微波暗室及相应的天线测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种微波暗室及相应的天线测试系统，包括微波箱、辅助天线部分和待测天线部分，且所述的辅助天线部分和待测天线部分均具有可保持变量单一化的夹持机构，且所述的辅助天线部分和所述的待测天线部分都设置于箱体内部，微波箱为一覆盖有吸波材料的微波箱。本发明专利技术可用于远场测试，针对毫米波频段，由于其具有能够保持变量的单一性的辅助天线夹持机构和待测天线夹持机构，可以保证待测天线和辅助天线在测量过程中变化的变量可控，最大程度的保证了测试的单一变量原则及待测天线、辅助天线的稳定。因此，可针对不同的天线板使用，十分方便快捷，且节省空间，同时测量精度更高，并可通过调整不同的结构件可以测量各种形状的天线。

Microwave anechoic chamber and corresponding antenna testing system

The invention relates to a microwave anechoic chamber antenna and corresponding test system, including microwave box, auxiliary antenna part and the measured part of the antenna, and the auxiliary antenna part and an antenna part to be measured are capable of keeping a single variable clamping mechanism, wherein the auxiliary antenna part and the stay antenna parts are arranged in the box body, a box cover for microwave absorbing wave material microwave box. The invention can be used for the far field test, the millimeter wave band, because of its single auxiliary antenna to keep variable clamping mechanism and the measured antenna clamping mechanism can ensure that the measured variables controlled antenna and the auxiliary antenna changes during the measurements, the greatest degree of assurance of a single variable test and principle the measured antenna and the auxiliary antenna stability. Therefore, it can be used for different antenna plates very conveniently and quickly, and saves space. At the same time, the measurement accuracy is higher. It can be able to measure various shapes of antennas by adjusting different structural parts.

【技术实现步骤摘要】
微波暗室及相应的天线测试系统
本专利技术涉及微波领域，具体是指一种微波暗室及相应的天线测试系统。
技术介绍
现在的毫米波雷达天线测试，普遍使用的是微波暗室，微波暗室又叫“无反射室”或“吸波室”，它是以吸波材料作衬里的房间，能吸收入射到6个壁上的大部分电磁能量，较好的模拟自由空间测试条件。微波暗室主要用来测量电小天线及馈源，同时还能测量雷达截面、研究电磁波的绕射、辐射和散射特性等。由于微波暗室具有全天候、宽频带、屏蔽性能好、安全保密等有点，因而在近20年间得到了迅速发展。微波暗室除常规的远场测量外，还包括近场测试和紧缩场测试。然而，现有技术中构建微波暗室需要的场地较大，价格不菲，提出一种占用较小场地、易于拆卸、造价较低的微波暗室，是本领域亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供一种占用较小场地、易于拆卸、造价较低的微波暗室及相应的天线测试系统。为了实现上述目的，本专利技术的微波暗室及相应的天线测试系统具有如下构成：该微波暗室，其主要特点是，包括微波箱、辅助天线部分和待测天线部分，且所述的辅助天线部分和待测天线部分都设置于箱体内部，且均具有运动可控的夹持机构，微波箱为一覆盖有吸波材料的微波箱。较佳地，所述的辅助天线部分的夹持机构包括底部的工业三脚架，其上设置有第一伺服电机转台，所述的第一伺服电机转台其上设置有俯仰夹持部。更佳地，所述的辅助天线为一喇叭天线。较佳地，所述的待测天线部分的夹持机构夹持待测天线，且所述的辅助天线部分的夹持机构包括设置于底部的XY位移台，其上设置有伺服电机转台，且所述的伺服电机转台其上设置有俯仰角位移台。更佳地，所述的XY位移台包括两个在水平面上垂直设置的水平位移台，且其中一个水平位移台具有较长运动行程，另一水平位移台具有较短运动行程，且所述的两个水平位移台的线性模组均使用重复定位精度为±0、02mm的精密级丝杠线性模组。更佳地，所述的俯仰角位移台为俯仰工作范围为±10°的俯仰角位移台，且所述的俯仰角位移台上设置有丁字形结构。较佳地，所述的微波箱的箱体为一铁板箱体，其内侧覆盖有吸波材料，且所述的吸波材料包括直锥材料、地板走道材料、边拐角材料和平板材料，其中，所述的箱体主墙面内侧贴覆所述的直锥材料，各墙面相接处填充边拐角材料，箱体底面靠近主墙面处铺设有地板走道材料，且所述的微波箱在其长端一侧设置有测试门。基于上述所述的微波暗室所构成的天线测试系统，其主要特点是，所述的系统还包括一辅助天线和待测天线，该辅助天线安装于所述的辅助天线部分，该待测天线安装于待测天线部分，该天线测试系统还包括信号处理发生装置，其两端分别接所述的辅助天线和待测天线，控制所述的辅助天线发射参数已知的信号，并对待测天线接收到的信号进行分析保存。较佳地，所述的系统还包括一转台控制器，连接至待测天线部分的夹持机构，对待测天线部分的夹持机构的运动进行控制，所述的信号处理发生装置包括信号源、频谱分析仪、主控计算机和低噪声放大器，其中，所述的信号源接辅助天线，控制辅助天线发射参数已知的信号，所述的频谱分析仪通过低噪声放大器接待测天线，由低噪声放大器待测天线接收到的信号进行低噪声放大后，交由所述的频谱分析仪进行相应信号分析，所述的主控计算机分别连接信号源、转台控制器和频谱分析仪，对信号源的输出和转台控制器的输出进行控制，并对所述的频谱分析仪分析获取的分析数据进行保存。较佳地，所述的系统还包括一转台控制器，连接至待测天线部分的夹持机构，对待测天线部分的夹持机构的运动进行控制，所述的信号处理发生装置包括矢量网络分析仪、主控计算机和低噪声放大器，其中，所述的矢量网络分析仪的输出端连接辅助天线，控制辅助天线发射参数已知的信号，所述的矢量网络分析仪的输入端通过低噪声放大器接待测天线，由低噪声放大器待测天线接收到的信号进行低噪声放大后，交由所述的矢量网络分析仪进行相应信号分析，所述的主控计算机分别连接矢量网络分析仪和转台控制器，对矢量网络分析仪的输出端的输出和转台控制器的输出进行控制，并对所述的矢量网络分析仪分析获取的分析数据进行保存。基于上述天线测试系统实现天线测试的方法，其主要特点是，包括以下步骤：(1)对所述的系统进行安装上电，将待测天线部分的夹持机构的运动状态归零，并设置该天线测试系统中的相应参数；(2)控制所述的待测天线部分的夹持机构按一定方式进行运动；(3)所述的信号处理发生装置控制所述的辅助天线发射参数已知的信号；(4)所述的待测天线接收信号，并通过所述的信号处理发生装置对接收到的信号进行分析保存，进入步骤(2)。较佳地，该系统实现天线测试的方法基于一天线测试机制，该天线测试机制包括设定待测天线部分的夹持机构的运动方式，以及设定信号处理发生装置控制辅助天线发射的信号的参数。本专利技术的微波暗室及相应的天线测试系统，用于远场测试，针对毫米波频段，由于其具有能够保持变量的单一性的辅助天线夹持机构和待测天线夹持机构，可以保证待测天线和辅助天线在测量过程中变化的变量可控，最大程度的保证了测试的单一变量原则及待测天线、辅助天线的稳定。因此，可针对不同的天线板使用，十分方便快捷，且节省空间，同时测量精度更高，并可通过调整不同的结构件可以测量各种形状的天线。附图说明图1为本专利技术的微波暗室的微波箱的箱体示意图。图2为本专利技术的微波暗室的辅助天线部分的夹持机构的局部示意图。图3为本专利技术的微波暗室的辅助天线部分的夹持机构的整体示意图。图4为本专利技术的微波暗室的待测天线部分的夹持机构的整体示意图。图5为本专利技术的信号源与频谱分析仪构建的天线测量系统。图6为本专利技术的信号源与频谱分析仪构建的天线测量系统的天线测量流程图图7为本专利技术的矢量网络分析仪构建的测量系统。图8为本专利技术的微波箱天线测试设计图。图9为本专利技术的天线测试系统的测试流程图。附图标记1辅助天线部分2待测天线部分3试验台4微波箱5喇叭天线6伺服电机转台7俯仰夹持部8长条孔9工业三脚架10Y位移台11X位移台12俯仰角位移台13丁字型结构件具体实施方式为了能够更清楚地描述本专利技术的
技术实现思路
，下面结合具体实施例来进行进一步的描述。参考图1至图8，该微波暗室，包括微波箱4、辅助天线部分1和待测天线部分2，且所述的辅助天线部分1和待测天线部分2均具有可保持变量单一化的夹持机构，在具体实施例中，表现为，可只改变一种变量，其他可改变的变量均不随该被改变的变量变化(如可改变X方向、Y方向、旋转度和俯仰角变量的情况下，可只改变X方向的位移，其他变量不发生变化，或只改变俯仰角的变化，其他方变量都不发生变化)。且所述的辅助天线部分1和所述的待测天线部分2都设置于箱体内部，微波箱4为一覆盖有吸波材料的微波箱4。在一种较佳的实施方式中，所述的辅助天线部分1的夹持机构包括底部的工业三脚架9，其上设置有第一伺服电机转台6，所述的第一伺服电机转台6其上设置有俯仰夹持部7。在一种更佳的实施方式中，所述的辅助天线为一喇叭天线5。在一种较佳的实施方式中，所述的待测天线部分2的夹持机构夹持待测天线，且所述的辅助天线部分1的夹持机构包括设置于底部的XY位移台，其上设置有伺服电机转台6，且所述的伺服电机转台6其上设置有俯仰角位移台12。在一种更佳的实施方式中，所述的XY位移台包括两个在水平面上垂直设置的水平本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微波暗室，其特征在于，包括微波箱、辅助天线部分和待测天线部分，且所述的辅助天线部分和待测天线部分都设置于箱体内部，且均具有运动可控的夹持机构，微波箱为一覆盖有吸波材料的微波箱。

【技术特征摘要】
1.一种微波暗室，其特征在于，包括微波箱、辅助天线部分和待测天线部分，且所述的辅助天线部分和待测天线部分都设置于箱体内部，且均具有运动可控的夹持机构，微波箱为一覆盖有吸波材料的微波箱。2.根据权利要求1所述的微波暗室，其特征在于，所述的辅助天线部分的夹持机构包括底部的工业三脚架，其上设置有第一伺服电机转台，所述的第一伺服电机转台其上设置有俯仰夹持部。3.根据权利要求2所述的微波暗室，其特征在于，所述的辅助天线为一喇叭天线。4.根据权利要求1所述的微波暗室，其特征在于，所述的待测天线部分的夹持机构夹持待测天线，且所述的辅助天线部分的夹持机构包括设置于底部的XY位移台，其上设置有伺服电机转台，且所述的伺服电机转台其上设置有俯仰角位移台。5.根据权利要求4所述的微波暗室，其特征在于，所述的XY位移台包括两个在水平面上垂直设置的水平位移台，且其中一个水平位移台具有较长运动行程，另一水平位移台具有较短运动行程，且所述的两个水平位移台的线性模组均使用重复定位精度为±0、02mm的精密级丝杠线性模组。6.根据权利要求4所述的微波暗室，其特征在于，所述的俯仰角位移台为俯仰工作范围为±10°的俯仰角位移台，且所述的俯仰角位移台上设置有丁字形结构。7.根据权利要求1所述的微波暗室，其特征在于，所述的微波箱的箱体为一铁板箱体，其内侧覆盖有吸波材料，且所述的吸波材料包括直锥材料、地板走道材料、边拐角材料和平板材料，其中，所述的箱体主墙面内侧贴覆所述的直锥材料，各墙面相接处填充边拐角材料，箱体底面靠近主墙面处铺设有地板走道材料，且所述的微波箱在其长端一侧设置有测试门。8.一种基于权利要求1至7中任一项所述的微波暗室所构成的天线测试系统，其特征在于，所述的系统还包括一辅助天线和待测天线，该辅助天线安装于所述的辅助天线部分，该待测天线安装于待测天线部分，该天线测试系统还包括信号处理发生装置，其两端分别接所述的辅助天线和待测天线，控制所述的辅助天线发射参数已知的信号，并对待测天线接收到的信号进行分析保存。9.根据权利要求8所述的天线测试系统，其特征在于，所述的系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：史文虎，杨宁，谭维耿，
申请(专利权)人：上海英恒电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31