光栅波前倾斜色散补偿装置制造方法及图纸

一种光栅波前倾斜色散补偿装置，该装置包括第一闪耀光栅、Offner光学系统和第二闪耀光栅或直角反射镜。本发明专利技术补偿了光栅角度色散效应引起的时间展宽和空间展宽，确保光束到达工作面上光束的时空色散为零。与传统的基于光栅波前倾斜获得技术相比，从根本上消除了光栅角色散效应对波前倾斜技术应用效果的影响。

【技术实现步骤摘要】
光栅波前倾斜色散补偿装置
本专利技术涉及超短超强激光，特别是一种光栅波前倾斜色散补偿装置，针对脉冲宽度大于百飞秒的超短脉冲时间特性测量时，采用光栅单次自相关法测量脉冲。
技术介绍
超短超强激光
，激光脉冲宽度和脉冲信噪比是评价其输出性能的极为重要的参数。超短脉冲测量有直接测量和间接测量两种方式，直接测量方案采用快响应光电探测器+高速示波器的方法或者用条纹相机测量。间接测量方案有，扫描(或单次)二阶(或三阶)相关法，频率分辨光学开关法，自参考光谱位相相干电场重构法等。高能拍瓦(1015W)激光系统采用啁啾脉冲光参量放大(OPCPA)，采用固体激光玻璃片状放大器作为增益介质，由于热致波前畸变等因素，目前均采用单次工作模式。典型激光能量约数千焦耳，脉冲宽度约一皮秒，峰值功率数拍瓦。此类激光系统的脉冲测量只能采取单次测量方案。在采用单次自相关法测量激光脉冲时，如果直接让两束超短脉冲在晶体中产生自相关信号，由于光学元件口径、晶体尺寸和测量取样激光通量等诸多条件限制，只能实现最长数百飞秒的测量范围。采用光栅自相关方案，一束激光将获得波前倾斜，这样，在相同工作口径时，在晶体中可以获得更宽的自本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光栅波前倾斜色散补偿装置，其特征在于，该装置包括第一闪耀光栅(1)、Offner光学系统和第二闪耀光栅(4)，所述的Offner光学系统由凹面反射镜(2)和凸面反射镜(3)构成，第二闪耀光栅(4)的光栅常数与第一闪耀光栅(1)的光栅常数相等，所述的凹面反射镜(2)的曲率半径是所述的凸面反射镜(3)的曲率半径的2倍，且所述的凹面反射镜(2)和所述的凸面反射镜(3)曲率中心重合于一点(200)；入射光(110)经所述的第一闪耀光栅(1)衍射后，第一闪耀光栅(1)输出的第一衍射光(120)入射到所述的凹面反射镜(2)，经该凹面反射镜(2)第一次反射后入射到所述的凸面反射镜(3)，经该凸面反射镜(...

【技术特征摘要】
1.一种光栅波前倾斜色散补偿装置，其特征在于，该装置包括第一闪耀光栅(1)、Offner光学系统和第二闪耀光栅(4)，所述的Offner光学系统由凹面反射镜(2)和凸面反射镜(3)构成，第二闪耀光栅(4)的光栅常数与第一闪耀光栅(1)的光栅常数相等，所述的凹面反射镜(2)的曲率半径是所述的凸面反射镜(3)的曲率半径的2倍，且所述的凹面反射镜(2)和所述的凸面反射镜(3)曲率中心重合于一点(200)；入射光(110)经所述的第一闪耀光栅(1)衍射后，第一闪耀光栅(1)输出的第一衍射光(120)入射到所述的凹面反射镜(2)，经该凹面反射镜(2)第一次反射后入射到所述的凸面反射镜(3)，经该凸面反射镜(3)第二次反射后再次经所述的凹面反射镜(2)的第三次反射光(130)到达第一闪耀光栅(1)，所述的第三次反射光(130)经第一闪耀光栅(1)衍射后的形成第二衍射光(140)沿所述的入射光(110)相反的方向出射到所述的第二闪耀光栅(4)，经第二闪耀光栅(4)衍射后形成第三衍射光(150)，沿第三衍射光(150)方向是工作面(5)，该工作面(5)与所述第二闪耀光栅(4)的光栅面平行；所述的入射光(110)射入至第一闪耀光栅(1)的入射角(401)与第二衍射光(140)射入至第二闪耀光栅(4)的入射角(402)相等；所述的工作面(5)与第二闪耀光栅(4)的垂直距离是第一闪耀光栅(1)与所述凸面反射镜(3)曲率中心点(200)之间的垂直距离的两倍。2.一种光栅波前倾斜色散补偿装置，其特征在于，该装置包括第一闪耀光栅(1)...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐顺兴，朱宝强，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31