主观式验光装置及主观式验光程序制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种主观式验光装置及主观式验光程序，在主观地测定被检眼的光学特性时，高精度地测定被检眼的光学特性。该主观式验光装置主观地测定被检眼的光学特性，具备：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定被检眼的光学特性，其中，主观式验光装置包括：客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定被检眼的光学特性；以及控制单元，在通过主观式测定部主观地测定被检眼的光学特性的期间，通过客观式测定部客观地测定被检眼的光学特性。

Subjective optometry and subjective optometry

The invention provides a subjective optometry device and a subjective optometry program. It can measure the optical properties of the examined eyes with high accuracy when subjectively measuring the optical properties of the examined eyes. The subjective optometry device subjective determination of optical properties, with an eye to be examined: subjective determination, is configured in the will as the standard to be optical beam projection optical system and projection of the ophthalmic optical characteristics as the standard beam correction of optical system changes, and the subjective determination of optical properties among them, ophthalmic, subjective optometry device includes objective determination, has to be ophthalmic fundus injection determination of light and receives the reflected light light determination determination of the optical system, and objectively measured by optical characteristics of eye detection; and a control unit, through the subjective determination of subjective determination of optical properties of the eye during the inspection, through the objective measurement objectively determined by optical properties of the eye examination.

【技术实现步骤摘要】
主观式验光装置及主观式验光程序
本公开涉及主观地测定被检眼的光学特性的主观式验光装置及主观式验光程序。
技术介绍
以往，作为主观式验光装置，公知例如将能够进行屈光度的矫正的矫正光学系统单独地配置在被检查人的眼前并经由矫正光学系统将检查视标向被检眼的眼底投光的装置(参照专利文献1)。检查人接收被检查人的应答而进行矫正光学系统的调节直到被检查人能适当地看见该视标为止并求出矫正值，基于该矫正值来测定被检眼的屈光力。而且，例如，作为主观式验光装置，公知经由矫正光学系统的检查视标在被检查人的眼前形成像而在不将矫正光学系统配置在眼前的情况下对被检眼的屈光力进行测定的装置(专利文献2)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开平5-176893号公报专利文献2：美国专利第3874774号公报
技术实现思路
不过，在主观式验光装置中，在主观地测定被检眼的光学特性的期间，有时由于被检眼的调节功能起作用等原因而使被检眼的光学特性发生变化。在这样的光学特性发生变化的状态下进行主观测定时，难以高精度地测定被检眼的光学特性。本公开鉴于上述问题点，技术课题在于提供一种在主观地测定被检眼的光学特性时能够高精度地测定被检眼的光学特性的主观式验光装置。为了解决上述课题，本专利技术的特征在于具备以下的结构。本专利技术的第一方式提供一种主观式验光装置，主观地测定被检眼的光学特性，包括：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使所述视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定所述被检眼的光学特性；客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定所述被检眼的光学特性；以及控制部，在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性。本专利技术的第二方式是，在上述第一方式的主观式验光装置中，所述控制部通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得第一光学特性，并且，在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得第二光学特性，所述主观式验光装置包括：取得部，取得基于所述第一光学特性和所述第二光学特性的调节信息；以及输出部，输出所述调节信息。本专利技术的第三方式是，在上述第二方式的主观式验光装置中，所述控制部在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性之前，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得所述第一光学特性。本专利技术的第四方式是，在上述第二方式的主观式验光装置中，所述取得部通过对所述第一光学特性与所述第二光学特性进行差值处理而取得所述调节信息。本专利技术的第五方式是，在上述第二方式的主观式验光装置中，所述主观式验光装置包括：设定部，基于所述调节信息来设定校正量，该校正量用于对在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间产生的所述被检眼的调节状态变化进行校正；以及第一校正部，基于由所述设定部设定的所述校正量，进行将在所述主观式测定部产生的所述被检眼的所述调节状态变化抵消的校正。本专利技术的第六方式是，在上述第一方式的主观式验光装置中，所述客观式测定部具有设置成左右一对的右被检眼用测定光学系统和左被检眼用测定光学系统。本专利技术的第七方式提供一种主观式验光装置，主观地测定被检眼的光学特性，包括：主观式测定部，具有处于将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使所述视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定所述被检眼的光学特性；客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定所述被检眼的光学特性；控制部，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得第一光学特性，并且，在与取得所述第一光学特性的定时不同的定时，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得第二光学特性；取得部，取得基于所述第一光学特性和所述第二光学特性的调节信息；以及输出部，输出所述调节信息。本专利技术的第八方式是，在上述第一方式或第七方式的主观式验光装置中，所述矫正光学系统配置在所述测定光学系统的光路中，所述主观式验光装置具备第二校正部，该第二校正部基于所述矫正光学系统的矫正信息，对由所述客观式测定部客观地测定所述被检眼而得到的测定结果进行校正。本专利技术的第九方式提供一种主观式验光程序，在主观地测定被检眼的光学特性的主观式验光装置中使用，该主观式验光装置具备主观式测定部和客观式测定部，该主观式测定部具有将视标光束向被检眼投影的投射光学系统和处于所述投射光学系统的光路中并使所述视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定所述被检眼的光学特性，所述客观式测定部具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定所述被检眼的光学特性，其中，通过由所述主观式验光装置的处理器执行该主观式验光程序，使所述主观式验光装置执行如下的控制步骤：在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性。本专利技术的第十方式是，在上述第一方式的主观式验光装置中，所述控制部在通过所述主观式测定部开始了所述被检眼的光学特性的主观测定之后，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得所述被检眼的光学特性，所述主观式验光装置具备初始值设定部，该初始值设定部将由所述控制部客观地测定出的所述被检眼的光学特性设定为初始值，该初始值是通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性时的所述矫正光学系统的初始值。附图说明图1是主观式验光装置的外观图。图2是说明测定单元的结构的图。图3是从正面方向观察主观式验光装置的内部的概略结构图。图4是从侧面方向观察主观式验光装置的内部的概略结构图。图5是从上面方向观察主观式验光装置的内部的概略结构图。图6是说明控制动作的流程的流程图。图7是说明初始值设定的控制动作的流程的流程图。标号说明1主观式验光装置2机壳3呈现窗4监视器5下颌台6基台7测定单元10客观式测定光学系统25主观式测定光学系统30投射光学系统45第一标识投影光学系统46第二标识投影光学系统50观察光学系统60矫正光学系统70控制部72存储器81偏转镜84半透半反镜85凹面镜90校正光学系统100拍摄光学系统。具体实施方式以下，参照附图对典型的实施方式之一进行说明。图1～图7是用于说明本实施方式的主观式验光装置及主观式验光程序的图。另外，在以下的说明中，举出主观式验光装置为例进行说明。另外，以下的以<>分类的项目能够独立或关联地利用。另外，在本公开中，未限定为本实施方式所记载的装置。例如，将进行下述实施方式的功能的终端控制软件(程序)经由网络或各种存储介质等供给到系统或装置。并且，系统或装置的控制装置(例如，CPU等)也可以读取、执行程序。另外，在以下的说明中，将主观式验光装置的进深方向(被检查人进行测定时的被检查人的前后方向)作为Z方向，将与进深方向垂直(被检查人进行测定时的被检查人的左右方向)的平面上的水平方向作为X方向，将竖直方向(被检查人进行测定时的被检查人的上下方向)作为Y方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主观式验光装置，主观地测定被检眼的光学特性，其特征在于，包括：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使所述视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定所述被检眼的光学特性；客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定所述被检眼的光学特性；以及控制部，在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性。

【技术特征摘要】
2016.09.05 JP 2016-173089;2016.09.05 JP 2016-173091.一种主观式验光装置，主观地测定被检眼的光学特性，其特征在于，包括：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使所述视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定所述被检眼的光学特性；客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定所述被检眼的光学特性；以及控制部，在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性。2.根据权利要求1所述的主观式验光装置，其特征在于，所述控制部通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得第一光学特性，并且，在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得第二光学特性，所述主观式验光装置包括：取得部，取得基于所述第一光学特性和所述第二光学特性的调节信息；以及输出部，输出所述调节信息。3.根据权利要求2所述的主观式验光装置，其特征在于，所述控制部在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性之前，通过所述客观式测定部客观地测定所述被检眼的光学特性而取得所述第一光学特性。4.根据权利要求2所述的主观式验光装置，其特征在于，所述取得部通过对所述第一光学特性与所述第二光学特性进行差值处理而取得所述调节信息。5.根据权利要求2所述的主观式验光装置，其特征在于，所述主观式验光装置包括：设定部，基于所述调节信息来设定校正量，该校正量用于对在通过所述主观式测定部主观地测定所述被检眼的光学特性的期间产生的所述被检眼的调节状态变化进行校正；以及第一校正部，基于由所述设定部设定的所述校正量，进行将在所述主观式测定部产生的所述被检眼的所述调节状态变化抵消的校正。6.根据权利要求1所述的主观式验光装置，其特征在于，所述客观式测定部具有设置成左右一对的右被检眼用测定光学系统和左被检眼用测定光学系统。7.一种主观式验光装置，主观地测定...

【专利技术属性】
技术研发人员：泷井通浩，羽根渊昌明，河合规二，
申请(专利权)人：尼德克株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP