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【技术实现步骤摘要】
一种保偏光纤拍长的测量装置
本专利技术涉及保偏光纤拍长的测量领域,具体为一种保偏光纤拍长的测量装置。
技术介绍
保偏光纤传输线偏振光,广泛用于航天、航空、航海、工业制造技术及通信等过民经济的各个领域。在以光学相干检测为基础的干涉型光纤传感器中,使用保偏光纤能够保证线偏振方向不变,提高相干信噪比,以实现对物理量的高精度测量。保偏光纤作为一种特种光纤,主要应用于光纤陀螺,光纤水听器等传感器和DWDM、EDFA等光纤通信系统。高双折射保偏光纤在光纤陀螺,光纤电流互感器和保偏光器件等领域有广泛的应用。在这些应用中,保偏光纤的保偏性能是决定其应用的关键,一般用拍长来衡量保偏光纤的保偏性能。它反映的就是保偏光纤两偏振本征轴折射率差的大小,即保偏光纤双折射。偏光纤拍长的测量主要有扭转法、压力法、电光或磁光调制法、光偏振法、剪断法、偏振模色散法、棱镜耦合法、瑞利散射法、波长扫描法、光频域反射计等方法。保偏光纤在拉制过程中,由于光纤内部产生的结构缺陷会造成保偏性能的下降,本专利技术提供一种保偏光纤拍长的测量装置。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有保偏光纤在工作过程中, ...
【技术保护点】
一种保偏光纤拍长的测量装置,其特征在于,包括宽谱光源(101)、光纤起偏器(102)、频谱仪(201)和计算机(202),宽谱光源(101)经过光纤起偏器(102)进入待测高双折射保偏光纤(103),待测高双折射保偏光纤(103)信号输出端连接有检偏器(104),待测高双折射保偏光纤(103)和检偏器(104)共同组成了一个马赫曾德干涉仪,马赫曾德干涉仪信号输出端有电光调制器(105),电光调制器(105)上的光载微波信号经过色散光纤(106)后入射到高速光电探测器(107)上,高速光电探测器(107)将光信号装换成微波信号并通过低噪放(108)放大,低噪放(108)输出端 ...
【技术特征摘要】
1.一种保偏光纤拍长的测量装置,其特征在于,包括宽谱光源(101)、光纤起偏器(102)、频谱仪(201)和计算机(202),宽谱光源(101)经过光纤起偏器(102)进入待测高双折射保偏光纤(103),待测高双折射保偏光纤(103)信号输出端连接有检偏器(104),待测高双折射保偏光纤(103)和检偏器(104)共同组成了一个马赫曾德干涉仪,马赫曾德干涉仪信号输出端有电光调制器(105),电光调制器(105)上的光载微波信号经过色散光纤(106)后入射到高速光电探测器(107)上,高速光电探测器(107)将光信号装换成微波信号并通过低噪放(108)放大,低噪放(108)输出端连接微波功分器(109),微波功分器(109)将一部...
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