附图说明图1为本技术的整体结构示意图。图中：1-测量平台；2-千分表；3-固定件；4-参考点固定部件；5-被测量部件。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1，本技术提供一种技术方案：测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台1和千分表2，所述测量平台1的上方安装有固定件3，所述固定件3的下方一侧安装有参考点固定部件4，所述参考点固定部件4的下端安装在测量平台1的上表面，所述测量平台1上表面在参考点固定部件4下端的一侧放置有被测量部件5，所述千分表2安装在固定件3上，并且在所述的参考点固定部件4上端的一侧，所述千分表2的下端放置在被测量部件5的上表面。所述测量平台1和千分表2测针的表面平整度的允许偏差均为0.05毫米有效的保证了测量数据的准确性；所述千分表2测针的地平面和测量平台1的上表面保持平行进一步保证了测量的精度；所述千分表2测针的下端与参考点固定部件4的下端之间存在高度差能够快速的进行测量，进而提高生产效率；所述参考点固定部件4的上端固定安装在固定件3的下端一侧。工作原理：工作时，将被测量部件5放置在测量平台1的上表面，并且放置在参考点固定部件4下端的一侧，将千分表2的测针下端放置在被测两部件5的上表面，通过将千分表2的测针的下端与参考点固定部件4的下端设置高度差进行快速的测量，提高测量的速度，进而提高生产效率，同时通过将测量平台1和千分白表2测针的表面平整度的允许偏差设置为0.05毫米，有效的保证了测量数据的准确性，并且将千分表2的测针的地平面设置为与测量平台1的上表面平行，进一步保证了测量的精度。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台（1）和千分表（2），其特征在于：所述测量平台（1）的上方安装有固定件（3），所述固定件（3）的下方一侧安装有参考点固定部件（4），所述参考点固定部件（4）的下端安装在测量平台（1）的上表面，所述测量平台（1）上表面在参考点固定部件（4）下端的一侧放置有被测量部件（5），所述千分表（2）安装在固定件（3）上，并且在所述的参考点固定部件（4）上端的一侧，所述千分表（2）的下端放置在被测量部件（5）的上表面。

【技术特征摘要】
1.测量仪检测不合格产品的结构，包括测量平台（1）和千分表（2），其特征在于：所述测量平台（1）的上方安装有固定件（3），所述固定件（3）的下方一侧安装有参考点固定部件（4），所述参考点固定部件（4）的下端安装在测量平台（1）的上表面，所述测量平台（1）上表面在参考点固定部件（4）下端的一侧放置有被测量部件（5），所述千分表（2）安装在固定件（3）上，并且在所述的参考点固定部件（4）上端的一侧，所述千分表（2）的下端放置在被测量部件（5）的上表面。2.根据权利要求1所述的测量仪检测不合...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺可祯，张德田，
申请(专利权)人：淄博丰雁电子元件有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37