屏幕刷新时间测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于自动化控制的技术领域，为了解决现有技术中缺少测试屏幕刷新时间的技术方案，本发明专利技术提供一种屏幕刷新时间测试方法和装置；所述方法包括：对被测试的DCS进行逻辑组态，使得每经过一个时钟周期T1，输出的模拟量数字增加预定值A；对被测试的DCS中屏幕结果取样，对比所述屏幕中相邻帧画面中的模拟量的差值，并从多个对比结果中取最大差值B；基于所述屏幕刷新时钟周期T1，所述增加的预定值A，屏幕刷新差值，计算屏幕刷新时间；其中，最后确认的屏幕刷新的时间为T2，且满足：

【技术实现步骤摘要】
屏幕刷新时间测试方法和装置
本专利技术涉及自动化控制的
，尤其涉及一种屏幕刷新时间测试方法和装置；更具体地，涉及一种应用于DCS的幕刷新时间测试方法和装置。
技术介绍
DCS(DistributedControlSystem，分布式控制系统)广泛应用于火电、核电、石化等领域。在核电DCS系统中，通常使用显示屏或触摸屏作为显示界面。同时，在核电DCS项目对屏幕(即显示界面)的刷新时间有性能要求；因此，需要测试刷新需要的可靠时间。但是，目前还没有明确的测试屏幕刷新时间的测试方法。由此本领域技术人员迫切需要开发新的技术方案，单独对“屏幕刷新时间”进行采样，解决了核电DCS项目工程测试阶段的工作方法问题。
技术实现思路
为了解决现有技术中缺少测试屏幕刷新时间的技术方案，本专利技术提供一种屏幕刷新时间测试方法和装置。为了实现上述目的，本专利技术提供的技术方案包括：一方面，提供一种屏幕刷新时间测试方法，其特征在于，包括：对被测试的DCS进行逻辑组态，使得每经过一个时钟周期T1，输出的模拟量数字增加预定值A；对被测试的DCS中屏幕结果取样，对比所述屏幕中相邻帧画面中的模拟量的差值，并从多个对比结果中取最大差值B；基于所述屏幕刷新时钟周期T1，所述增加的预定值A，屏幕刷新差值，计算屏幕刷新时间；其中，最后确认的屏幕刷新的时间为T2，且满足：本专利技术实施例优选地，所述预定值A＝1，所述时钟周期T1为所述DCS中MPU的周期。本专利技术实施例优选地，对被测试的DCS中屏幕结果取样的步骤包括：在所述DCS的列表画面中显示测试模拟量，并用一个秒表点击开始计时，同时用DV摄像机拍摄此模拟量点递增变化的过程；摄完视频后，以按帧查看的模式，查看整个累加过程的视频，对比相邻帧画面中模拟量的差值。本专利技术实施例优选地，DV摄像机两帧之间的拍摄间隔小于所述屏幕刷新时间。本专利技术实施例优选地，所述方法还包括多次进行上述测试方法中的步骤，并从中挑选出最大差值作为差值B的最终结果。另一方面，本专利技术还提供一种屏幕刷新时间测试装置，其特征在于，包括：逻辑组态单元，用于对被测试的DCS进行逻辑组态，使得每经过一个时钟周期T1，输出的模拟量数字增加预定值A；数据取样单元，用于对被测试的DCS中屏幕结果取样，对比所述屏幕中相邻帧画面中的模拟量的差值，并从多个对比结果中取最大差值B；结果计算单元，用于基于所述屏幕刷新时钟周期T1，所述增加的预定值A，屏幕刷新差值，计算屏幕刷新时间；其中，最后确认的屏幕刷新的时间为T2，且满足：本专利技术实施例优选地，所述预定值A＝1，所述时钟周期T1为所述DCS中MPU的周期。本专利技术实施例优选地，所述数据取样单元包括DV摄像机和秒表；在所述DCS的列表画面中显示测试模拟量，并用一个秒表点击开始计时，同时用DV摄像机拍摄此模拟量点递增变化的过程；摄完视频后，以按帧查看的模式，查看整个累加过程的视频，对比相邻帧画面中模拟量的差值。本专利技术实施例优选地，所述DV摄像机两帧之间的拍摄间隔小于所述屏幕刷新时间。第三方面，本专利技术还提供一种屏幕刷新时间测试装置，其特征在于，包括：用于控制所述屏幕刷新时间测试的控制器，所述控制器用于加载并执行如上述任意一种所述的屏幕刷新时间测试方法。采用本专利技术提供的上述优选技术方案，可以至少获得以下有益效果中的一种：1、提供了一种简单、可靠的屏幕刷新时间测试方法和装置，填补了行业内的空白。2、不需使用高精度仪器仪表，使得测试成本低。3、执行过程中，操作简便，拍摄一次视频采样的次数多，并且可以从多次采样结果中选择最大值，可以得到更加准确的测试结果。4、使用MPU发出的数值作为计时工具，同时MPU本身具有了信号发生器的作用，直接使用MPU周期输出的模拟量信号的数值作为测试的信号源；使得测试结果更加准确、简单。5、使用秒表结合的测试过程中，秒表是可以经过计量审核和定期校验的，间接证明了每帧画面的可信度；回避了DV摄像机计时不准确的问题，而是利用了视频是由图片构成的原理，设计思路巧妙。6、搭建的测试环境方便，需要的人员少；同比与其它响应时间的测试方案，只需要一个人进行就可操作；例如，架好DV摄像机开始拍摄，点击秒表，然后点击开始指令就可以开始。专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书变得显而易见，或者通过实施本专利技术的技术方案而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构和/或流程来实现和获得。附图说明图1为本专利技术实施例提供的一种屏幕显示数据流程的示意图。图2为本专利技术实施例提供的一种屏幕刷新时间测试方法的流程图。图3为本专利技术实施例提供的一种屏幕刷新时间测试装置的结构框图。图4为本专利技术另一实施例提供的一种屏幕刷新时间测试装置的示意图。图5为本专利技术再一实施例提供的一种屏幕刷新时间测试装置的示意图。图6为本专利技术再一实施例提供的一种屏幕刷新时间测试装置中个控制器的示意图。具体实施方式以下将结合附图及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，借此对本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，这些具体的说明只是让本领域普通技术人员更加容易、清晰理解本专利技术，而非对本专利技术的限定性解释；并且只要不构成冲突，本专利技术中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本专利技术的保护范围之内。另外，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组控制器可执行指令的控制系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。下面通过附图和具体实施例，对本专利技术的技术方案进行详细描述：实施例如图1所示，本实施例提及的屏幕显示的刷新是从某一层的控制站MPU(英文全称MicroprocessorUnit，微处理器)运算开始，到数据传递(S130)，到最终的屏幕显示(S140)。但是不包括从外部信号变化到MPU运算输出的这段时间(S110、S120)，从采集(S110)到最终显示所用的时间是输入显示时间。本实施例提及的屏幕包括但不限于二极管阵列、触摸屏、液晶屏等。根据上述定义，显示屏刷新时间受到3方面影响：1、DCS系统的控制器(MPU)的计算输出；2、数据传递过程中各个环节的延时影响；3、屏幕显示刷新的特性。由于输入显示时间多出了输入采集(S110)和MPU运算(S120)两个环节。这两个环节的都具有单独的频率，中间的传输环节也需要耗时；所以不能准确的测出相邻的2个环节变化时，在这两个环节所消耗的时间，从而无法从“输入显示时间”推导出“屏幕刷新时间”。其中：最小时间：MPU输出、数据传递过程、屏幕显示刷新都为最节省时间的情况，此时刷新时间最小；最大时间：MPU输出、数据传递过程、屏幕显示刷新都为最浪费时间的情况，此时刷新时间最大。本实施例优选地，在执行测试活动时，需要对被测系统进行多次采样，取最大值作为最终的测试结果；即最大值体现了屏幕刷新需要最长的反应时长，也即本实施例中屏幕刷新性能。如图2所示，本实施例提供一种屏幕刷新时间测试方法，该方法包括：S110、对被测试的DCS进行逻辑组态，使得每经过一个时钟周期T1，输出的模拟量数字增加预定值A；S120、对被测试的DCS中屏幕结果取样，对比屏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种屏幕刷新时间测试方法，其特征在于，包括：对被测试的DCS进行逻辑组态，使得每经过一个时钟周期T1，输出的模拟量数字增加预定值A；对被测试的DCS中屏幕显示的结果取样，对比所述屏幕中相邻帧画面中的模拟量的差值，并从多个对比结果中取最大差值B；基于所述屏幕刷新时钟周期T1，所述增加的预定值A，屏幕刷新差值，计算屏幕刷新时间；其中，最后确认的屏幕刷新的时间为T2，且满足：

【技术特征摘要】
1.一种屏幕刷新时间测试方法，其特征在于，包括：对被测试的DCS进行逻辑组态，使得每经过一个时钟周期T1，输出的模拟量数字增加预定值A；对被测试的DCS中屏幕显示的结果取样，对比所述屏幕中相邻帧画面中的模拟量的差值，并从多个对比结果中取最大差值B；基于所述屏幕刷新时钟周期T1，所述增加的预定值A，屏幕刷新差值，计算屏幕刷新时间；其中，最后确认的屏幕刷新的时间为T2，且满足：2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预定值A＝1，所述时钟周期T1为所述DCS中MPU的周期。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对被测试的DCS中屏幕结果取样的步骤包括：在所述DCS的列表画面中显示测试模拟量，并用一个秒表点击开始计时，同时用DV摄像机拍摄此模拟量点递增变化的过程；摄完视频后，以按帧查看的模式，查看整个累加过程的视频，对比相邻帧画面中模拟量的差值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述DV摄像机两帧之间的拍摄间隔小于所述屏幕刷新时间。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括多次进行所述权利要求1中的步骤，并从中挑选出最大的差值作为差值B的最终结果。6.一种屏幕刷新时间测试装置，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋海，江国进，孙永滨，白涛，高连国，郄永学，冀建伟，齐敏，吕秀红，朱郁，程启英，郭旭东，申江坤，孙学慧，崔吉叶，贠小波，龚顺超，孙建超，
申请(专利权)人：北京广利核系统工程有限公司，中国广核集团有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11