飞针测试机制造技术

技术编号:17391966 阅读:57 留言:0更新日期:2018-03-04 16:04
本实用新型专利技术提供了一种飞针测试机,其包括:基座;两个第一导轨,间隔设置在基座上;连接部,可滑动地连接在两个第一导轨上;驱动机构,设置在基座上并靠近一个第一导轨设置,驱动机构驱动连接部沿第一导轨的延伸方向移动;连接部包括:第一滑动部和第二滑动部,分别与两个第一导轨滑动配合,第一滑动部靠近驱动机构设置;支撑部,连接在第一滑动部和第二滑动部之间,第一滑动部的沿第一导轨的延伸方向的长度大于支撑部的沿第一导轨的延伸方向的宽度,以增大连接部在第一导轨上的跨度。本实用新型专利技术的技术方案有效的解决了直线运动部件偏心设置导致从动端存在摆动现象的问题。

【技术实现步骤摘要】
飞针测试机
本技术涉及电路板测试
,具体涉及一种飞针测试机。
技术介绍
随着电子产品的日益发展,PCB产品向超轻、超小、超薄、高密度方向不断发展的同时,测试点也越来越小随之而来的对扎痕的要求也更高,传统的结构采用飞针测试机,飞针测试机是在X轴与Y轴上安装由电机驱动的可独立快速移动的探针,利用探针在Z轴方向的可控移动和PCB板的焊点进行接触,并进行电气测量的设备。在正常的机械传动设计规范中直线运动部件需安装在两个支撑端的正中间,但由于设备操作空间的原因导致无法依此方法进行设计,而必须偏心设计。这种偏心设计势必会出现远离驱动端的从动端在启动和停止过程中存在摆动现象,整个结构的精度无法有效保证。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种飞针测试机,以解决现有技术中直线运动部件偏心设置导致从动端存在摆动现象的问题。为实现上述目的,本技术提供了一种飞针测试机,包括:基座;两个第一导轨,间隔设置在基座上;连接部,可滑动地连接在两个第一导轨上;驱动机构,设置在基座上并靠近一个第一导轨设置,驱动机构驱动连接部沿第一导轨的延伸方向移动;连接部包括:第一滑动部和第二滑动部,分别与两个第一导轨滑动配合,第本文档来自技高网...
飞针测试机

【技术保护点】
一种飞针测试机,包括:基座(10);两个第一导轨(20),间隔设置在所述基座(10)上;连接部(30),可滑动地连接在两个所述第一导轨(20)上;驱动机构,设置在所述基座(10)上并靠近一个所述第一导轨(20)设置,所述驱动机构驱动所述连接部(30)沿所述第一导轨(20)的延伸方向移动;其特征在于,所述连接部(30)包括:第一滑动部(31)和第二滑动部(32),分别与两个所述第一导轨(20)滑动配合,所述第一滑动部(31)靠近所述驱动机构设置;支撑部(33),连接在所述第一滑动部(31)和所述第二滑动部(32)之间,所述第一滑动部(31)的沿所述第一导轨(20)的延伸方向的长度大于所述支撑部(...

【技术特征摘要】
1.一种飞针测试机,包括:基座(10);两个第一导轨(20),间隔设置在所述基座(10)上;连接部(30),可滑动地连接在两个所述第一导轨(20)上;驱动机构,设置在所述基座(10)上并靠近一个所述第一导轨(20)设置,所述驱动机构驱动所述连接部(30)沿所述第一导轨(20)的延伸方向移动;其特征在于,所述连接部(30)包括:第一滑动部(31)和第二滑动部(32),分别与两个所述第一导轨(20)滑动配合,所述第一滑动部(31)靠近所述驱动机构设置;支撑部(33),连接在所述第一滑动部(31)和所述第二滑动部(32)之间,所述第一滑动部(31)的沿所述第一导轨(20)的延伸方向的长度大于所述支撑部(33)的沿所述第一导轨(20)的延伸方向的宽度,以增大所述连接部(30)在所述第一导轨(20)上的跨度。2.根据权利要求1所述的飞针测试机,其特征在于,所述第一滑动部(31)和所述支撑部(33)形成T字形结构。3.根据权利要求1所述的飞针测试机,其特征在于,所述第一滑动部(31)和所述支撑部(33)的夹角处设有加强稳定部(40)。4.根据权利要求3所述的飞针测试机,其特征在于,所述第一滑动部(31)、...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄韬
申请(专利权)人:南京泊纳莱电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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