一种X光线调整装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种X光线调整装置，包括：凹型支撑、底座支撑，所述凹型支撑正视方向图形为U型结构，所述U型结构底面轮廓为柱面，所述柱面上有定位结构，所述底座支撑与所述U型结构的两侧通过联结件联结；准直片、用于形成所述准直片间距的隔片，所述准直片与所述隔片间隔且平行放置，所述隔片放在两片所述准直片之间且位于所述准直片的两侧；且所述准直片和所述隔片安装在沿所述凹型支撑纵向的内部；所述凹型支撑纵向的两侧安装有限制所述准直片和所述隔片的限位部件，两侧的所述限位部件固定在所述X光线调整装置内且距离大于所述准直片和所述隔片的长度；本发明专利技术使发散射线变成平行准直光束的同时具有光束传输效率高、稳定性强、结构简单等特点。

A X light adjustment device

【技术实现步骤摘要】
一种X光线调整装置
本专利技术属于顺序式波长色散X荧光光谱仪领域，尤其涉及一种采用多个X光线调整装置的顺序式波长色散X荧光光谱仪的X光线调整装置。
技术介绍
顺序式波长色散X荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。顺序式波长色散X荧光光谱仪按应用范围分为同位素顺序式波长色散X荧光光谱仪、无机顺序式波长色散X荧光光谱仪和有机顺序式波长色散X荧光光谱仪；按分辨本领分为高分辨、中分辨和低分辨顺序式波长色散X荧光光谱仪；按工作原理分为静态仪器和动态仪器；原有的顺序式波长色散X荧光光谱仪都是使用单个准直器进行物质分析，在进行不同物质分析的过程中，需要多次调整和替换，甚至可能需要换不同型号的准直器，为了操作便捷，产生了使用多个准直器的顺序式波长色散X荧光光谱仪，但在使用过程中，发现采用市场上现有的准直器制造的多个准直器的顺序式波长色散X荧光光谱仪光束传输过程中会出现本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X光线调整装置，其特征在于,包括：凹型支撑、底座支撑，所述凹型支撑正视方向图形为U型结构，所述U型结构底面轮廓为柱面，所述柱面上有定位结构，所述底座支撑与所述U型结构的两侧通过联结件联结；准直片、用于形成所述准直片间距的隔片，所述准直片与所述隔片间隔且平行放置，所述隔片放在两片所述准直片之间且位于所述准直片的两侧；且所述准直片和所述隔片安装在沿所述凹型支撑纵向的内部；所述凹型支撑纵向的两侧安装有限制所述准直片和所述隔片的限位部件，两侧的所述限位部件固定在所述X光线调整装置内且距离大于所述准直片和所述隔片的长度。

【技术特征摘要】
1.一种X光线调整装置，其特征在于,包括：凹型支撑、底座支撑，所述凹型支撑正视方向图形为U型结构，所述U型结构底面轮廓为柱面，所述柱面上有定位结构，所述底座支撑与所述U型结构的两侧通过联结件联结；准直片、用于形成所述准直片间距的隔片，所述准直片与所述隔片间隔且平行放置，所述隔片放在两片所述准直片之间且位于所述准直片的两侧；且所述准直片和所述隔片安装在沿所述凹型支撑纵向的内部；所述凹型支撑纵向的两侧安装有限制所述准直片和所述隔片的限位部件，两侧的所述限位部件固定在所述X光线调整装置内且距离大于所述准直片和所述隔片的长度。2.根据权利要求1所述的X光线调整装置，其特征在于，所述定位结构为定位槽，所述定位槽为沿所述凹型支撑纵向方向贯通所述柱面或一段开放另一端封闭在所述柱面内部。3.根据权利要求1所述的X光线调整装置，其特征在于，所述定位结构为定位孔或定位销。4.根据权利要求1所述的X...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘召贵，吴娜，黄冲，
申请(专利权)人：江苏天瑞仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32