数据驱动器、有机发光显示装置及其驱动方法制造方法及图纸

技术编号:17469404 阅读:33 留言:0更新日期:2018-03-15 06:18
本公开内容涉及数据驱动器、有机发光显示装置及其驱动方法,具体地,涉及用于检测设置在有机发光显示装置的每个子像素中的感测晶体管的缺陷并且提取其中设置有有缺陷的感测晶体管的子像素的坐标的方法。在初始化参考电压线之后将缺陷检测数据电压施加到数据线,并且在扫描晶体管被导通并且感测晶体管被关断的间隔期间感测参考电压线的电压以确定感测晶体管是否有缺陷。

【技术实现步骤摘要】
数据驱动器、有机发光显示装置及其驱动方法相关申请的交叉引用本申请要求于2016年8月30日提交的韩国专利申请第10-2016-0110627号的优先权,其全部内容通过引用整体并入本文,如同在本文完全阐述一样。
本示例性实施方式涉及有机发光显示装置、有机发光显示装置的驱动方法和在有机发光显示装置中所包括的数据驱动器。
技术介绍
近年来使聚光灯作为显示装置的有机发光显示装置使用自发光有机发光二极管(OLED)。因此,有机发光显示装置具有高响应速度,并且在对比度、发光效率、亮度和视角方面是有利的。这样的有机发光显示装置通过设置OLED和矩阵形式的包括驱动OLED的驱动晶体管的子像素并且根据灰度级数据控制由扫描信号选择的子像素的亮度,显示图像。每个子像素包括:扫描晶体管,该扫描晶体管通过扫描信号进行操作并且控制施加到驱动晶体管的数据电压;电容器,该电容器保持施加到驱动晶体管的数据电压达一帧;以及感测晶体管,该感测晶体管除了连接到OLED和驱动晶体管之外还连接到参考电压线。在子像素中所设置的这样的电路元件中,由于异物(foreignsubstance)可能生成缺陷,并且其中包括缺陷电路元件的子本文档来自技高网...
数据驱动器、有机发光显示装置及其驱动方法

【技术保护点】
一种有机发光显示装置,包括:有机发光二极管;驱动晶体管,所述驱动晶体管电连接在所述有机发光二极管和驱动电压线之间;扫描晶体管,所述扫描晶体管电连接在数据线和所述驱动晶体管的第一节点之间,所述第一节点被施加有数据电压;感测晶体管,所述感测晶体管电连接在参考电压线和所述驱动晶体管的第二节点之间,所述驱动晶体管和所述有机发光二极管在所述第二节点处连接;以及感测单元,所述感测单元能够选择性地电连接至所述参考电压线,所述感测单元在缺陷检测数据电压被施加到所述数据线、所述扫描晶体管处于导通状态并且所述感测晶体管处于关断状态的间隔期间,感测所述参考电压线的电压。

【技术特征摘要】
2016.08.30 KR 10-2016-01106271.一种有机发光显示装置,包括:有机发光二极管;驱动晶体管,所述驱动晶体管电连接在所述有机发光二极管和驱动电压线之间;扫描晶体管,所述扫描晶体管电连接在数据线和所述驱动晶体管的第一节点之间,所述第一节点被施加有数据电压;感测晶体管,所述感测晶体管电连接在参考电压线和所述驱动晶体管的第二节点之间,所述驱动晶体管和所述有机发光二极管在所述第二节点处连接;以及感测单元,所述感测单元能够选择性地电连接至所述参考电压线,所述感测单元在缺陷检测数据电压被施加到所述数据线、所述扫描晶体管处于导通状态并且所述感测晶体管处于关断状态的间隔期间,感测所述参考电压线的电压。2.根据权利要求1所述的有机发光显示装置,还包括:缺陷检测单元,所述缺陷检测单元将由所述感测单元感测到的所述参考电压线的电压与阈值电压进行比较,并且在所述参考电压线的电压高于所述阈值电压的情况下,确定所述感测晶体管有缺陷。3.根据权利要求2所述的有机发光显示装置,还包括:存储器,所述存储器存储具有有缺陷的感测晶体管的像素的坐标。4.根据权利要求3所述的有机发光显示装置,其中,当确定所述感测晶体管有缺陷时,所述缺陷检测单元将设置有被确定为有缺陷的感测晶体管的像素的坐标与存储在所述存储器中的坐标进行比较,并且更新存储在所述存储器中的所述坐标。5.根据权利要求1所述的有机发光显示装置,还包括:参考电压控制开关,所述参考电压控制开关连接至所述参考电压线,其中,所述参考电压控制开关在所述感测单元感测所述参考电压线的电压之前被接通以初始化所述参考电压线。6.根据权利要求5所述的有机发光显示装置,其中,所述参考电压控制开关在所述感测晶体管处于关断状态的定时被接通。7.根据权利要求1所述的有机发光显示装置,还包括:采样开关,所述采样开关连接至所述参考电压线,其中,当在所述缺陷检测数据电压被施加到所述数据线并且所述扫描晶体管处于导通状态之后经过预定时间时,所述感测单元接通所述采样开关以感测所述参考电压线的电压。8.一种数据驱动器,包括:感测单元,所述感测单元被配置成在当缺陷检测数据电压被施加到像素的数据线、连接在所述数据线和所述像素的驱动晶体管的第一节点之间的扫描晶体管处于导通状态并且连接在与所述像素相关联的参考电压线和所述驱动晶体管的第二节点之间的感测晶体管处于关断状态的间隔期间,感测所述参考电压线的电压;缺陷检测单元,所述缺陷检测单元被配置成将由所述感测单元感测到的电压与阈值电压进行比较...

【专利技术属性】
技术研发人员:洪茂庆李庆寿权上球
申请(专利权)人:乐金显示有限公司
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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