【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用光学测量装置时的照明控制
本专利技术涉及测量机,尤其是坐标测量机,其包括用于在图像记录时间段期间在图像捕捉区域中记录图像的至少一个光学传感器、提供表示图像记录时间段的控制信号的控制信号换能器、用于照明图像捕捉区域的测量照明布置,并且包括控制装置。另外,本专利技术涉及控制测量机的照明的方法,所述测量机包括用于在图像捕捉区域中记录图像的至少一个光学传感器。
技术介绍
坐标测量机在现有技术中是熟知的。它们用于检查工件,例如作为质量保证的一部分,或作为所谓的“反向工程”的一部分用于完全确定工件的几何结构。另外,可以设想多种其他应用可能性。在此类型的坐标测量机中,不同类型的传感器可以用来捕捉待测量的工件的坐标。作为示例,以触觉方式测量的传感器在此方面中是已知的,如例如申请人以产品标识“VAST”,“VASTXT”或“VASTXXT”所销售的。在此,用探针探查待测量的工件的表面,所述探针在测量空间中的坐标在全部时间已知。这样的探针还可以沿着工件的表面移动,使得在这样的测量过程期间,能够在所谓的“扫描方法”的范围内以设定的时间间隔捕捉大量的测量点。此外,使用促进工件的坐标的 ...
【技术保护点】
测量机(10),尤其是坐标测量机,包括用于在图像记录时间段(86)期间在图像捕捉区域(80)中记录图像的至少一个光学传感器(34,88)、提供表示所述图像记录时间段(86)的控制信号的控制信号换能器(89)、用于照明所述图像捕捉区域(80)的测量照明布置(96)、以及控制装置(19),其特征在于,所述控制装置(19)实施为以依赖于所述控制信号的方式在所述图像记录时间段(86)期间接通所述测量照明布置(96),并且其中所述控制装置(19)还实施为以依赖于所述控制信号的方式在所述图像记录时间段(86)之外暂时地接通至少一个其他照明布置(97,98,100,102)。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.05.27 DE 102015108389.21.测量机(10),尤其是坐标测量机,包括用于在图像记录时间段(86)期间在图像捕捉区域(80)中记录图像的至少一个光学传感器(34,88)、提供表示所述图像记录时间段(86)的控制信号的控制信号换能器(89)、用于照明所述图像捕捉区域(80)的测量照明布置(96)、以及控制装置(19),其特征在于,所述控制装置(19)实施为以依赖于所述控制信号的方式在所述图像记录时间段(86)期间接通所述测量照明布置(96),并且其中所述控制装置(19)还实施为以依赖于所述控制信号的方式在所述图像记录时间段(86)之外暂时地接通至少一个其他照明布置(97,98,100,102)。2.根据权利要求1所述的测量机,其特征在于,所述测量机(10)具有所述的其他照明布置(97,98,100)。3.根据权利要求2所述的测量机,其特征在于,所述其他照明布置(97,98,100)为用于标记所述图像捕捉区域(80)的标记照明装置。4.根据权利要求1-3中任一项所述的测量机,其特征在于,所述测量机(10)具有镜头(43),并且其中通过所述镜头(43)实行所述至少一个光学传感器(34)的图像记录,尤其是其中所述镜头(43)为变焦镜头(43)。5.根据权利要求1-4中任一项所述的测量机,其特征在于,提供恰好一个光学传感器,其中所述光学传感器(34)为相机。6.根据权利要求2-5中任一项所述的测量机,其特征在于,所述其他照明布置(97,98,100)为亮场反射光照明装置(97)。7.根据权利要求4和6所述的测量机,其特征在于,所述亮场反射光照明装置(97)的照明束路径延伸穿过整个所述镜头(43)。8.根据权利要求2-5中任一项所述的测量机,其特征在于,所述其他照明布置(97,98,100)为用于标记所述图像捕捉区域(80)的激光器(98,100)。9.根据权利要求4和8所述的测量机,其特征在于,将所述激光器(98,100)布置为使得所述激光器(100)的标记束路径(104)在所述镜头(43)之外延伸。10.根据权利要求4和8所述的测量机,其特征在于,所述激光器(98)的标记束路径(104’)通过光学耦合元件(64)耦合到所述镜头(43)中。11.包括根据权利要求1至10中任一项所述的测量机(10)的测量系统(100),其特征在于,所述测量系统(100)具有所述其他照明布置(102),其中所述其他照明布置(102)为用于照明所...
【专利技术属性】
技术研发人员:D塞茨,D霍彻尔,
申请(专利权)人:卡尔蔡司工业测量技术有限公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
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