场分析仪制造技术

技术编号:17362793 阅读:54 留言:0更新日期:2018-02-28 12:13
场分析仪。场分析仪产生调幅RF电场的调制包络的视觉显示,该场分析仪包括用于生成该场的序贯数字样本的场传感器、连接至该场传感器以生成网页的场处理器、以及用于取得和显示该网页的个人计算机。通过使用网页和在个人计算机上显示该网页,能够在个人计算机中执行诸如校正场传感器中检测器的非线性之类的任务,在个人计算机中这些任务能够更加高效地执行。序贯样本代表天线所接收的场的振幅,并保持在缓冲存储器中,比特对准校正电路响应于缓冲存储器,检测和校正缓冲存储器中数据比特的失准。

Field analyzer

Field analyzer. Modulation envelope field analyzer to generate modulated RF visual display of the electric field, the field for the sequential digital sample analyzer includes field generated field sensors, connected to the processor and field field sensor to generate web pages and for personal computer and display the page. By using webpage and displaying this webpage on personal computer, we can execute tasks such as nonlinearity of detector in calibration field sensor in personal computer, and these tasks can be executed more efficiently in personal computers. The sequential sample represents the amplitude of the field received by the antenna, and it is kept in the buffer memory. The bit alignment correction circuit responds to the buffer memory, and detects and corrections the data bits in the buffer memory.

【技术实现步骤摘要】
场分析仪本申请是申请日为2013年5月20日、申请号为“201380025847.9”、专利技术名称为“场分析仪”的专利技术专利申请的分案申请。专利
本专利技术涉及场分析仪,尤其涉及用于显示调幅RF电场的调制包络的装置。本专利技术可用在许多应用中,尤其是在电磁兼容(EMC)测试中,被执行用于确保诸如汽车之类的产品中的电气及电子系统的操作不会受到广播和电视传输、雷达脉冲、蜂窝电话信号、电力线场、以及其他类型的电磁场的不利影响。专利技术背景在EMC测试中,被测试设备经历一定范围的频率和功率水平上的电磁辐射扫描,并且进行观察以确定电磁辐射对该设备的操作的影响(若有)。为了生成场,RF信号通常由合成器生成,经放大,并馈送至被测设备附近的天线。合成器可产生经调制的信号。例如,调制包络可以使得场作为具有可调重复速率和可调工作周期的一系列脉冲来施加。尽管被测设备位置处的场强可基于合成器的设定以及放大器和天线的频率响应来预测,但是针对场中任意给定位置的预测并非总是可靠的。因此,常见的做法是在被测设备附近放置被称为“场探针”的设备来直接测量电场强度。在传统的场测量装备中,使用热电偶来确定场强。在调本文档来自技高网...
场分析仪

【技术保护点】
一种用于显示调幅RF电场的调制包络的设备,包括:场传感器,用于接收所述RF电场并且以代表所述电场的振幅的数字样本形式生成输出;连接至所述场传感器的场处理器,用于接收所述场传感器的所述输出并生成在个人计算机上显示的网页,所述网页包括示出了所述包络的振幅在时间段上的变化的绘图;以及连接至所述场处理器的个人计算机;其中:所述场传感器包括:天线、具有连接至所述天线的输入并提供输出的检测器、以及采样电路,响应于所述检测器并提供数字格式的序贯样本,所述序贯样本表示所述天线接收到的调幅RF电场的振幅;所述场处理包括:用于接收所述序贯样本的接收机、响应于所述接收器的微控制器,所述微控制器包括用于保持所述样本的...

【技术特征摘要】
2012.05.21 US 13/476,4091.一种用于显示调幅RF电场的调制包络的设备,包括:场传感器,用于接收所述RF电场并且以代表所述电场的振幅的数字样本形式生成输出;连接至所述场传感器的场处理器,用于接收所述场传感器的所述输出并生成在个人计算机上显示的网页,所述网页包括示出了所述包络的振幅在时间段上的变化的绘图;以及连接至所述场处理器的个人计算机;其中:所述场传感器包括:天线、具有连接至所述天线的输入并提供输出的检测器、以及采样电路,响应于所述检测器并提供数字格式的序贯样本,所述序贯样本表示所述天线接收到的调幅RF电场的振幅;所述场处理包括:用于接收所述序贯样本的接收机、响应于所述接收器的微控制器,所述微控制器包括用于保持所述样本的缓冲存储器、用于将数据分组从所述缓冲存储器上载至所述网页的触发响应装置、以及响应于所述缓冲存储器的用于检测和校正所述缓冲存储器中数据比特的失准的比特对准校正电路;以及所述个人计算机是配置为接收所述数据分组并将所述数据分组作为RF电场的调制包络的示波器显示来显示在网页上的个人计算机。2.如权利要求1所述的设备,其特征在于,每个所述序贯样本包括至少一个数据比特总是设置为零,以及其中所述比特对准校正电路通过检测所述至少一个数据比特来计算比特失准。3.如权利要求1所述的设备,其特征在于,每个所述序贯样本包括至少一个数据比特总是设置为零,以及其中所述比特对准校正电路通过检测所述至少一个数据比特来计算比特失准并且通过关闭用于控制数据传递的时钟达对应于所检测失准的数个比特对所述比特失准作校正。4.如权利要求1所述的设备,其特征在于,每个所述序贯样本包括前导和尾随数据比特,总是设置为零,以及其中所述比特对准校正电路通过检测所述前导和尾随数据比特来计算比特失准。5.如权利要求1所述的设备,其特征在于,每个所述序贯样本包括前导和尾随数据比特,总是设置为零,以及其中所述比特对准校正电路通过检测所述前导和尾随数据比特来计算比特失准并且通过关闭用于控制数据传递的时钟达对应于所检测失准的数个比特对所述比特失准作校正。6.如权利要求1所述的设备,其特征在于,每个所述序贯样本包括至少两个前导数据比特和至少两个尾随数据比特,所述前导和尾随数据比特总是设置为零,以及其中所述比特对准校正电路通过检测所述前导和尾随数据比特来计算比特失准。7.如权利要求1所述的设备,其特征在于,每个所述序贯样本包括至少两个前导数据比特和至少两个尾随数据比特,所述前导和尾随数据比特总是设置为零,以及其中所述比特对准校正电路通过检测所述前导和尾随数据比特来计算比特失准并且通过关闭用于控制数据传递的时钟达对应于所检测失准的数个比特对所述比特失准作校正。8.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述采样电路以数据比特流的形式提供所述样本,以及所述场处理器包括用于从所述数据比特流导出同步时钟信号的时钟恢复单元,以及所述比特对准校正电路响应于所述缓冲存储器以及响应于所述同步时钟信号,用于检测和校正所述缓冲存储器中数据比特的失准。9.一种用于显示调幅RF电场的调制包络的设备,包括:场传...

【专利技术属性】
技术研发人员:J·盖尔卢皮
申请(专利权)人:扩音器研究股份有限公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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