一种非接触式光学测温装置制造方法及图纸

技术编号:17246126 阅读:28 留言:0更新日期:2018-02-11 03:44
本实用新型专利技术公开了一种非接触式光学测温装置,包括:第一底座;第二底座,其与所述第一底座平行设置;第一测温板,其包括多个减重方孔,第一测温板通过锁止装置设置在第一底座上方;第二测温板,其包括多个减震方孔并与第一测温板相对设置,第二测温板通过锁止装置设置在第二底座上方;其中,所述底座,包括:底板,底板的中部设置有突出的凸板,凸板的横截面呈梯形,所述凸板的横截面的宽度自所述底板的顶面向上逐渐减小,底板的底面上设置有两个平行的滑槽,采用相对设置的测温板,能容纳运动的物体通过,易于测量,实用性强。

A non contact optical temperature measuring device

The utility model discloses a non-contact optical measuring device comprises a first base; the second base is arranged in parallel with the first base; the first measuring plate, which comprises a plurality of weight loss hole, the first temperature plate through a locking device is arranged on the first base; second temperature measurement board, which comprises a plurality of damping square hole and the first plate relative temperature settings, second temperature measurement board through the locking device is arranged on the second base; wherein, the base comprises a bottom plate, is arranged in the middle part of the convex plate prominent, convex plate is a trapezoidal cross section, the cross section of the convex plate width from the the bottom of the top surface decreases, the bottom surface of the base plate is provided with two parallel chute, the temperature measurement board arranged relatively, can accommodate objects moving through, easy measurement, strong practicability.

【技术实现步骤摘要】
一种非接触式光学测温装置
本技术涉及光学测温领域,尤其涉及一种非接触是光学测温装置
技术介绍
任何物体处于绝对零度以上时,都会以一定波长电磁波的形式向外辐射能量,辐射式测温仪表就是利用物体的辐射能量随其温度而变化的原理制成的,测量时,只需把温度计光学接收系统对准被测物体,而不必与物体接触,因此可以测量运动物体的温度并不会破坏物体的温度场,此外,由于感温元件只接收辐射能,不必达到被测物体的实际温度,从理论上讲,它没有上限,可以测量高温,但非接触测温装置的温度标定和测温准确性的提高一直是个难题。
技术实现思路
本技术设计开发了一种非接触式光学测温装置,采用相对设置的测温板,能容纳运动的物体通过,易于测量,实用性强。本技术提供的技术方案为:一种非接触式光学测温装置,包括:第一底座;第二底座,其与所述第一底座平行设置;第一测温板,其包括多个减重方孔,所述第一测温板通过锁止装置设置在所述第一底座上方;第二测温板,其包括多个减重方孔并与所述第一测温板相对设置,所述第二测温板通过锁止装置设置在所述第二底座上方;其中,所述底座,包括:底板,所述底板的中部设置有突出的凸板,所述凸板的横截面呈梯形,所述凸板的横截面的宽度自所述底板的顶面向上逐渐减小,所述底板的底面上设置有两个平行的滑槽。优选的是,所述滑槽为方形开口槽,所述滑槽沿所述底板的长度方向延伸。优选的是,所述凸板的延伸方向与所述底板的长度方向一致。优选的是,还包括:多个光学探测装置,其等间距设置在所述测温板上,包括光学系统和探测器,当被测物体辐射的红外能量通过大气媒介传输到阵列式光学探测装置时,光学系统将目标辐射的能量汇聚到探测器。优选的是,所述探测器其光电倍增管探测器或多晶硅材料近红外探测器。优选的是,还包括:高度测量装置,其通过弯梁设置在所述第一测温板上方,用于检测被测物体高度。优选的是,所述底板上设置有多个安装孔,所述多个安装孔分别位于所述凸板的两侧。优选的是,所述第一测温板和所述第二测温板底部设置有安装槽,所述安装槽横截面为梯形,所述安装槽与所述凸板配合;所述锁止装置,包括:锁止螺栓,其穿过设置在所述测温板底部的通孔连接设置在所述底座凸板上的螺纹孔。优选的是,所述凸板侧面具有滑槽,所述第一测温板和第二测温板底部设置有安装槽,所述安装槽内侧具有凸楞,所述凸楞能够沿所述滑槽滑动。优选的是,所述滑槽内设置有多个安装孔,所述安装孔深度方向与所述凸楞长度方向垂直;弹珠,其为半球形,通过弹簧设置在所述安装孔内,所述弹珠能够凸出所述安装孔;所述凸楞具有多个小孔,所述小孔能够容纳所述弹珠。本技术所述的有益效果本技术设计开发了一种非接触式光学测温装置,采用相对设置的测温板,能容纳运动的物体通过,易于测量和实用。附图说明图1为本技术所述的非接触式光学测温温装置的结构示意图。图2为本技术所述的非接触式光学测温装置的原理框图。图3为本技术所述的底座的结构示意图。图4为本技术所述的底座另一实施例的结构示意图。图5为本技术所述的底座另一实施例的截面图。图6为本技术所述的测温板和底座的安装示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术做进一步的详细说明,以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。如图1-2所示,本技术提供的非接触式光学测温装置,包括:第一测温板100、第二测温板200、光学探测装置300和环境温湿度测温模块400;其中,第一测温板100和第二测温板200相对设置,多个光学探测装置300等间距设置在测温板上,光学探测装置300包括光学系统310和探测器320,当被测物体辐射的红外能量通过大气媒介传输到光学探测装置300时,光学系统310将目标辐射的能量汇聚到探测器320上;环境温湿度测温模块400设置在第一测温板100上;数据处理装置500连接光学探测装置300和环境测温模块400;用于记录探测装置和温湿度传感器传递的电信号,同时根据传递的电信号计算被测物体的真实温度,作为一种优选,探测器320采用光电倍增管探测器或多晶硅材料近红外探测器。在另一实施例中,非接触式光学测温装置,还包括高度测量装置600,其通过弯梁610设置在第一测温板100上方,用于检测被测物体高度,弯梁610为直角形,一端固定设置在第一测温板100上方,另一端连接高度测量装置600。在另一实施例中,还包括:显示器,其设置在第二测温板200外侧;供电模块,其设置在第二测温板200内,连接光学探测装置300、环境温湿度测温模块400和数据处理装置500,作为一种优选,显示器采用液晶显示器,显示所述数据处理装置计算出的温度。在另一实施例中,第一底座710;第二底座720,其与第一底座710平行设置;优选的是,第一测温板100,其包括多个减重方孔,第一测温板通过锁止装置设置在第一底座710上方;第二测温板200,其包括多个减震方孔并与第一测温板100相对设置,第二测温板200通过锁止装置设置在第二底座720上方;如图3所示,第一底座710和第二底座720,包括:底板711,底板711的中部设置有突出的凸板712,凸板712的横截面呈梯形,凸板712的横截面的宽度自底板711的顶面向上逐渐减小,底板711的底面上设置有两个平行的滑槽713,作为一种优选滑槽713为方形开口槽,滑槽沿底板711的长度方向延伸。凸板712的延伸方向与所述底板的长度方向一致,底板711上设置有多个安装孔714,多个安装孔分别位于凸板712的两侧。如图6所示,锁止装置包括:锁止螺栓,其穿过位于测温板底部的通孔110连接设置在底座凸板712上的螺纹孔715。第一测温板和所述第二测温板设置有安装槽120,安装槽120横截面为梯形,安装槽120与凸板712配合;如图4-5所示,在另一实施例中凸板712侧面具有滑槽716,第一测温板和第二测温板底部设置有安装槽,安装槽内侧具有凸楞,凸楞能够沿所述滑槽滑动。所述滑槽内设置有多个安装孔719,安装孔719深度方向与凸楞长度方向垂直;弹珠717为半球形通过弹簧718设置在安装孔729内,弹珠717能够凸出安装孔729;凸楞具有多个小孔,小孔能够容纳所述弹珠。本技术设计开发了一种非接触式光学测温装置,采用相对设置的测温板,能容纳运动的物体通过,易于测量和实用。尽管本技术的实施方案已公开如上,但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用,它完全可以被适用于各种适合本技术的领域,对于熟悉本领域的人员而言,可容易地实现另外的修改,因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下,本技术并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。本文档来自技高网...
一种非接触式光学测温装置

【技术保护点】
一种非接触式光学测温装置,其特征在于,包括:第一底座;第二底座,其与所述第一底座平行设置;第一测温板,其包括多个减重方孔,所述第一测温板通过锁止装置设置在所述第一底座上方;第二测温板,其包括多个减重方孔并与所述第一测温板相对设置,所述第二测温板通过锁止装置设置在所述第二底座上方;其中,所述底座,包括:底板,所述底板的中部设置有突出的凸板,所述凸板的横截面呈梯形,所述凸板的横截面的宽度自所述底板的顶面向上逐渐减小,所述底板的底面上设置有两个平行的滑槽。

【技术特征摘要】
1.一种非接触式光学测温装置,其特征在于,包括:第一底座;第二底座,其与所述第一底座平行设置;第一测温板,其包括多个减重方孔,所述第一测温板通过锁止装置设置在所述第一底座上方;第二测温板,其包括多个减重方孔并与所述第一测温板相对设置,所述第二测温板通过锁止装置设置在所述第二底座上方;其中,所述底座,包括:底板,所述底板的中部设置有突出的凸板,所述凸板的横截面呈梯形,所述凸板的横截面的宽度自所述底板的顶面向上逐渐减小,所述底板的底面上设置有两个平行的滑槽。2.根据权利要求1所述的非接触式光学测温装置,其特征在于,所述滑槽为方形开口槽,所述滑槽沿所述底板的长度方向延伸。3.根据权利要求2所述的非接触式光学测温装置,其特征在于,所述凸板的延伸方向与所述底板的长度方向一致。4.根据权利要求1所述的非接触式光学测温装置,其特征在于,还包括:多个光学探测装置,其等间距设置在所述测温板上,包括光学系统和探测器,当被测物体辐射的红外能量通过大气媒介传输到阵列式光学探测装置时,光学系统将目标辐射的能量汇聚到探测器。5.根据权利要求4所述的非接触式光学测温装置,其特征在于,所述探测器其光电倍增管探...

【专利技术属性】
技术研发人员:唐欢张立振李居尚韦毅杨张帆战荫泽张立东王静
申请(专利权)人:长春理工大学光电信息学院
类型:新型
国别省市:吉林,22

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