一种跌落测试设备、方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种跌落测试设备、方法及其装置，该设备包括：跌落补偿模块以及跌落机构；所述跌落机构，用于在跌落测试过程中，带动测试产品向下自由跌落；所述跌落补偿模块，设置于所述跌落机构的上部，用于在所述跌落机构开始自由跌落时，向所述跌落机构施加向下的作用力，以对所述跌落机构进行加速度补偿。本发明专利技术实施例能够对跌落测试中的跌落机构施加向下的作用力，以实现对跌落机构进行加速度补偿，避免了测试产品在跌落测试过程中产生加速度的损耗，有效地提升了跌落测试的准确性。

A drop test equipment, method and device

The embodiment of the invention discloses a method and device of drop test equipment, and the equipment includes: drop compensation module and drop mechanism; the drop mechanism used in the drop test process, test drive down products free fall; the drop compensation module, the upper part is arranged in the drop mechanism, used in the the organization started a free fall drop, drop to the mechanism of applying downward force, acceleration compensation to the drop mechanism. The embodiment of the invention can apply downward force to drop mechanism in drop test, so as to realize acceleration compensation for drop mechanism, avoid acceleration loss in test product during drop test, and effectively improve the accuracy of drop test.

【技术实现步骤摘要】
一种跌落测试设备、方法及其装置
本专利技术实施例涉及跌落测试设备
，尤其涉及一种跌落测试设备、方法及其装置。
技术介绍
目前，在产品的生产过程中，需要对产品的各项性能进行测试，通过测试产品的各项性能是否达标来判定产品是否合格。产品的跌落测试是产品性能测试的重要内容之一。现有技术中，产品的跌落测试通过跌落测试机来实现，跌落测试机安装有滑轨以及跌落机构，将产品放置于跌落机构上，于测试标准高度通过释放机构释放跌落机构，使跌落机构沿着滑轨下落以完成产品的跌落测试。但是，在产品的跌落过程中，由于释放机构与跌落机构之间的摩擦力，跌落机构与滑轨之间的摩擦力，跌落机构相对于产品较大而受到过多的空气浮力以及控制线束的拉扯等因素，不可避免的出现产品跌落过程中加速度的损耗，不能真正地再现产品使用过程中遭遇的自由跌落的情境，严重影响了跌落测试的准确性。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种跌落测试设备、方法及其装置，以解决现有技术中产品跌落测试不准确的问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种跌落测试设备，包括：所述跌落机构，用于在跌落测试过程中，带动测试产品向下自由跌落；所述跌落补偿模块，设置于所述跌落机构的上部，用于在所述跌落机构开始自由跌落时，向所述跌落机构施加向下的作用力，以对所述跌落机构进行加速度补偿。进一步地，所述跌落补偿模块具体包括：第一磁性元件，所述跌落机构具体包括：第二磁性元件，所述第一磁性元件与所述第二磁性元件在空间中相对设置；所述第一磁性元件，用于在所述跌落机构开始自由跌落时，向所述跌落机构的所述第二磁性元件施加向下的磁场力。进一步地，所述第一磁性元件在未通电时，与所述第二磁性元件的磁性相反，且所述第一磁性元件与所述第二磁性元件之间的吸力大于所述跌落机构自身的重力；其中，当跌落测试开始之前，所述跌落补偿模块通过所述第一磁性元件吸附所述第二磁性元件；所述设备还包括：控制器，用于在跌落测试开始时，向所述第一磁性元件发送第一控制电流，以使所述第一磁性元件向所述第二磁性元件施加向下的磁场力，其中，所述第一控制电流具有设定电流初值。进一步地，所述跌落测试设备还包括：竖直滑轨；所述跌落补偿模块还包括：与所述竖直滑轨匹配的第一滑轨配套件及第二滑轨配套件；所述第一滑轨配套件，与所述竖直滑轨相连，用于带动所述跌落补偿模块在由所述竖直滑轨限定的竖直方向上进行移动；所述第二滑轨配套件，用于将所述跌落补偿模块紧固于所述竖直滑轨上；其中，当跌落测试开始时，所述跌落补偿模块通过所述第二滑轨配套件紧固于所述竖直滑轨之上；所述跌落机构还包括：与所述竖直滑轨匹配的第三滑轨配套件；所述第三滑轨配套件，与所述竖直滑轨相连，用于带动所述跌落机构在由所述竖直滑轨限定的竖直方向上进行移动，并停留在设定高度上。进一步地，所述设备还包括：速度检测传感器；所述速度检测传感器贴近所述跌落测试设备的跌落平面设置，并与所述控制器相连，用于采集所述跌落机构的第一跌落速度，并发送至所述控制器；所述控制器还用于：根据所述速度检测传感器采集的所述跌落机构的第一跌落速度，计算第一跌落能量损耗，并根据所述第一跌落能量损耗，修正所述第一控制电流的电流值。进一步地，所述设备还包括：竖直提升部件以及电机；所述电机，与所述控制器相连，用于根据所述控制器发送的控制信号，驱动所述竖直提升部件竖直向上移动；所述竖直提升部件，与所述跌落补偿模块和所述跌落机构接触设置，用于带动所述跌落补偿模块和所述跌落机构竖直向上移动。进一步地，所述控制器还用于：在开始跌落测试之前的跌落参数测量阶段，向所述第一磁性元件发送第二控制电流，以使所述第一磁性元件失去磁性，并释放吸附的所述跌落机构；根据所述速度检测传感器采集的所述跌落机构在所述跌落参数测量阶段的第二跌落速度，计算第二跌落能量损耗，并根据所述第二跌落能量损耗，计算所述设定电流初值。进一步地，所述第二跌落速度为由所述跌落机构在至少两次跌落中，所述速度检测传感器采集的至少两个跌落速度计算的得到的跌落平均值。进一步地，所述跌落机构还包括：固定单元；所述固定单元，用于在设定测试角度下固定所述测试产品，以实现对所述测试产品的定向跌落测试；其中，所述固定单元包括：夹式固定单元，和/或吸盘式固定单元。进一步地，所述设备还包括控制线，所述控制线将所述控制器分别与所述电机、所述跌落补偿模块及所述跌落机构相连，用于传输电流以及控制信号。进一步地，所述设备还包括支撑装置，所述支撑装置贴近所述跌落测试设备的跌落平面设置，用于支撑带动测试产品向下自由跌落的所述跌落机构。第二方面，本专利技术实施例提供了一种跌落测试方法，应用于如本专利技术实施例任一所述的跌落测试设备中，包括：接收用于指示跌落测试开始的跌落测试开始信号；根据所述跌落测试开始信号，向跌落补偿模块的第一磁性元件发送第一控制电流，以使所述第一磁性元件向所述跌落机构的第二磁性元件施加向下的磁场力；其中，所述跌落补偿模块在跌落测试开始之前，通过所述第一磁性元件吸附处于设定高度的所述第二磁性元件，并紧固于竖直滑轨上，所述第一控制电流具有设定电流初值。进一步地，接收用于指示跌落测试开始的跌落测试开始信号之前，包括：获取速度检测传感器检测的所述跌落机构在跌落参数测量阶段于预设高度下的第二跌落速度，其中，所述第二跌落速度为由所述跌落机构在预设次数的跌落中，所述速度检测传感器采集的根据所述预设次数的第二跌落速度计算的得到的跌落平均值；根据所述跌落机构在所述跌落参数测量阶段的第二跌落速度，计算第二跌落能量损耗，并根据所述第二跌落能量损耗，计算设定电流初值。进一步地，根据所述跌落机构在所述跌落参数测量阶段的第二跌落速度，计算第二跌落能量损耗，并根据所述第二跌落能量损耗，计算设定电流初值，包括：根据所述跌落机构在所述跌落参数测量阶段的第二跌落速度，计算第二跌落能量损耗，计算式为其中，m为测试产品的质量，g为重力加速度，h为设定高度，E为第二跌落能量损耗，v为第二跌落速度；根据所述第二跌落能量损耗计算待施加的磁场力，计算式为F＝E/L，其中，F为待施加的磁场力，E为第二跌落能量损耗，L为电磁力做功距离；根据所述待施加的磁场力计算设定电流初值，计算式为其中，F为待施加的磁场力，B为磁场强度，I为设定电流初值，N为线圈匝数，L为磁路长度，S为磁性元件的面积，μ为导磁率。进一步地，根据所述跌落测试开始信号，向跌落补偿模块的第一磁性元件发送第一控制电流，以使所述第一磁性元件向所述跌落机构的第二磁性元件施加向下的磁场力之后，包括：如果确定所述跌落测试的跌落次数大于预设值，则获取第一跌落速度，其中，所述第一跌落速度为由所述跌落测试中，所述速度检测传感器采集的根据所述跌落次数的第一跌落速度计算的得到的跌落平均值；获取跌落测试的位置信息，根据所述位置信息获取标准能量信息；根据所述标准能量信息及所述第一跌落速度，计算第一跌落能量损耗，并根据所述第一跌落能量损耗，修正第一控制电流的电流值。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种跌落测试装置，配置于控制器，包括：信号接收模块，用于接收指示跌落测试开始的跌落测试开始信号；电流传输模块，用于根据所述跌落测试开始信号，向跌落补偿模块的第一磁性元件发送第一控制电流，以使所述第一磁性元件向所述跌落机构的第二磁性元件施加向下的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种跌落测试设备，其特征在于，包括：跌落补偿模块以及跌落机构；所述跌落机构，用于在跌落测试过程中，带动测试产品向下自由跌落；所述跌落补偿模块，设置于所述跌落机构的上部，用于在所述跌落机构开始自由跌落时，向所述跌落机构施加向下的作用力，以对所述跌落机构进行加速度补偿。

【技术特征摘要】
1.一种跌落测试设备，其特征在于，包括：跌落补偿模块以及跌落机构；所述跌落机构，用于在跌落测试过程中，带动测试产品向下自由跌落；所述跌落补偿模块，设置于所述跌落机构的上部，用于在所述跌落机构开始自由跌落时，向所述跌落机构施加向下的作用力，以对所述跌落机构进行加速度补偿。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述跌落补偿模块具体包括：第一磁性元件，所述跌落机构具体包括：第二磁性元件，所述第一磁性元件与所述第二磁性元件在空间中相对设置；所述第一磁性元件，用于在所述跌落机构开始自由跌落时，向所述跌落机构的所述第二磁性元件施加向下的磁场力。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述第一磁性元件在未通电时，与所述第二磁性元件的磁性相反，且所述第一磁性元件与所述第二磁性元件之间的吸力大于所述跌落机构自身的重力；其中，当跌落测试开始之前，所述跌落补偿模块通过所述第一磁性元件吸附所述第二磁性元件；所述设备还包括：控制器，用于在跌落测试开始时，向所述第一磁性元件发送第一控制电流，以使所述第一磁性元件向所述第二磁性元件施加向下的磁场力，其中，所述第一控制电流具有设定电流初值。4.根据权利要求2或3所述的跌落测试设备，其特征在于，所述跌落测试设备还包括：竖直滑轨；所述跌落补偿模块还包括：与所述竖直滑轨匹配的第一滑轨配套件及第二滑轨配套件；所述第一滑轨配套件，与所述竖直滑轨相连，用于带动所述跌落补偿模块在由所述竖直滑轨限定的竖直方向上进行移动；所述第二滑轨配套件，用于将所述跌落补偿模块紧固于所述竖直滑轨上；其中，当跌落测试开始时，所述跌落补偿模块通过所述第二滑轨配套件紧固于所述竖直滑轨之上；所述跌落机构还包括：与所述竖直滑轨匹配的第三滑轨配套件；所述第三滑轨配套件，与所述竖直滑轨相连，用于带动所述跌落机构在由所述竖直滑轨限定的竖直方向上进行移动，并停留在设定高度上。5.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：速度检测传感器；所述速度检测传感器贴近所述跌落测试设备的跌落平面设置，并与所述控制器相连，用于采集所述跌落机构的第一跌落速度，并发送至所述控制器；所述控制器还用于：根据所述速度检测传感器采集的所述跌落机构的第一跌落速度，计算第一跌落能量损耗，并根据所述第一跌落能量损耗，修正所述第一控制电流的电流值。6.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：竖直提升部件以及电机；所述电机，与所述控制器相连，用于根据所述控制器发送的控制信号，驱动所述竖直提升部件竖直向上移动；所述竖直提升部件，与所述跌落补偿模块和所述跌落机构接触设置，用于带动所述跌落补偿模块和所述跌落机构竖直向上移动。7.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述控制器还用于：在开始跌落测试之前的跌落参数测量阶段，向所述第一磁性元件发送第二控制电流，以使所述第一磁性元件失去磁性，并释放吸附的所述跌落机构；根据所述速度检测传感器采集的所述跌落机构在所述跌落参数测量阶段的第二跌落速度，计算第二跌落能量损耗，并根据所述第二跌落能量损耗，计算所述设定电流初值。8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述第二跌落速度为由所述跌落机构在至少两次跌落中，所述速度检测传感器采集的至少两个跌落速度计算的得到的跌落平均值。9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述跌落机构还包括：固定单元；所述固定单元，用于在设定测试角度下固定所述测试产品，以实现对所述测试产品的定向跌落测试；其...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈勇，
申请(专利权)人：广东小天才科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44