闪存纠错方法以及纠错装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种闪存纠错方法，该方法包括以下步骤：在采用BCH循环纠错编解码进行纠错时，判断闪存的错误比特数是否大于或者等于预设阈值；若所述闪存的错误比特数大于或者等于所述预设阈值，则将所述闪存的纠错方式由所述BCH切换为LDPC低密度奇偶校验码。本发明专利技术还公开了一种闪存纠错装置。本发明专利技术在平均错误率较低的闪存前期启用BCH进行纠错，在平均错误率达到预设阈值的闪存中后期启用LDPC进行纠错，这样，实现了闪存在生命周期的不同时间段均有优越的纠错性能。

【技术实现步骤摘要】
闪存纠错方法以及纠错装置
本专利技术涉及固态盘存储
，尤其涉及一种闪存纠错方法以及闪存纠错装置。
技术介绍
闪存是一种非易失性存储器，即使移除供应电源之后仍能保存数据，具有体积小、功耗低、不易受物理破坏的优点，是现有便携式存储设备的理想存储介质。由于闪存在保存数据的时候存在随机数据错误，为了保证数据可靠性，一般来说闪存控制芯片需要具备较强纠错能力的装置。目前应用在闪存上的纠错码主要有两种：BCH循环纠错编解码和LDPC低密度奇偶校验码。BCH码纠错速度快，但是BCH码提升纠错能力的同时会导致更多的信息冗余位和更高的BCH译码器复杂度；LDPC码不仅具有优越的纠错性能，而且具有合理的硬件实现复杂度，但是，LDPC码纠错速度慢，且目前闪存当中生成软信息的难度大且代价高。在闪存使用初期，由于闪存介质寿命良好，出现错误的概率较小；而当闪存使用一段时间后，闪存介质由于编程-删除次数增加，出现错误的概率逐渐增加。因此在闪存生命周期内，不同时间对纠错能力要求不一样。而现有技术在闪存的整个生命周期中，只利用一种纠错编解码，但是BCH码在纠错要求高的运行环境中会出现合格率低的问题，LDPC码在高本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种闪存纠错方法，其特征在于，所述闪存纠错方法包括以下步骤：在采用BCH循环纠错编解码进行纠错时，判断闪存的错误比特数是否大于或者等于预设阈值；若所述闪存的错误比特数大于或者等于所述预设阈值，则将所述闪存的纠错方式由所述BCH切换为LDPC低密度奇偶校验码。

【技术特征摘要】
1.一种闪存纠错方法，其特征在于，所述闪存纠错方法包括以下步骤：在采用BCH循环纠错编解码进行纠错时，判断闪存的错误比特数是否大于或者等于预设阈值；若所述闪存的错误比特数大于或者等于所述预设阈值，则将所述闪存的纠错方式由所述BCH切换为LDPC低密度奇偶校验码。2.如权利要求1所述的闪存纠错方法，其特征在于，所述将所述闪存的纠错方式由所述BCH切换为LDPC低密度奇偶校验码的步骤包括：依次将所述闪存的各个存储区域的纠错方式由所述BCH切换为所述LDPC。3.如权利要求1所述的闪存纠错方法，其特征在于，所述闪存纠错方法还包括：在所述BCH切换为所述LDPC的过程中，若检测到读操作，则停止进行所述BCH至所述LDPC的切换。4.如权利要求1所述的闪存纠错方法，其特征在于，所述闪存纠错方法还包括：在所述BCH切换为所述LDPC的过程中，若检测到写操作，将所述闪存...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄亦轩，
申请(专利权)人：深圳市致存微电子企业有限合伙，
类型：发明
国别省市：广东,44